Enovasense Field Sensor

PR高速な不透明膜の厚みマッピング、内部欠陥のエリア検出が可能なレーザーフ…

フランスのEnovasense社のセンサは、レーザフォトサーマル技術を使用した 高性能なセンサで、非接触で不透明体の厚みを測定できます。 本新製品は、従来のシングルポイントセンサと異なり、約１１万点を同時に測定できるエリアセンサです。 不透明体の厚みマッピングだけでなく、表面層下の欠陥、欠け、剥がれの有無を検知できます。 ■特長 　・非接触で下記が測定できます。 　　　☆不透明体の厚みマッピング...

メーカー・取り扱い企業： プレシテック・ジャパン株式会社

X線検査受託サービス【大型製品に対応】Nadcap認定を取得

PRギガキャストなど大型製品のＸ線検査に対応！

KILTではX線CTと透過X線の異なるタイプのＸ線装置を保有しており、 様々な材質やサイズの製品のX線検査に対応しています。 最新鋭のＸ線ＣＴシステム「FF85」は、 国内最大クラスの出力を誇る600kVミニフォーカスX線管と 高精細なX線撮影に最適な225kVマイクロフォーカスX線管を搭載、 また、ラインセンサとフラットパネルの２つの検出器を搭載しており、 あらゆる対象物のCTスキャンを行って...

メーカー・取り扱い企業： TANIDA株式会社 かほく本社工場

第一原理計算によるワイドギャップ半導体GaNにおける欠陥準位解析

点欠陥の形成エネルギー、電荷、光学遷移など様々な物性情報が得られます

ギャップ半導体である窒化ガリウム（GaN）は主にパワーデバイスの分野で用いられ、近年では急速充電器や5G通信基地局用途としての需要が高まっています。高信頼性を有するGaNの開発にあたっては、結晶中の欠陥量の低減や欠陥がもたらす電気/光学特性などへの影響の理解が重要です。本資料では第一原理計算を用いてGaN中の窒素欠損（VN）が形成する欠陥準位の解析を行った事例を紹介します。本解析は欠損だけでなく、...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】PL・TEMによるSiCパワーデバイスの結晶欠陥評価

PLマッピングで検出した結晶欠陥の高分解能TEM観察

PL（フォトルミネッセンス）マッピングでは、発光箇所から結晶欠陥位置の特定が可能です。 更に同一箇所を高分解能STEM観察（HAADF-STEM像）を行うことで積層欠陥を捉えることができます。 本事例では、市販のSiCパワーデバイスについてPLマッピング...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

非破壊検査：低圧ガスボンベ欠陥検出検査

溶接部欠陥検出（低圧ガス容器）！アーク溶接部の欠陥（漏れ穴）検出が可能…

溶接部欠陥検出（低圧ガス容器）！アーク溶接部の欠陥（漏れ穴）検出が可能です！ 当社は当社にしかできない技術力で 様々な難しい検査にも対応いたします。 詳細はお問い合わせください。 PDFダウンロードが下記...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社偕成ハイテック

非破壊検査：水素ガスボンベ欠陥検出検査

ボンベを回転させて欠陥（内部・外部のクラック）を検出。

水素ガスボンベを回転させることで内部および外部の欠陥を検出（クラック検出） 当社は当社にしかできない技術力で 様々な難しい検査にも対応いたします。 詳細はお問い合わせください。 PDFダウンロードが下記にあるものに関しては ダウンロードいただけれ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社偕成ハイテック

ドイツ diondo工業CT測定サービス-繊維複合材料分析

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

5万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイクロ・...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

【分析事例】プラスチック製グリル表面の欠陥調査

何らかの原因でCuメッキが異常成長！その上にNiメッキが施されたと推察…

当社で行った、プラスチック製グリル表面の欠陥調査についてご紹介します。 表面観察では、欠陥の一部は表面から伸びており、その伸張した突起物が もげたと思われる跡が認められ、その跡の中心はCuでありその周囲にNiを検出。 断面観察で...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社大同分析リサーチ

ボイド/内部欠陥/異物抽出 ExFact VR ボイド解析

ボイド/内部欠陥/異物抽出 ExFact VR ボイド解析オプション

『ExFact VR 2.0 ボイド解析オプション』は、 ソフトウェア「ExFact VR 2.0」に別売りで機能追加できるオプション製品です。 鋳造品や樹脂などの三次元画像から内部欠陥や粒子を抽出し、 カラー表示して可視化、解析できます。 是非こちらも併せてご使用ください。 【特長】 ■様々な検出条件の設定により、多様な画像データに対応 ■検出・分類条件も任意に...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジュアルサイエンス株式会社

≪鋳造部品のガス量・成分分析≫ ダイカスト品の鋳造欠陥対策に！

アルミ鋳造品のガス量測定・成分分析により、鋳造欠陥の原因を特定する指標…

ガス分析は鋳造品の品質改善をサポートします。 アルミ鋳造品の品質で以下のようなお困り事はありませんか？ ・加工面の鋳巣 ・塗装後の膨れ ・メッキのピンホール ・湯じわ ・湯廻り不良 ガス量測定・成分分析をすると以下のような原因を特定する指標となります。 ・鋳造方案の不適 ・鋳造条件の不適 ・プランジャーオイル過多 ・離型剤過多 ≪ガス分析とは≫ ガス分析とは、アル...

