小型フィゾー干渉計

【無料デモ・格安レンタル】古い干渉計使っている方必見！参照面の搭載可能…

環境下で使っていて除振台がどうしても必要… 弊社の取り扱っている干渉計は標準的な参照表面・参照球面がそのまま使え低価格・高性能Fizeauタイプの干渉計です。 【特長】 ・従来のピエゾ微動方式でのスキャンではなく、Spatial Career (Fringe)方式で瞬間測定 ・瞬間測定が可能になったことで、震動があっても一度でもデータが取得できれば解析可能 ・ピエゾ微動方式も可能...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイ・アール・システム

トータルステーション『PENTAX P-100シリーズ』

TIアサヒ株式会社「速くて正確」「高コストパフォーマンス」PENTAX…

目を離さずに素早い測距が可能です。 ●見やすいディスプレイ ホワイトバックライト搭載 ●USB メモリ対応 標準付属のUSBメモリでCSV,SIMAのデータに対応します。 ●新微動ネジユニット採用 オプションTS通信・簡易計算ソフト「SURVEY ASSIST」　座標値を簡単にCADへ中継 ※サーベイアシストは株式会社ピースネットの開発商品です。 ・SIMA座標...

メーカー・取り扱い企業： TI アサヒ株式会社

被膜性能測定装置『フィルメータ ATPro 301』

剥離破壊・摩擦学・引掻強度を1つに融合！物性評価に高精度・高機能を提供…

【仕様（抜粋）】 ■測定範囲：応力（摩擦抵抗力）最大98N ■測定速度：10μm～1mm/sec ■測定距離：最大10mm ■測定深さ：最大6.5mm（微動調整0.25μm） ■駆動操作：タッチパネル方式 ■電源：AC100V 50/60Hz ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社トリニティーラボ 中央事業所

ハイパワーレーザ用NFP計測光学系『M-Scope typeH』

5Wクラスの高出力レーザ等の発光ビームプロファイル計測用のNFP計測光…

、その反射光を対物レンズ・結像レンズにて2次元画像検出器に結像 する方式を採用しています。 これにより、高出力レーザの発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に 計測することができ、また、微動ステージと組合せて、光学系を焦点方向に 移動させることにより、ビーム形状の出射方向の変化を測定することも可能 です。 【特長】 ■高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰 ■...

メーカー・取り扱い企業： シナジーオプトシステムズ株式会社