• 電磁弁部品Assyサンプル 製品画像

    電磁弁部品Assyサンプル

    PR高周波によるロウ付け加工とTIG溶接、仕上加工まで一貫生産しております…

    部品単品の切削加工のみならず、高周波によるロウ付け加工とTIG溶接、仕上加工まで一貫して製作対応が可能です。部品の嵌合、TIG溶接による熱ひずみ、高い寸法精度(同軸度や直角度)を管理し、最適条件をご提案させて頂きます。...●油圧電磁弁関係 ●空圧電磁弁関係 ●ガス電磁弁関係 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ミヤギ

  • 直動システム|ラック&ピニオン直動システム 製品画像

    直動システム|ラック&ピニオン直動システム

    PRボールねじ搬送のたわみ・速度制限・大口径化・モータ大型化の悩みを解決!…

    当社のラックアンドピニオン直動システムは、“高精度・高速・高搬送力・高耐久・長尺”を兼ね備えます。搬送重量がトンクラスでも高速・高精度に搬送可能。ラックはマシンベッドに直接設置の為、ボールねじで発生する”たわみ”の心配は不要です。 バックラッシ最小1arcminの遊星歯車減速機と、累積ピッチ誤差最小30μm/1000mmのラックにより、非常に高精度な位置決めが可能。ラックは最長2mですが、並...

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    メーカー・取り扱い企業: ストーバー・ジャパン株式会社

  • 組込用高出力LDピグテール 製品画像

    組込用高出力LDピグテール

    数10mW以上の高出力を達成した高信頼性LDピグテール。組込しやすい小…

    CANパッケージLDとファイバをモジュール化した、機器組込に最適な小型同軸型LDピグテールです。高出力LDを高効率にモジュール化することにより、ファイバ出力端で数10mW以上のパワーを達成しています。 LD機種により375nm~1060nmで波長選択できます。ファイバ機種...

    メーカー・取り扱い企業: 澤木工房株式会社

  • 低負荷精密試料作製システム『IS-POLISHER』 製品画像

    低負荷精密試料作製システム『IS-POLISHER』

    研磨しながら顕微鏡での確認作業がこれ1台で簡単に!低価格な低負荷精密試…

    用。研磨対象物(ワーク)のセットが容易に行えます。 ワークをクランプする先端部(ワークアタッチメント)が交換式になっていますので、さまざまな形状・大きさのワークに対応可能です。 ◆LED光源同軸落射照明内蔵 搭載されている倒立顕微鏡は同軸落射照明内蔵で快適な観察視野が得られます。 光源は白色LEDを採用。照度調整とハーフミラー角度調整機構で研磨面の観察に威力を発揮します。 ※詳細...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社池上精機

  • スペクトラムアナライザ周波数拡張モジュール 82407シリーズ 製品画像

    スペクトラムアナライザ周波数拡張モジュール 82407シリーズ

    主にスペクトル分析のミリ波周波数拡張用に設計。 このシリーズは、ミリ波…

    リ波信号受信機のフロントエンドとして使用できます。 82407シリーズは、入力インターフェースとしてその周波数範囲に対応する標準の導波管インターフェースを採用しています。 LO入力は2.4mmメス同軸コネクタを採用し、IF出力は3.5mmメス同軸コネクタを採用しています。...

    メーカー・取り扱い企業: ウェーブクレスト株式会社

  • シエンタオミクロン エネルギー分析器・光電子顕微鏡 製品画像

    シエンタオミクロン エネルギー分析器・光電子顕微鏡

    様々なタイプのエネルギー分析器及び光電子顕微鏡をご用意しております

    静電半球型エネルギー分析器、高電圧静電型エネルギー分析器、スピン電子検出器、同軸型エネルギー分析器、角度分解エネルギー分析器、光電子顕微鏡、光電子顕微鏡用オプションなどをラインナップ。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...

    メーカー・取り扱い企業: シエンタ オミクロン株式会社

  • 蛍光X線測定装置『X-RAY XULM』 製品画像

    蛍光X線測定装置『X-RAY XULM』

    コンパクトで測定サンプルセッティングが簡単な蛍光X線測定装置

    自動切替 ■1次フィルター:3種類、自動切替 ■X線源:マイクロフォーカスチューブ、Wターゲット、Be窓 ■X線検出器:比例計数管(PC) ■測定距離:0~25mm ■カメラ:X線ビームと同軸カメラ、較正済みスケール付 ■XYステージ台:手動XYステージ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

