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  • 【シロキサンフリー】半導体チップ搬送ケース『ゲルベースVタイプ』 製品画像

    【シロキサンフリー】半導体チップ搬送ケース『ゲルベースVタイプ』

    PR半導体チップや精密デバイスなどを振動から守り 安全に保管・搬送！シロキ…

    ★電子機器トータルソリューション展に出展します★ JPCA Show 2024 2024/4/24(水)～26(金) 10:00-17:00 パシフィコ横浜　展示ホール 小間番号：6H-10 ゲルベースは半導体チップや精密デバイスなど細かな部品の工場内、工程内搬送、海外搬送用として使用できます。 搬送時は振動から精密部品を守り、また半導体等部品のデバイス固定用としても大活躍。 粘...

    メーカー・取り扱い企業： 株式会社エクシール 本社

  • 異音検査装置『DSVI-MA/MB』　※事例集を進呈中 製品画像

    異音検査装置『DSVI-MA/MB』　※事例集を進呈中

    PR音・振動の検査を自動化＆定量化。簡単な設定で聴感検査を置き換え。ノイズ…

    『DSVI-MA/MB』は、マハラノビス・タグチ法（MT法）を活用した検査アルゴリズムにより、 音や振動の良否を自動で判定できる異音検査装置です。 人の感覚に頼っていた音・振動の検査を本装置に置き換えることで、 定量的な自動検査を実現します。 40個の良品データから検査基準を簡単に作成でき、導入後すぐに 異音検査の精度・効率アップが期待できます。 『DSVI-MB』では最大...

    • DSVI-MB.png

    メーカー・取り扱い企業： 大王電機株式会社

  • 減衰振動波試験器（IEEE C37.90.1-2012規格対応） 製品画像

    減衰振動波試験器（IEEE C37.90.1-2012規格対応）

    スイッチなどの開閉器がON/OFF時に発生する繰返しの速い高周波のノイ…

    当製品は、IEEE C37.90.1-2012規格対応の減衰振動波試験器です。 ○ IEC 61000-4-18（2006）規格に準拠した試験ができます。 ○ 電力規格B-402(2007)規格に準拠した試験ができます。 ○ IEEE C37.90-2...

    メーカー・取り扱い企業： 株式会社ノイズ研究所（NoiseKen）

  • 耐高周波サージ試験用注入プローブ（0.01μF、470pF） 製品画像

    耐高周波サージ試験用注入プローブ（0.01μF、470pF）

    車載電子部品の耐高周波サージ性の試験が可能！減結合用コイルを組み合わせ…

    当製品は、インパルスノイズ試験器、および減衰振動波試験器と組み合わせ、 任意の場所に直接ノイズを注入する為のプローブです。 車載電子部品の耐高周波サージ性（バースト波形）および 耐高周波サージ性（インパルス波形）の試験が行えます。 ...

    メーカー・取り扱い企業： 株式会社ノイズ研究所（NoiseKen）

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