X線CT撮影受託サービス

PRナノフォーカスCTによる高解像度解析や3D計測ならお任せください。

生体や電子基板、構造体の内部分析、欠陥解析等、様々な分野でご利用いただけるX線CT装置です。 撮影したデータを3Dデータ化することで図面化、リバースエンジニアリングにご利用いただくことも可能です。 また、当社は創業時より航空・宇宙関連のエンジン部品をはじめとした多種多様なものづくり企業であり、材料の調達から設計⇒加工⇒品質保証までの一貫加工や試作品、短工程等の受託サービスも行っております。 近年...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エイチ・エー・ティー

透過密閉型 マイクロフォーカスX線源『G-511シリーズ』

PR先端半導体パッケージの非破壊検査に対応可能な 高解像度の X線源

『G-511シリーズ』は、素早い画像取得ができ、ターゲットの 回転調整不要の透過密閉型マイクロフォーカスX線源です。 ウォーミングアップは3分以内で立上げ時の長い待ち時間を解消。 X線管寿命の自己診断機能で、計画的な装置保守に貢献します。 【特長】 ■ 110kV昇電圧1秒以内 ■ ターゲットメンテナンスフリー ■ ウォーミングアップ3分以内 ■ X線管寿命の自己診断機能 ■ オプションで1...

メーカー・取り扱い企業： キヤノンアネルバ株式会社 栗木本社

【試験事例】JIS Z 0202 落下試験

製品の挙動や緩衝包装のひずみなどを最大1/2000秒で撮影して動画によ…

『JIS Z 0202（落下試験方法）』は金属、木材、段ボール、板紙、プラスチックまたはこれらの組み合わせからなる包装貨物及び容器について適正であるか否かを評価する為の試験方法です。 試験方法は自由落下試験機による「垂直自由落下試験」、等価落下試験機による「等価落下試験」、クレーンによる「片支持りょう落下試験」の3通りあります。 試験レベルや試験条件についてはJIS Z 0200試験方...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジネスロジスティクス（JBL）株式会社 藤沢北事業所

【試験事例】JIS Z 0205 水平衝撃試験

試験方法は傾斜衝撃試験機による傾斜面試験を適用します

アドバイス】 ◇製品に対して加速度ピックアップセンサーを取り付けて落下時における衝撃値の計測や高速度カメラを使用し落下衝撃時における包装された製品の挙動や緩衝包装のひずみなどを最大1/2000秒で撮影して動画による目視確認をする事も可能です。...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジネスロジスティクス（JBL）株式会社 藤沢北事業所