• レーザー損傷閾値(LIDT)測定の代理店始めました! 製品画像

    レーザー損傷閾値(LIDT)測定の代理店始めました!

    PR予期せぬレーザー損傷を避けるためのレーザー損傷試験をお勧めします

    当社では、レーザーオプティクスの損傷を調べることが可能。 顧客に合わせてレーザーへの耐力の測定及び検査など様々な試験に対応し、 損傷原因や欠陥の特定・オプティクスの寿命推定などができます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■試行錯誤の手間の削減 ■オプティクスの寿命推定が可能 ■オプティクスの品質検査(良品、不良品の判別検査) ■研磨、コーティングの最適化 ■損傷原因や...

    メーカー・取り扱い企業: CBCオプテックス株式会社

  • 【X線CT:受託計測】非破壊内部検査  製品画像

    【X線CT:受託計測】非破壊内部検査 

    PR非破壊による内部の欠陥・状態観察が可能! X線CTによる受託計測・解析…

    進和メトロロジーセンターでは、 カールツァイス社 計測X線CT ZEISS METROTOMを所有し、受託計測業務を実施しております。 これまでの受託実績を踏まえて お客様のご要望にお応えしていきます。 検査内容 〇内部欠陥解析 〇CAD比較 〇寸法測定/幾何公差評価 〇繊維配向観察 〇肉厚測定 ○接合状態の観察  【受託依頼 フロー】 1) お問合せ(IPROS, ホームページ、Eメール...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社進和 戦略営業推進室

  • ダイヤモンドのクラリティ観察 製品画像

    ダイヤモンドのクラリティ観察

    マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を観察することができま…

    なるクラリティをマイクロスコープで覗いてみましたのでご紹介します。 一見きれいに見えるモノでも、拡大すると内包物があったり割れが あったりします。マイクロスコープでは目視で確認できない微小な欠陥を 観察することができます。 また、マイクロスコープでは半導体電子部品やシリコンチップなどの 検査、観察も行っています。ご用命の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■マイ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 太陽電池EL画像測定装置 PVX330 製品画像

    太陽電池EL画像測定装置 PVX330

    太陽電池の潜在欠陥を鮮明に写しだす業界実質標準、EL 画像 検査装置P…

    太陽電池の潜在欠陥を検出する装置「PVXシリーズ」に、高機能低価格モデルのPVX330が加わりました。 EL画像測定装置としての基本機能を重視しながら、光学系に2400万画素の高精細カメラを搭載し、業界初のオー...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 太陽光発電設備の不具合調査 製品画像

    太陽光発電設備の不具合調査

    太陽電池モジュールや太陽光発電設備でのお困りごとの解決策を、故障検出の…

    不具合が発生している太陽光パネルに対して、不良内容の調査および原因の分析解析を行います。 パネルの状態をELや電気測定等の非破壊試験(第1段階)で調査し、故障箇所を切り出す破壊試験(第2段階)にて欠陥構造や原因物質を明らかにします。 ※調査分析は、基本的に弊社へ対象パネルを送っていただいての作業となります。 ※第1段階の調査のみ、ご希望に応じて、現地作業でも対応いたします。 株式会社ア...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ 製品画像

    顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ

    太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測

    きます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 太陽電池 PL イメージングユニット POPLI-3C 製品画像

    太陽電池 PL イメージングユニット POPLI-3C

    太陽電池6インチセル対応PL励起用光源。EL画像検査装置PVXシリーズ…

    太陽電池は光を吸収して発電しますが、一部は発光という現象で放出しています。この光を撮像する方法をPL観測といいます。 POPLIは、バンドギャップに基づく発光波長域を観測します。もし、欠陥があれば、発生したキャリアがトラップされるため、正常領域に比べて発光輝度が下がり、その輝度差から異常部位を判定することができます。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 太陽電池EL画像測定装置 PVX330 製品画像

    太陽電池EL画像測定装置 PVX330

    太陽電池の潜在欠陥を鮮明に写しだす業界実質標準、EL 画像 検査装置P…

    太陽電池の潜在欠陥を検出する装置「PVXシリーズ」に、高機能低価格モデルのPVX330が加わりました。 EL画像測定装置としての基本機能を重視しながら、光学系に2400万画素の高精細カメラを搭載し、業界初のオー...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-Octa 製品画像

    EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-Octa

    太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。

    できます。熱拡散後のPN接合層や、AR層成膜のパッシベーション効果や表面汚染、更には裏面絶縁層の保護効果、Local-BSFの評価などが可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。モジュールに逆バイアスを印加しLEAK点を観測することによりPID発症している欠陥箇所を簡便に特定します。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-Octa 製品画像

    EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-Octa

    太陽電池セル製造工程中のWaferをフォトルミネセンスで評価できます。

    できます。熱拡散後のPN接合層や、AR層成膜のパッシベーション効果や表面汚染、更には裏面絶縁層の保護効果、Local-BSFの評価などが可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。モジュールに逆バイアスを印加しLEAK点を観測することによりPID発症している欠陥箇所を簡便に特定します。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ 製品画像

    顕微EL/PLイメージング装置 PVX1000+POPLI-μ

    太陽電池セル製造工程中のWaferの微細な構造を顕微PL観測

    きます。PERCであれば、PL強度で個々のLocal-BSFの評価、レーザーコンタクトホール周辺のパッシベーション層のダメージが評価可能です。 また、直流電源を用いたモジュールのEL観測により欠陥箇所の位置特定が可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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    太陽電池 PL イメージングユニット POPLI-3C

    太陽電池6インチセル対応PL励起用光源。EL画像検査装置PVXシリーズ…

    太陽電池は光を吸収して発電しますが、一部は発光という現象で放出しています。この光を撮像する方法をPL観測といいます。 POPLIは、バンドギャップに基づく発光波長域を観測します。もし、欠陥があれば、発生したキャリアがトラップされるため、正常領域に比べて発光輝度が下がり、その輝度差から異常部位を判定することができます。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

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