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PR野村DS株式会社のCNC自動旋盤の特徴は難削材の加工で力を発揮する【剛…
『NN-20UB10シリーズ ~φ20mm加工機』とほぼ全ての機械のメイン刃物台にはアリ溝構 造を採用し、摺動面に伝統工法のキサゲ加工を施す事で高い剛性が実現します。 お困りの難削材(硬い材料)の加工で力を発揮するのはもちろん、快削材でも幅広く加工 が可能であり、切粉を細かく切断する新技術MVT(振動切削) を搭載すれば、 刃物、加工物に巻きつく切粉を低減し、工具や製品へのダメージを抑...
メーカー・取り扱い企業: 野村DS株式会社 本社工場
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数十μm角程度の領域の測定が可能
赤外分光法は、分子の振動による赤外線吸収を測定することで、分子構造の情報を得る手法です。 ・非破壊での測定が可能 ・真空下での測定により、大気成分であるCO2やH2Oの影響を除去することが可能 ・顕微測定により、...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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研究開発者、品質管理者必見!MST取り扱い手法の原理から、手法の選択方…
★掲載内容★ ■分析手法紹介 ・質量分析法 ・電子分光法 ・電子顕微鏡観察/分析 ・振動分光 ・X線回折関連 ・SPM関連 ・非破壊検査/故障解析 ・そのほかの測定法 ・加工法/処理法 ■ご依頼方法 ・ご依頼の流れ ・セミナー...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測
シリコン単結晶ウエハを加工して作られた鋭い探針で試料表面を走査します。先端径は10nm未満にまで加工されています。 ■タッピングモード タッピングモードは、探針を約300kHzの高周波で強制振動させ、試料表面を走査します。 走査の過程で、探針が試料表面に近づくと探針の振動振幅は減少し、逆に遠ざかると増加します。この変化を打ち消して、ある一定の振動振幅を保つように探針の高さを制御しながら走...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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赤外吸収法によりSiN膜中のSi-H,N-Hを定量
より求めることが可能です。SIMS等の分析でも、水素濃度を求めることは可能ですが、全水素濃度であり、Siと結合した水素及びNと結合した水素をそれぞれ求めることは出来ません。FT-IRではSi-H伸縮振動とN-H伸縮振動が別の位置にピークを持つため、それらのピークを利用して、それぞれの水素濃度を求めることが出来ます。 Si基板上SiN膜中のSi-H及びN-H濃度を求めた分析事例を下記に示します。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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XRR:X-ray Reflectivity
大きくしていき、入射角が臨界角より大きくなると、X線が薄膜中に侵入し、反射X線の強度が小さくなります。 さらに入射角を大きくしていくと、薄膜表面で反射したX線と各界面で反射したX線が互いに干渉し、振動プロファイルが観測されます。このようにして得られた反射率の振動プロファイルは、その物質の d:膜厚、ρ:密度、σ:ラフネスに応じた特有のプロファイルとなります。 膜構造を仮定してシミュレーショ...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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試料の分子構造や結晶構造に関する情報を得る
Raman(ラマン分光法)は、入射光と分子との相互作用の結果、入射光の振動数が変化するという光散乱現象(ラマン効果)を利用し、分子中の構造についての情報を得る手法です。 ・試料の分子構造や結晶構造に関する情報を得ることが可能 ・レーザー光を用いることにより、FT-...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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お客様からお預かりした材料・製品の受託分析を行います。前処理から測定ま…
○光電子分光法 XPS X線光電子分光法 UPS 紫外光電子分光法 ○電子顕微鏡観察・分析 AES オージェ電子分光法 SEM 走査電子顕微鏡法 EBIC 電子線誘起電流法 ほか ○振動分光 FT-IR フーリエ変換赤外分光法 Raman ラマン分光法 ○X線回折関連 XRD X線回折法 SAXS X線小角散乱法 XRR X線反射率法 ○SPM関連 AFM 原子間力...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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量子化学計算による有機分子のRamanスペクトルシミュレーション
振動スペクトルシミュレーションによって分子構造の情報が得られます
オイゲノール(eugenol)は香料、殺菌剤や麻酔薬などの医薬品に用いられます。その構造異性体であるイソオイゲノール(isoeugenol)はバニリンの工業的生産や香料の調合剤に用いられます。本資料ではオイゲノールとイソオイゲノールを対象として、量子化学計算によってRamanスペクトルシミュレーションを行った事例を紹介します。今回のようなシミュレーション結果を実測データと比較することで構造情報が得...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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FT-IR分析とXRF分析による粉体の同定
異物等の未知試料を分析・同定する場合、複数手法での測定結果から複合的にデータを解析することが有効です。 振動分光であるFT-IR分析と、大気中での元素分析手法であるXRF分析とを組み合わせて評価し、2種類の白色粉体の同定を行った事例をご紹介します。...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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XAFSは、物質にX線を照射することで得られる吸収スペクトルを解析する…
この吸収端近傍±50 eV程度に現れる微細構造をXANES(=X-ray Absorption Near Edge Structure)と呼び、吸収端から高エネルギー側1000 eV程度に現れる振動構造をEXAFS(=Extended X-ray Absorption Fine Structure)と呼びます。 またXANESとEXAFSを合わせた領域をXAFS(=X-ray Absorpt...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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キャリア分布を二次元的に可視化
面の酸化膜の静電容量COxと半導体の静電容量CDが接続された系とみなすことができます。この系に対して高周波電圧VACを印加すると、合成容量Cが変動します。 この変動は探針直下の半導体中のキャリアの振動によるものにほかならず、変動の大きさは探針直下のキャリア濃度に依存します。 探針を走査させながら、合成容量Cの変動Cにより生じる高周波共振器の変調信号を測定することで、キャリアの分布を二次元的に可...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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