メーカー・取り扱い企業： 橋本エンジニアリング株式会社

ドイツ diondo工業CT測定サービス-自動車鋳造部品

低価格・高精度・正確な非破壊検査 15万円～/1 検体

15万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-鋳巣分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイク...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

ドイツ diondo工業CT測定サービス-電子部品

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

5万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイク...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

［EBIC］電子線誘起電流

試料内部の電界構造（半導体の接合構造）に関する情報を得ることができる手…

電流をEBIC（Electron Beam Induced Current）と呼び、SEM像と併せて取得することでpn接合の位置や空乏層の広がりを可視化することが可能です。 ・ｐｎ接合部や結晶欠陥(転位、積層欠陥など)の評価が可能。 ・SEM像と重ねることで、接合や結晶欠陥の位置を特定可能。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ドイツ diondo工業CT測定サービス-金属材料

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

5万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイクロ・ナノCT...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

表面欠陥の非破壊検査のご案内

目視検査「VT」や磁粉探傷試験「MT」など、表面欠陥の非破壊検査なら当…

株式会社ニッケンエンジでは、目視検査をはじめ磁粉探傷試験、 浸透探傷試験、渦流探傷試験といった表面欠陥の非破壊検査を 承っております。 構造物や機械部品の有害なキズを、対象物を破壊することなく検出する 非破壊検査をご要望の際は、お気軽にお問い合わせください。 【検査項目】 ■目視検...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ニッケンエンジ 本社

【分析事例】多結晶シリコン太陽電池のPLマッピング

太陽電池セルの欠陥の位置を非破壊で特定することができます

太陽電池に禁制帯幅以上のエネルギーの光を照射するとキャリアが生成し、一部は発光性再結合をします。その際の発光をフォトルミネッセンス（PL）と呼びます。しかし、欠陥が存在する箇所では、キャリアが捕捉されPL強度が弱くなります。このことから、PLマッピング測定をすることで、非破壊かつ簡便に欠陥箇所を特定することができます。多結晶シリコン太陽電池セルにおいて、PL...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

不良発生を抑える！鋳造シミュレーションで欠陥の種類・箇所を予測！

好適な鋳造方案！不良発生率を限りなく抑えた高品質な鋳物造りを目指してい…

当社では『鋳造シミュレーション』を行っています。 鋳造シミュレーションソフトにて、事前に解析し、欠陥の種類・発生箇所・ 程度などを予測。 試作回数等の工程数を減らしつつ不良発生率を限りなく抑えた高品質な 鋳物造りを目指しています。 ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 前橋橋本合金株式会社 本社･工場

【分析事例】SiCSchottkyBarrierDiodeの測定

SiC中積層欠陥の検出事例

SiCはパワーデバイス用途向けなどに近年盛んに研究・利用が進んでいます。SiCは種々のポリタイプを持つため、積層配置が乱雑になる積層欠陥などが容易に発生するという問題を持ちます。この欠陥の検出法の一つとして、試料を光で刺激した際に放出される光を分析するフォトルミネッセンス（PL）法があります。 マッピング測定を行い欠陥起因の発光を...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ドイツ diondo工業CT測定サービス-積層造形

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

5万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイクロ・...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

ドイツ diondo工業CT測定サービス-地質学

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

5万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイクロ・...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

ドイツ diondo工業CT測定サービス-チップ-電子・電気

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

5万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイク...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

OBIRCH分析（光ビーム加熱抵抗変動法）

OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗…

OBIRCHは、光を当てることによって発生する欠陥箇所の熱により、抵抗が変化することを利用して、異常箇所の特定を行う手法です。 ・配線やビア内のボイド・析出物の位置を特定可能。 ・コンタクトの抵抗異常を特定可能。 ・配線ショート箇所を特定...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

ウェイゲートテクノロジーズ　産業用X線CTシステム　製品カタログ

3D計測や欠陥解析など。充実したオプションを備えたウェイゲートテクノロ…

anotom M 180」をはじめ、 柔軟性の高い「V|tome|x L300/L450」や、 汎用性のある優れた精度の「V|tome|x M300」などを 掲載しています。 3D計測や欠陥解析のご要望を満たすよう、充実したオプションを備えた 製品を取りそろえています。 工業用CT計測の目的に合わせてお選びいただけます。 【ラインアップ】 ■Nanotom M 180 ■...

