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PR破断試験片・引張試験片・衝撃試験片・発光分光試験片やテストピースなど …
試験片用溶解炉はインダクション(高周波誘導加熱)で金属を溶解後 カーボン型や銅鋳型、鉄鋳型に注ぎ入れて形にします。 型を変更するだけで、さまざまな形状の試験片を製作することが可能です。 また切削加工で出るダライ粉からの製作も可能です。 鉄系・非鉄系合金など、高周波誘導加熱又はアークで溶解可能な金属は全て対象です。 その他金属の特性に合わせてオプション機構も取り付けられます。 ■...
メーカー・取り扱い企業: 吉田キャスト工業株式会社
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PR画像を分光スペクトル解析。 高解像度(500万画素)で高輝度分光測定…
SR-5100は、従来の点測定の分光放射計と同等の性能を有した2D分光放射計です。 機器の校正には光のトレーサビリティのとれた光源を使用し、高精度な輝度・色度の精度保証を実現しました。 非破壊・非接触で光源の波長特性や材料の分光透過率特性、物体の分光反射率特性など光源や物体の特性を500万で170億cd/m2を1nm毎に分光特性評価をおこなうことができ、多岐にわたる製品の品質を高く維持すること...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社トプコンテクノハウス
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薄膜光学特性を非破壊で測定! 手軽に高精度測定できる分光エリプソメト…
日本セミラボの分光エリプソメーター『GES5E』は、従来の光学測定器では不可能だった薄膜光学特性の測定を非破壊で実現しました。 薄膜、多層膜の膜厚、各層の屈折率(N,K値)波長分散を算出。研究開発からインライン生産品質管理ほかあらゆる分野で活躍しています。 【測定可能な物理特性】 ■厚さ光学屈折率 ■屈折率の勾配と材料組成 ■ドーパント濃度...【豊富な製品バリエーション】 ○...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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回転補償子型 分光エリプソメータ『SE-2000』※セミナー開催
多層膜の膜厚・屈折率を非接触で高精度測定。本体の操作や解析作業が容易 …
『SE-2000』は、薄膜の膜厚・屈折率を“非接触”で高精度に測定できる回転補償子型の分光エリプソメータです。 ユーザーフレンドリーな解析ソフトを備えており、解析作業が容易。 深紫外から近赤外領域まで幅色い波長領域の測定に対応しています。 材料の組成比、異方性、Mueller Matrix、偏光解消度、反射率・透過率、ドーパント濃度、 リタデーション(R0、Rth)などに関する検査にも...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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