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PR400~1700nmの近赤外線領域に高い感度を有するInGaAs(イン…
2021年6月より大幅なプライスダウンを実現! UVC・カメラリンク接続タイプも新登場!大好評販売中です! 【用途】 ◆シリコンウェハー観察 ◆製品パッケージなどの欠陥検査 ◆樹脂透過による内部の検査 ◆水分の検出 ◆美術品の検査 ◆異種材料の識別 ◆近赤外線ビームの観察、検査 ◆太陽光パネルのEL発光検査 【特長】 ◆高画素タイプの130万画素(1280×1024)タイプと32万画素(640×...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社アートレイ
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PR高速かつ正確なガラス微細加工が可能。加工時の応力を抑えて、マイクロクラ…
『LPKF Vitrion M 5000 Gen2』は、独自に開発した「LIDEプロセス」を採用し、±5μm以下の高精度でガラス微細加工が可能なレーザーシステムです。 加工時の応力を最小限に抑え、チッピングやマイクロクラックの発生を防止。 アドバンストパッケージングで標準使用される150×150mmから 510×515mmまでの大型パネルに対応し、基板のサイズや 形状に合わせて柔軟に対...
メーカー・取り扱い企業: LPKF Laser&Electronics株式会社
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スキャナー制御や探傷波形収録など多様なソフトウェアを取り揃えた超音波検…
・Bスコープ表示(エリア表示機能) など ■探触子音場計測ソフトウェア ・音場分布 ・ビーム中心軸音圧 ・ビーム中心幅 ・周波数特性 ・中心周波数 など ■データ処理ソフトウェア ・欠陥画像抽出 ・欠陥寸法算出 ・最大欠陥エコー位置算出 など ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...
メーカー・取り扱い企業: 日本電磁測器株式会社
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パワーを維持しつつ電流値を抑制!表面欠陥の検出に特化した携帯型磁粉探傷…
日本電磁測器の「磁粉探傷装置」は、強磁性体の表面や表層の傷を 簡単・確実・安価に検出する装置です。 『スマートマグナ』は、表面欠陥の検出に特化した軽量タイプの 携帯型磁粉探傷装置です。 従来品に比べて軽量化しました。リフティングパワーを維持しつつ、 電流値を抑えており、従来品に比べて熱くなりにくいです。 【特長...
メーカー・取り扱い企業: 日本電磁測器株式会社
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新規次世代パワー半導体の研究開発拠点を開所
低損失化、高耐圧化、小型化の面で優位性を持つ、GeO2半導体の…
株式会社クオルテック -
X線検査受託サービス【大型製品に対応】Nadcap認定を取得
ギガキャストなど大型製品のX線検査に対応!
TANIDA株式会社 かほく本社工場 -
レーザー損傷閾値(LIDT)測定の代理店始めました!
予期せぬレーザー損傷を避けるためのレーザー損傷試験をお勧めしま…
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コニカミノルタジャパン株式会社 センシング事業部