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垂直走査低コヒーレンス干渉法により、高精度なオンマシン計測・インライン…
『smartWLIシリーズ』は、GBS社が製品化した垂直走査低コヒーレンス 干渉法(CSI)を用いた三次元表面プロファイラー(白色干渉計、光学式三次元表面形状・粗さ計)です。 光学式三次元表面プロファイラーは、レンズ金型などの精密加工部品、自動車部品、電子部品、機能材料などの製造工程や品質検査において、表面の凹凸、傷、節目などの表面性状を非接触で測定を行えます。 三次元表面性状測定の...
メーカー・取り扱い企業: キヤノンマーケティングジャパン株式会社
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薄膜の膜厚、光学定数などの物質特性を精度良く測定!自動薄膜計測装置
『DLC Analyzer』は、プッシュボタン感覚で、1nm~15μmの膜厚範囲の 単層膜から多層膜までのサンプル測定が可能です。 波長450nm-1000nmをカバーしたデータ採取により、薄膜の膜厚、 光学定数(屈折率、消衰係数)などの物質特性を精度良く測定します。 DLCの国際標準化を推進しているNDF DLC規格化委員会において、 分類における標準試験機として使用しています...
メーカー・取り扱い企業: ナノテック株式会社
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