メーカー・取り扱い企業： 日本ベーカーヒューズ株式会社＆ベーカーヒューズ・エナジージャパン株式会社　 （旧）GEセンシング＆インスペクション・テクノロジーズ株式会社　＆　GEエナジー・ジャパン株式会社

非破壊検査：隅肉溶接検査

隅肉溶接検査（欠陥検出）！溶接内部の欠陥が検出出来ます！

隅肉溶接検査（欠陥検出） ◎溶接内部の欠陥が検出出来ます。 欠陥内容　：ａ（割れ）、ｂ（ブローホール）、ｃ（割れ）、ｄ（スラグ巻込み） 試験体 　　：２５ｔ　ｘ　２００ｗ　ｘ　３００Ｌ 検出方法　：ビードに沿ってセン...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社偕成ハイテック

ダイヤモンドのクラリティ観察

マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察することができま…

なるクラリティをマイクロスコープで覗いてみましたのでご紹介します。 一見きれいに見えるモノでも、拡大すると内包物があったり割れが あったりします。マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を 観察することができます。 また、マイクロスコープでは半導体電子部品やシリコンチップなどの 検査、観察も行っています。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■マイ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【設備紹介】Magnaflux＜蛍光浸透探傷検査＞

X線CTと浸透探傷を組み合わせることで、試料全体の品質検査をワンストッ…

当社の設備である「Magnaflux」は、微細な表面欠陥の検出に適しています。 蛍光浸透探傷検査は、表面の微細な空隙に蛍光液を浸透させ、紫外線を当て 欠陥を発光させることで、試料表面全体の欠陥を効率的に検出する検査手法です。 KILTの浸透...

メーカー・取り扱い企業： TANIDA株式会社 かほく本社工場

破損調査

組織観察、母材成分調査等を追加することも可能！実績豊富な専門家が調査内…

困った"に 川重テクノロジー株式会社がお応えします。 当社は、お客様の課題解決へ向け、実績豊富な専門家が調査内容を提案。 起点、進展方向、破壊形態の特定等を行う「基本コース」と、起点部欠陥、 組織観察、母材成分調査等を追加することが可能な「詳細コース」をご用意しております。 また、損傷に関する情報を頂ければ、調査に反映可能です。 【ご提案例】 ■基本コース（1～4及び...

メーカー・取り扱い企業： 川重テクノロジー株式会社

浸透探傷検査：軽金属から炭素繊維まで幅広い試料に対応【受託検査】

試料の材質を問わず、表面に開口している微細な欠陥を検出することが可能！

樹脂、セラミックス、金属や炭素繊維など、試料の材質を問わず、 表面に開口している微細な欠陥を検出することができます。 また、素材欠陥、溶接欠陥などの他に、重切削による割れや 耐圧試験によるリーク部の特定なども確認できます。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。 ...

メーカー・取り扱い企業： TANIDA株式会社 かほく本社工場

非破壊検査：アーク溶接検査

アーク溶接検査（クラック検出）！ビードの影響を受けずにＳ／Ｎ良く欠陥の…

アーク溶接検査（クラック検出） 検査項目　　　　　：クラック検出（人工欠陥） 人工欠陥サイズ　：１ｍｍ（幅）ｘ２ｍｍ（深さ）　及び　１ｍｍ（幅）ｘ６ｍｍ（深さ） 鉄板板厚　　　　　：２０ｍｍ 検査方法　　　　　：ビードに沿ってセンサを走査する。 ※ビードの影響を受けずにＳ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社偕成ハイテック

ドイツ diondo工業CT測定サービス-半導体部品

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイクロ・ナノCTシステム diondo d2 反射ターゲットX線管： 190-300kV 送信ターゲット X線管： 160～300kV エリ...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

非破壊検査：TIG溶接検査

ＴＩＧ溶接検査（欠陥検出）！ＴＩＧ溶接部の欠陥が検出できます

ＴＩＧ溶接検査（欠陥検出） ◎ＴＩＧ溶接部の欠陥が検出できます。 検査項目：ピンホール等検出 検査項目　　：ピンホル等検出 材質　　　　　：ＳＵＳ３０４ 当社は当社にしかできない技術力で 様々な難しい検査にも対応いた...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社偕成ハイテック

3D技術代行サービス『評価・解析サービス』

最新のスキャン技術とソフトウェアを用いて、形状や内部に発生している不良…

最新のソフトウェアを用いて、欠陥解析や形状評価、非破壊検査など様々な評価・解析が可能です。検査結果は情報を集約したレポートとして提出いたします。 [特長] ■正確なデータを取得 様々なサイズ、材質、形状のワークに対応可能...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社システムクリエイト