  • ケーブルの診断・検査、測長テスター測定器Fault Chaser 製品画像

    ケーブルの診断・検査、測長テスター測定器Fault Chaser

    【米国製】設定簡単!各種規格のケーブルの診断・測長を一台で行えます。-…

    ●コア技術:SSTDR 多国特許取得 ●測定最大距離:周波数減衰が少ないケーブルでは、最大3000フィート(915メートル)までです。 [同軸ケーブル] 0~2,000フィート [信号ケーブル] 0~1,500フィート [一般ケーブル] 0~1,000フィート ●VOP測定範囲:20.0~99.9% ●VOP測定精度:誤差±1% ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ライブワイヤーLivewire Asia Pacific アジア太平洋地区総代理

  • シグナル スペクトラムアナライザ  3Hz~最大67GHz 製品画像

    シグナル スペクトラムアナライザ  3Hz~最大67GHz

    ダイナミックレンジ、位相ノイズ、振幅精度、および測定速度において優れた…

    【機能と特徴】 ●最大67GHzの同軸周波数範囲 ●最大。 550MHzの分析帯域幅 ●優れた測定および受信性能 ●包括的なスペクトル分析機能 ●豊富な測定アプリケーション機能 ●強力なRF信号ストリーミングおよび再生分析機能...

    メーカー・取り扱い企業: ウェーブクレスト株式会社

  • EA-300シリーズ レーザ元素分析ヘッド 製品画像

    EA-300シリーズ レーザ元素分析ヘッド

    大気中で、誰でもすぐに元素分析!拡大観察から元素分析までシームレスに完…

    イクロスコープで観察しながら、気になる箇所を そのまま元素分析できるレーザ元素分析ヘッドです。 レーザ誘起ブレークダウン分光法を採用し、安全性が高いレーザを使用。 マイクロスコープ観察系を同軸に入れることで、狙った場所の元素を 検出できます。 また、数千種類の元素パターンを内部データベースに保有しているため、 検出した元素だけでなく、その物質名まで瞬時に示唆します。 【特...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社キーエンス

  • プローブに原子を採用した表面分析装置(CAICISSの発展版) 製品画像

    プローブに原子を採用した表面分析装置(CAICISSの発展版)

    結晶方位・極製は15分で一目瞭然!帯電の影響がなく安定した表面分析が可…

    『TOFLAS-3000』は、金属、半導体、絶縁体などの固体表面の結晶構造および 元素分析を同時に行うことができる原子散乱表面分析装置です。 本装置は同軸型直衝突イオン散乱分光法(CAICISS)を発展させ、電気的に中性なHe(Ne、Ar)等の原子ビームを探査プローブとして用いている為、絶縁体でも帯電の影響がなく安定した表面分析が可能です。 結...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

  • ハーメチックフィードスルー 製品画像

    ハーメチックフィードスルー

    ハーメチックフィードスルー

    真空チャンバーの隔壁に使用するハーメチックフィードスルーです。 【特長】  ◇多極に対応するD-SUB型 <DC>シリーズ  ◇多極に対応するMS丸型 <MC>シリーズ  ◇単極(同軸)にはBNC型、高圧タイプのSHV型、コンパクトな   LEMO型 <CC>シリーズ ⇒詳細はダウンロードからお問い合せください。 ⇒フィードスルー、カスタマイズに関するご相談、見積などは...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社メガトラスト MEGA-TECH Formations 豊玉事業所

  • 近赤外・中赤外測定用 PbS/PbSe素子 製品画像

    近赤外・中赤外測定用 PbS/PbSe素子

    近赤外・中赤外測定用 PbS/PbSe素子

    【特長】 μsecレベルの高速応答 10^-9V/Wの高感度 世界シェア90%、販売実績20年以上の信頼性 複数種のガス検知に最適の4chタイプ(PbS、PbSe)発売開始 同軸2素子・4素子タイプもあり...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイ・アール・システム

  • 飛行時間型原子散乱表面分析装置『TOFLAS-3000』 製品画像

    飛行時間型原子散乱表面分析装置『TOFLAS-3000』

    結晶方位・極製は15分で一目瞭然!帯電の影響がなく安定した表面分析が可…

    『TOFLAS-3000』は、金属、半導体、絶縁体などの固体表面の結晶構造および 元素分析を同時に行うことができる原子散乱表面分析装置です。 本装置は同軸型直衝突イオン散乱分光法(CAICISS)を発展させ、電気的に中性なHe(Ne、Ar)等の原子ビームを探査プローブとして用いている為、絶縁体でも帯電の影響がなく安定した表面分析が可能です。 結...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

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