• 半導体分野向け比抵抗計『UPW UniCondセンサ』 製品画像

    半導体分野向け比抵抗計『UPW UniCondセンサ』

    PR±0.5%以下の測定精度で、水質管理の信頼性を向上。評価結果などの紹介…

    『UPW UniCondセンサ』は、大手半導体メーカーとの共同開発により 堅牢な構造と高度な温度補正機能を備えた比抵抗計です。 環境温度やプロセス温度の変化による測定値の変化や 信号ノイズを防ぎ、高い温度補償比抵抗精度を実現。 半導体分野における水質の正確な把握と歩留まりの向上に貢献します。 【特長】 ■±0.5%以下の測定精度を実現 ■ノイズと水質変化による干渉を区別し、高...

    メーカー・取り扱い企業: メトラー・トレド株式会社

  • 顕微鏡用ナノ位置決めステージ『DOF-5』 製品画像

    顕微鏡用ナノ位置決めステージ『DOF-5』

    PR低コストで高性能!画像の安定性を維持しながら高速なステップと整定を実現…

    『DOF-5』は、光学イメージングアプリケーション向けに最適化された 低コストで高性能なナノポジショニングステージです。 移動量(5mm)と帯域幅(225Hz以上)が大きく、画像の安定性を維持しながら 高速なステップと整定を実現。 また、ボリュームディスカウントが利用可能です。 【特長】 ■高価な顕微鏡用ピエゾステージの代替品として登場 ■ボリュームディスカウントが利用可...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社キーストンインターナショナル

  • 【分析事例】IGZO薄膜のXAFSによる局所構造解析 製品画像

    【分析事例】IGZO薄膜のXAFSによる局所構造解析

    酸化物半導体中、金属元素の価数・配位数・構造秩序性の評価

    透明酸化物半導体のIGZO薄膜はディスプレイ用TFT材料として研究開発が進められていますが、TFT特性の安定性の面で実用に課題が残されております。この課題を解決するためにはIGZO成膜メカニズムの解明が重要です。IGZO薄膜について、金属元素の電子状態およびその局所構造を、放射光を用いたXAFS解析によっ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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