非接触式超低抵抗レンジシート測定システム『PVE-80』

PCによる簡単な測定操作、データ保存・管理！測定表示単位の変更が可能な…

の取外し可能ステージを搭載。 PC(専用ソフトウェア)による簡単な測定操作、データ保存・管理を 実現します。 また、お客様の要望に応じ、様々にカスタマイズ可能です。 【特長】 ■千葉大学との共同開発による測定法(パルス電圧励磁法)を使用 ■サンプルにダメージを与えず測定が可能 ■省スペース設計の本体筐体、ポータブル対応の取外し可能ステージを搭載 ■ご用途により、測定表示単位...

メーカー・取り扱い企業： ナプソン株式会社

光干渉(WLI)センサー【活用事例集アリ】

光が通れば何でも断面計測！薄膜から厚板まで！

※ WLI：White Light Interferometer ［低コヒーレント光干渉による断層画像化法］ 千葉大学 椎名研究室との共同開発 【透光性層構造の計測】 ■計測深度：最大14mm ■分解能：深さ方向15μm ■サンプリング周波数：15Hz ■使用波長：1310nm(標準)850nm ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社精光技研