【書籍】先端半導体製造プロセスの動向と微細化（No.2220）

PR【試読できます】－成膜技術、リソグラフィ、エッチング、CMP、洗浄－

書籍名：先端半導体製造プロセスの最新動向と微細化技術 －－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－ ★ムーアの法則の限界が叫ばれる中、微細化技術の開発はどこまで続くのか！ 　　新構造、新材料の適用が進む、先端半導体製造「前工程」の最新技術を網羅した一冊 －－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－ ■　本書のポイント　1 ・EUVリソグラフィの最新動向とレジスト、マスク、光源の技術課題 ・これ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社技術情報協会

「画像処理外観検査」導入の小冊子　※技術資料＆提案事例2冊進呈中

PR今さら聞けない画像処理検査装置の仕組みや導入にあたっての注意点などをま…

人の目の代わりにカメラを使用し、解析や処理を行う画像処理外観検査！ 自動化によるメリットや導入にあたってのポイントなどをまとめた必読の技術資料です。 また、多くの業種で導入実績をもつエーディーディーの強みや導入までの解説書も合わせてダウンロードいただけます。　 【画像処理外観検査導入への入門書(検査システムの仕組みから様々な導入スタイルの紹介)】 ■画像処理外観検査を導入する意味と仕組...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エーディーディー

DMT143 小型露点変換器/DMT143L 露点変換器

計測範囲が広く長期安定性も抜群のDMT143Lは、厳しい環境下でもお使…

に接続して使用することが可能です。ロングプローブタイプのDMT143Lは、「ヴァイサラDRYCAP(R) DMT242 露点変換器」の後継機です。 【特長】 ■ヴァイサラDRYCAP(R) 技術による自動補正機能搭載 ■迅速な応答性 ■露点計測範囲：-70～+60°C ■精度：±2ºC ■結露に対する耐性 ■ヴァイサラDRYCAP(R) DM70 ハンディタイプ露点計と組み合わ...

メーカー・取り扱い企業： ヴァイサラ株式会社

DMT152 露点変換器

低露点計測用

【特長】 ■コンパクトで高精度 ■高分子薄膜技術に基づいたヴァイサラDRYCAP(R)センサ ■-80°Cまでの露点計測が可能 ■長い校正間隔でメンテナンス費用を削減 ■結露に対する耐性 ■国家標準にトレーサブル（英文校正証明書付） ■...

メーカー・取り扱い企業： ヴァイサラ株式会社