『熱硬化型焼結銅ペースト』半導体パッケージの高集積化に貢献

PR低抵抗・高放熱を実現する銅ペースト。200℃以上の加熱で焼結し、大気硬…

当社の『熱硬化型焼結銅ペースト』は、半導体パッケージに対し 低抵抗・高放熱といった優れた性能を付与できる樹脂含有型ペーストです。 さらに200℃以上の加熱で焼結するほか、大気硬化も可能です。 半導体パッケージの高集積化などへの対応に必要な特性を備えています。 【特徴】 ■銀ペーストと同等の電気的特性を保持しながら、イオンマイグレーションを低減 ■独自の特殊処方で硬化中の酸化を防ぎ、大気硬化によ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ADEKA

各種多芯型ハーメチックシール

PR厳しい気密・絶縁性が求められる用途に好適！試作から量産まで幅広くサポー…

『各種多芯型ハーメチックシール』は、金属とガラスで製作する 気密・絶縁性に優れたターミナル（端子）です。 気密性は1×10－9Pa・m3/s以下、 絶縁抵抗はDC500Vで1000MΩ以上に対応！ 封着・ロウ付け・鍍金加工・溶接加工のほか、 試作から量産まで用途や目的に合わせた製作が行えるのも特長です。 ◎詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。.....

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フジ電科

導通抵抗モニタリングシステム　／導体抵抗モニタリングシステム

DC／ACの両測定に対応した業界初（弊社調べ）のシステムです。！熱電対…

『導通抵抗モニタリングシステム』は、導通抵抗や容量の変化を 多チャンネルでリアルタイムにモニタリングできるシステムです。 主に、部品・材料接合部の接続信頼性を評価するような用途で効果を発揮。 ま...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

導体抵抗自動モニタリングシステム／導通抵抗モニタリングシステム

試験槽メーカーに依存しない試験が可能なモニタリングシステム。 お客様…

ICパッケージの実装信頼性寿命を評価する加速試験（ヒートサイクル試験等）において、試験中にはんだ接合部や実装品の導通部分の抵抗をリアルタイムに測定・データ集録することができるシステムです。 　従来の様な試験前後の導通測定では、異常発生箇所の導通が一時的に回復する場合もあり正確な寿命が確認できませんでした。 　本システム...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

【事例】導体抵抗自動モニタリングシステム（導通抵抗モニタリング）

集録と同時にリアルタイム分析が可能！ お客様の声を反映したオリジナル…

・試験槽と連動し、導体抵抗の自動モニタリングを行なうことができるシステム ・集録と同時にリアルタイム分析が可能 ・標準チャンネル数192ch　高寿命リレー接点を採用　100M回(10V/100mA) ・試験設備（冷熱衝...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology

イベントディテクタシステム（衝撃試験機連動）

イベントディテクタシステム（衝撃試験機連動）

・落下衝撃試験等、一定周期で機械ストレスを印加するような試験において、ストレス周期毎に10msec間抵抗値データ集録（1μsec間隔で10000point） ・標準構成において最大16ch同時に集録・判定・保存が可能。 ・瞬断検知と波形情報の取得を同時に実行。 ・集録済みのリストデータ及び波形デ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Wave Technology