SR-SCOPE DMP30 電気抵抗式膜厚測定器

PR裏面や内層材の影響を受けずに銅の膜厚を測定

【SR-SCOPE DMP30】は、プリント回路基板上の銅の厚さを迅速かつ高精度に非破壊で、基板裏面にある銅層の影響を受けずに測定することができる電気抵抗式の膜厚測定器。堅牢で近代的な新しいデザイン、デジタルプローブと新しいアプリケーションソフトウェアにより、プリント基板表面の銅の膜厚測定に好適。保護等級IP64のアルミ製の筐体、落下などから筐体を保護するソフトバンパー、強化ガラスの液晶ディスプレ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

自動機搭載用測定器　抵抗計1101S

コイル、抵抗器、その他電極部品などの自動検査機用に。抵抗計1101S。

自動機搭載用測定器　抵抗計1101Sは抗酸化幕抵抗測定に対応。酸化膜のできやすい電極部品の抵抗値測定を可能にしました。測定値は4 1/2桁で表示され、測定範囲は100Ωから19.999MΩまで可能です。詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。...【主な特徴】 ○抗酸化幕抵抗測定に対応 。 ○測定部センタの接触抵抗（接触圧）が100Ωであっても高精度測定が可能 。 ○測定部に不可...

メーカー・取り扱い企業： アール・エス・ティ・エンジニアリング株式会社

非接触シート抵抗測定機『DELCOM』

サンプルへの物理的損傷を与えず、幅広い測定レンジにて高精度な測定を実現…

『DELCOM』は、DC渦電流方式の非接触型シート抵抗測定システムです。 半導体/液晶基板、太陽電池セル、フレキシブル材料、各種導電性フィルム等の 研究開発・検査工程・製造ラインにおいて、サンプルへの物理的損傷を与えず、 幅広い測定レンジにて高精度な測定を実現。 測定アプリケーションは、半導体、ITO膜、グラフェン＆カーボン、 容量性メタルホイール、電波吸収材料などです。 ...

メーカー・取り扱い企業： 雄山株式会社 東京支店

シート抵抗測定器・四探針プローバ

4探針法によるシート抵抗測定システムです

コンパクトに形成された四点プローブシステムは、半導体/液晶基板、太陽電池セル、ならびに導電性薄膜等の研究開発・検査工程・製造ラインにおいて、多様化する電子材料の抵抗率、 シート抵抗値 を四探針法により迅速かつ高精度に測定します。 ...メタル層、エピ層、イオン注入層、拡散層等といった薄膜から厚膜まで様々な膜質に対応でき、さらに平均値、V/I、標準偏差の表示機能やWindowsを用いて、データ集計...

メーカー・取り扱い企業： 雄山株式会社 東京支店

電気化学水晶振動子計測システム『ECstat-302-QCM』

SEIKO EG&G社のQCMシステム (QCM922A) および当社…

『ECstat-302-QCM』は、水晶振動子マイクロバランス (QCM) 法は、電極上への吸着や析出およびそれらの溶出に伴う質量変化をngオーダーで測定できる高感度な質量センサーです。電極表面で起きる種々の現象を、電気化学と質量変化の両面から同時に計測することができます。 【特長】 ■コンパクトなEQCMシステムが構築が可能 ■微小な質量変化を共振周波数、粘弾性変化を共振抵抗として...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社イーシーフロンティア

オスミウムコーター

低ダメージでオスミウムをコーティング可能！

当社では、観察倍率が高いSEM試料やデリケートな有機材料、複雑な 凹凸構造を持つ試料に低抵抗のオスミウム金属（非晶質&微細粒子）を コーティングし、導電処理を行う装置『オスミウムコーター』を取り扱っております。 「ホローカソード試料台による低電圧放電CVD法」を採用。 ホローカソード円筒内全域に高密度プラズマが発生し、均一にコーティングが 可能なため、試料サイズや試料高さでお悩み...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ユニオン