• 半導体製造装置用サファイアカスタム品のご提案【技術データ進呈】 製品画像

    半導体製造装置用サファイアカスタム品のご提案【技術データ進呈】

    PRどんな複雑なサファイア加工依頼にも挑戦します。1個からでもお気軽にお問…

    創業77年の老舗サファイア製造メーカーです。 サファイアの大型結晶を自社で育成しているため、1mm以下の微細な製品から 写真のような300mm程度の大型窓の製作も可能です。 設計段階からお客様のご要求に寄り添い、品質的/コスト的に最適なカスタム製品を共に作り上げていくことが得意です。 1個からのお問い合わせも歓迎しておりますので、ご遠慮なくお問い合わせください。 切断、研削、研磨といった基本的...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社信光社

  • 【分析事例】有機EL素子積層膜の膜密度・膜厚測定 製品画像

    【分析事例】有機EL素子積層膜の膜密度・膜厚測定

    X線反射率測定(XRR)で膜厚・密度の分析が非破壊で可能です

    有機ELディスプレイは自発光原理による高輝度、高精細カラー、薄型化等の利点を活かし、実用化が進みつつあります。有機ELデバイスは有機膜を積層させて作製しますが、有機膜積層状態での有機膜分析を行うことは困難でした。今回、XRR法を用いることによって、積層状態のまま、有機膜の膜厚測定および密度測定を行うことが可能となりました。 結晶質、非晶質を問わず、積層膜の膜厚および密度の分析が可能です。...詳...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法 製品画像

    STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法

    極小に絞った電子ビームを試料に照射!試料内部の原子像分布・形態などを画…

    当社で行っている「STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法」について ご紹介いたします。 原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来、 明視野観察で構造情報を、暗視野像やHAADF像観察で物質の密度・ 元素情報を得ることが可能。 また、物質界面などの極微小領域での結晶状態・結晶方位を直接的に 観測することが出来ます。 【特長】 ■原子像やサブnmオーダーで物質...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社クオルテック

  • 技術情報誌 202101-04 陽電子によるバリア膜や分離膜評価 製品画像

    技術情報誌 202101-04 陽電子によるバリア膜や分離膜評価

    技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

    【要旨】 革新的なバリア性や分離性などの気体輸送特性(ガスや蒸気の透過性、拡散性、収着性など)を持つ材料の開発ではサブナノ空隙(1 nm未満の空隙)構造の評価が重要になる。そのため、分子レベルの空隙を評価する技術が求められ、陽電子消滅寿命法は強力なツールとなる。本稿では、polyethylene terephthalateおよびシリカ薄膜に対し、陽電子消滅寿命法と他手法を協奏的に活用することで、...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター

  • TEM_SEMによる有機EL_OLED_ゲート酸化膜の断面観察 製品画像

    TEM_SEMによる有機EL_OLED_ゲート酸化膜の断面観察

    低加速STEM観察により、低密度な膜でもコントラストがつきます

    密度が低い膜について、高加速電圧(数百kV)では電子線の透過能が高いためにコントラストをつけることは困難ですが、低加速電圧のSEM-STEM1)像では、わずかな密度の違いを反映し、組成コントラストをはっきりつけることができます。密度差・平均質量差・組成差が小さい有機EL膜・Low-k膜・ゲート酸化膜・TEOS膜・BPSG膜などに適用できます。 1) TEM専用機に比べて加速電圧が低いSEM装置に...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [RBS]ラザフォード後方散乱分析法 製品画像

    [RBS]ラザフォード後方散乱分析法

    固体試料にイオンビームを照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱され…

    RBSは固体試料にイオンビーム(H+,He++)を照射し、ラザフォード散乱によって後方に散乱されてくるイオンのエネルギーおよび強度を測定する手法です。 散乱されたHeイオンの運動エネルギーを測定し、衝突した原子の質量数を調べることで分析サンプルの成分や層構造を評価することができます。 また、固体試料にHeイオンを入射して前方に散乱されたHイオンを測定することで、サンプル中の水素濃度を評価す...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • PV(太陽電池)各種評価事例集 製品画像

    PV(太陽電池)各種評価事例集

    太陽電池(PV)の組成評価や同定・膜圧評価・形状評価・結晶構造評価など…

    PV EXPO2013(国際太陽電池展)展示会にご来場いただけなかった方、MSTブースにお立ち寄りいただけなかった方、もう一度MSTの展示会資料をご覧になりたい方、ぜひご覧ください。 太陽電池の研究・開発・製造に必要な部品・材料、装置、セル・モジュールが一堂に出展する展示会『PV EXPO 2013』で使用したパネル資料全6枚のご紹介です。 [掲載内容] 有機薄膜太陽電池の活性層の...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【半導体向け】解析シミュレーションソフト ※カタログ進呈 製品画像

    【半導体向け】解析シミュレーションソフト ※カタログ進呈

    工数・コスト削減に!薄膜生成、スパッタリング、プラズマエッチングなどの…

    当社では、半導体関連装置向けに特化した解析ソフトを取扱っています。 希薄流体解析ソフト、プラズマ解析ソフトをラインアップし、 有機ELやマグネトロンスパッタのシミュレーションで活躍中です。 「新商品開発をしたい」「製品改善時に実機(装置)を作って検証したい」 「事前検証,装置との比較検証をしたい」などでお困りの方に。 また、自社開発製品のため、導入後も手厚くサポートいたします。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ウェーブフロント 本社

  • EBSDによるフェライト磁石の配向評価 製品画像

    EBSDによるフェライト磁石の配向評価

    EBSDによりフェライト磁石の配向の評価が可能です。

    異方性磁石の重要な特性の一つに残留磁束密度があります。磁化容易軸の向きが揃うほど、すなわち結晶配向度が高いほど、残留磁束密度は大きくなります。このことから磁化容易軸の配向性を把握することは異方性磁石やそれらを使用したモーターを開発する上で極めて重要です。EBSDによりフェライト磁石の配向の評価が可能です。 ...リング形状の異方性フェライト磁石に対して、EBSDのモンタージュ法による理想方向(紙...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社大同分析リサーチ

  • ナノテック表面分析センター 受託試験 製品画像

    ナノテック表面分析センター 受託試験

    薄膜表面の機械的特性評価は、薄膜プロセスのキーポイント!

    【ラインナップ】 ○硬さ試験:硬さ・ヤング率の評価 ○スクラッチ試験:密着性の評価、傷つきやすさの評価 ○摩擦摩耗試験:摩擦係数の評価、耐摩耗性の評価 ○膜厚測定 ○表面粗さ測定 ○分光エリプソメトリ:膜厚、光学定数の評価 ○EDX分析:摩擦摩耗試験やスクラッチ試験後の試験痕の確認 ○RBS/HFS測定:薄膜を構成する元素の定性・定量評価 ○XRR測定:膜厚・膜密度の評価 ○ラ...

    メーカー・取り扱い企業: ナノテック株式会社

  • 半導体関連装置向け解析シミュレーションソフト 製品画像

    半導体関連装置向け解析シミュレーションソフト

    ガス流れや薄膜生成のシミュレーションに。大規模形状でも短時間計算

    当社では、半導体関連装置向けに特化した解析ソフトを取扱っています。 希薄流体解析ソフト、プラズマ解析ソフトをラインアップし、 有機ELやマグネトロンスパッタのシミュレーションに活躍。 お客様のニーズに合わせた対応も可能です。 【ラインナップ】 《希薄流体解析ソフト『DSMC-Neutrals』》 ■非構造メッシュに対応しているため、複雑な形状の計算に対応 ■装置内全体のガス流れの...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ウェーブフロント 本社

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