SONY製センサ採用　InGaAsカメラシリーズ

PR400～1700nmの近赤外線領域に高い感度を有するInGaAs(イン…

2021年6月より大幅なプライスダウンを実現！ UVC・カメラリンク接続タイプも新登場！大好評販売中です！ 【用途】 ◆シリコンウェハー観察 ◆製品パッケージなどの欠陥検査 ◆樹脂透過による内部の検査 ◆水分の検出 ◆美術品の検査 ◆異種材料の識別 ◆近赤外線ビームの観察、検査 ◆太陽光パネルのEL発光検査 【特長】 ◆高画素タイプの130万画素(1280×1024)タイプと32万画素(640×...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アートレイ

独自技術を採用したガラス加工用レーザー装置

PR高速かつ正確なガラス微細加工が可能。加工時の応力を抑えて、マイクロクラ…

『LPKF Vitrion M 5000 Gen2』は、独自に開発した「LIDEプロセス」を採用し、±5μm以下の高精度でガラス微細加工が可能なレーザーシステムです。 加工時の応力を最小限に抑え、チッピングやマイクロクラックの発生を防止。 アドバンストパッケージングで標準使用される150×150mmから 510×515mmまでの大型パネルに対応し、基板のサイズや 形状に合わせて柔軟に対...

メーカー・取り扱い企業： LPKF Laser&Electronics株式会社

【外観検査】カラー＆モノクロラインカメラ対応！原反検査システム

カラーラインカメラ＆モノクロラインカメラともに対応！シート、フィルム、…

『原反検査システム』は、途切れ無く連続的に流れる無地の原反製品表面に 発生する欠陥（異物、キズ、スジ、ピンホール等）を検出します。 運転動作中に検出された欠陥画像をリアルタイムに表示。 画像データは検出位置情報と共に記録されており、集計ソフト（オプション） を利用して、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

【最適条件を提案します】UISの原反検査画像処理システム

途切れ無く連続的に流れる無地の原反製品表面に発生する欠陥（異物、キズ、…

【特長】 ○欠陥画像の記録・表示 ○欠陥位置の記録・表示 ○欠陥検出信号の出力 ○過去の検査データ確認 ●その他機能や詳細については、カタログをご覧下さい。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

【全数検査対応】容器外観検査システム

フィルタ処理や欠け検査など多種の検査機能！独自の検査処理を設定できます

『容器外観検査システム』は、容器を回転させながら外観を撮像し、画像を 分析し欠陥を検出します。 エリアセンサカメラとラインセンサカメラを組み合わせることにより、内面・ 外面・側面の全面検査を実現。また、画像処理を高速でおこなうため、全数 検査にも対応できます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

パターン外観検査システム

マスター登録方式を採用！16Kラインセンサカメラによる超高解像度画像処…

『パターン外観検査システム』は、モノクロ／カラーラインセンサカメラ （最大16K）により超高解像度の画像を撮像し、オープン・ショート・欠け・ 異物・凹凸などの各種欠陥を高精度に検出します。 検査対象パターン輪郭を直線で囲み、マスタとなる形状を登録し、輪郭の内側・ 外側を個別に検査します。検出強度を個別に設定することが可能。 お客様のニーズにより、卓...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

パターン外観検査システム

12,288×12,000画素の超高解像度画像処理システム

超高解像度のラインセンサカメラにより最大12,288×12,000画素の超高解像度画像を撮像し、オープン・ショート・欠け・異物 ・凹凸 などの各種欠陥を高精度に検出します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム