• 【展示会出展】SONY製センサ採用 InGaAsカメラシリーズ 製品画像

    【展示会出展】SONY製センサ採用 InGaAsカメラシリーズ

    PR400~1700nmの近赤外線領域に高い感度を有するInGaAs(イン…

    2021年6月より大幅なプライスダウンを実現! UVC・カメラリンク接続タイプも新登場!大好評販売中です! 【用途】 ◆シリコンウェハー観察 ◆製品パッケージなどの欠陥検査 ◆樹脂透過による内部の検査 ◆水分の検出 ◆美術品の検査 ◆異種材料の識別 ◆近赤外線ビームの観察、検査 ◆太陽光パネルのEL発光検査 【特長】 ◆高画素タイプの130万画素(1280×1024)タ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アートレイ

  • 【インターフェックス2024出展】サンテック標準ボトルラベラー 製品画像

    【インターフェックス2024出展】サンテック標準ボトルラベラー

    PR丸ボトル角ボトル対応!各種印字機、検査機等のオプション対応も可能です。

    本装置は、インライン・オフライン共に対応できるボトル胴面の全周方向へラベルを貼付ける装置です。 オプションとしましては、『ラベル印字機』『印字検査機』『角ボトル対応』『ターンテーブル』『コンベヤ長』 『その他ご相談』がラインナップしております。 ★インターフェックス2024出展決定!(6/26~6/28 東京ビッグサイト東5ホール 小間番号36-36) インターフェックスでは以下の装置を出展予定...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社サンテック

  • ダイヤモンドのクラリティ観察 製品画像

    ダイヤモンドのクラリティ観察

    マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察することができま…

    ると内包物があったり割れが あったりします。マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を 観察することができます。 また、マイクロスコープでは半導体電子部品やシリコンチップなどの 検査、観察も行っています。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察可能 ■半導体電子部品やシリコンチップなどの検査、観察も...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 太陽電池EL画像測定装置 PVX330 製品画像

    太陽電池EL画像測定装置 PVX330

    太陽電池の潜在欠陥を鮮明に写しだす業界実質標準、EL 画像 検査装置P…

    2400万画素の高精細カメラ オートフォーカス 電源自動制御 大型モジュールの一括測定に対応 簡単しかも高性能な画像処理ソフト 従来機の1/3という低価格を実現 無料サンプル評価デモ受付中。...太陽電池の潜在欠陥を検出する装置「PVXシリーズ」に、高機能低価格モデルのPVX330が加わりました。 EL画像測定装置としての基本機能を重視しながら、光学系に2400万画素の高精細...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 太陽電池EL画像測定装置 PVX330 製品画像

    太陽電池EL画像測定装置 PVX330

    太陽電池の潜在欠陥を鮮明に写しだす業界実質標準、EL 画像 検査装置P…

    2400万画素の高精細カメラ オートフォーカス 電源自動制御 大型モジュールの一括測定に対応 簡単しかも高性能な画像処理ソフト 従来機の1/3という低価格を実現 無料サンプル評価デモ受付中。...太陽電池の潜在欠陥を検出する装置「PVXシリーズ」に、高機能低価格モデルのPVX330が加わりました。 EL画像測定装置としての基本機能を重視しながら、光学系に2400万画素の高精細...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

1〜3 件 / 全 3 件
表示件数
30件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • 構造計画研究所バナー画像再提出_128541.jpg
  • ipros_bana_提出.jpg

PR