超音波スキャニング装置

PR超音波探傷器とデータ処理パソコンでの構成！探傷条件の設定、結果の保存、…

『超音波スキャニング装置』は、対象ワーク内の欠陥を全没水侵にて検出し、 リアルタイムでデータ収録・画像処理する自動超音波探傷装置です。 検査は、位置情報を基に超音波信号を画像処理し、平面図、 断面図に展開して欠陥の位置、形状をモニタに表示。 内部欠陥、肉厚（厚み）測定、溶接接合部、スパッタ材・ターゲット材などの内部・接合検査など色々な検査に使用できます。 検査結果画像は評価方法に合わせた色表...

メーカー・取り扱い企業： 有限会社エヌ・ケイ・システム

テラヘルツイメージングシステム「uSense」

PR【非破壊検査】テラヘルツ光で測定物にダメージを与えずに非接触で検査可能…

OPTIKAN社のテラヘルツイメージングシステム「uSense」は、 FMCW（周波数連続変調）レーダー、走査ステージ、制御・ソフトウェアを搭載したタブレット端末が付属した、オールインワンモデルのテラヘルツイメージング装置です。 テラヘルツ光により様々な測定サンプルにダメージを与えることなく、非破壊、非接触で測定することが可能です。 樹脂、複合材料などの材料の評価・研究用途だけでなく、産...

メーカー・取り扱い企業： ケイエルブイ株式会社

測定装置『SemiScope PLIS-TEC』

拡張欠陥も測定可能！スペクトル線分析ができるSemiScope

『SemiScope PLIS-TEC』は、PLによる結晶欠陥の研究において 画期的な測定装置です。 PLイメージング画像で選択した線分において、その線分を1000点に分割した 各スペクトルを同時に測定することができます。 また、線分をスペクト...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フォトンデザイン

SiC半導体評価装置「SemiScope」

フォトルミネッセンス(PL)イメージング法を用いたSiC半導体評価装置

るPLイメージング装置です。 試料を移動させながらイメージング測定を行うタイリング機能を用いることで、約33億画素の解像度で6インチウェハ全面のPL画像を得ることができます。 SiCウェハの結晶欠陥を可視化。非接触・非破壊検査がPLイメージング法で短時間測定可能です。 【特徴】 ○SiC半導体評価装置 ○SiCウェハの結晶欠陥を可視化 ○非接触、非破壊検査 ○PLイメージング法の...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フォトンデザイン