STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法クオルテック

極小に絞った電子ビームを試料に照射！試料内部の原子像分布・形態などを画像化

当社で行っている「STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法」について
ご紹介いたします。

原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来、
明視野観察で構造情報を、暗視野像やHAADF像観察で物質の密度・
元素情報を得ることが可能。

また、物質界面などの極微小領域での結晶状態・結晶方位を直接的に
観測することが出来ます。

【特長】
■原子像やサブnmオーダーで物質の構造を捉えることが出来る
■物質界面などの極微小領域での結晶状態・結晶方位を直接的に
　観測することが出来る
■高面分解能画像観察により結晶欠陥を直接観察することも可能
■極微小領域での元素・組成情報を得ることが出来る
■SEM-EDS法では検出できない微小領域や微量の分析が可能

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

基本情報STEM(走査型透過電子顕微鏡)分析法

【その他の特長】
■極微小領域での化学状態分析が可能
■複合的な分析が可能

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