レーザー損傷閾値(LIDT)測定の代理店始めました！

PR予期せぬレーザー損傷を避けるためのレーザー損傷試験をお勧めします

当社では、レーザーオプティクスの損傷を調べることが可能。 顧客に合わせてレーザーへの耐力の測定及び検査など様々な試験に対応し、 損傷原因や欠陥の特定・オプティクスの寿命推定などができます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■試行錯誤の手間の削減 ■オプティクスの寿命推定が可能 ■オプティクスの品質検査(良品、不良品の判別検査) ■研磨、コーティングの最適化 ■損傷原因や...

メーカー・取り扱い企業： CBCオプテックス株式会社

【X線CT：受託計測】非破壊内部検査　

PR非破壊による内部の欠陥・状態観察が可能！ X線CTによる受託計測・解析…

進和メトロロジーセンターでは、 カールツァイス社　計測X線CT ZEISS METROTOMを所有し、受託計測業務を実施しております。 これまでの受託実績を踏まえて お客様のご要望にお応えしていきます。 検査内容 〇内部欠陥解析 〇CAD比較 〇寸法測定/幾何公差評価 〇繊維配向観察 〇肉厚測定 ○接合状態の観察　 【受託依頼　フロー】 1）　お問合せ（IPROS, ホームページ、Eメール...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社進和 戦略営業推進室

【超音波探傷検査】非破壊で素材内部の微細な欠陥を検出

エコー波形表示で縦横の断面状況を確認できる！非破壊で素材内部の微細な欠…

『超音波探傷システム』は、超音波波形データを画像化して画像処理技術にて 欠陥を検出し、欠陥を検出する為の好適な条件（探触子・周波数・搬送系など） を試験により選定します。 長年培った画像処理、ハードウェアのノウハウで超音波探傷を自動検査装置 として展開。 お...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

【外観検査】カラー＆モノクロラインカメラ対応！原反検査システム

カラーラインカメラ＆モノクロラインカメラともに対応！シート、フィルム、…

『原反検査システム』は、途切れ無く連続的に流れる無地の原反製品表面に 発生する欠陥（異物、キズ、スジ、ピンホール等）を検出します。 運転動作中に検出された欠陥画像をリアルタイムに表示。 画像データは検出位置情報と共に記録されており、集計ソフト（オプション） を利用して、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

【事例で解説】外観検査システムの課題と限界

汎用の検査装置では検知できない微細で複雑な欠陥について、実際に当社が行…

外観検査自動化のメリット、検査装置導入時・導入後の課題について、 纏めております。 ・微細化が進む電子回路基板のパターン検査課題 複雑化・微細化していき、検出が難しい電子回路基板のパターン欠陥について、当社で独自開発した検査手法をご紹介します。 ・複数光学条件が必要な外観検査自動化における課題 対象物に対して様々な欠陥検出が必要な検査において、複数照明条件を 利用するケースがご...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

【最適条件を提案します】UISの原反検査画像処理システム

途切れ無く連続的に流れる無地の原反製品表面に発生する欠陥（異物、キズ、…

【特長】 ○欠陥画像の記録・表示 ○欠陥位置の記録・表示 ○欠陥検出信号の出力 ○過去の検査データ確認 ●その他機能や詳細については、カタログをご覧下さい。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

【全数検査対応】容器外観検査システム

フィルタ処理や欠け検査など多種の検査機能！独自の検査処理を設定できます

『容器外観検査システム』は、容器を回転させながら外観を撮像し、画像を 分析し欠陥を検出します。 エリアセンサカメラとラインセンサカメラを組み合わせることにより、内面・ 外面・側面の全面検査を実現。また、画像処理を高速でおこなうため、全数 検査にも対応できます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

鋳造シミュレーションシステム『ADSTEFAN』

試作回数の低減、制作期間の短縮、コスト削減などに貢献する設計支援CAE…

誤的な 手法が主流であり、作業の定量化が難しい問題でした。 『ADSTEFAN』は、溶融金属の鋳型内への流入挙動や凝固過程をシミュレーション、 コンピュータ上で可視化することによって、鋳造欠陥を設計初期の段階で 回避するための設計支援CAEツールです。 試作回数の低減、制作期間の短縮、コスト削減などに貢献します。 【特長】 ■高速な解析 ■高精度な解析 ■大規模モデル...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

【全数検査対応】UISの超音波探傷システム

全数検査のご希望はありませんか？UISなら自動化ニーズにお応えします。

検査品を水没させた状態で超音波波形データを取得し、非破壊で素材内部の微細な欠陥を検出します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

パターン外観検査システム

マスター登録方式を採用！16Kラインセンサカメラによる超高解像度画像処…

『パターン外観検査システム』は、モノクロ／カラーラインセンサカメラ （最大16K）により超高解像度の画像を撮像し、オープン・ショート・欠け・ 異物・凹凸などの各種欠陥を高精度に検出します。 検査対象パターン輪郭を直線で囲み、マスタとなる形状を登録し、輪郭の内側・ 外側を個別に検査します。検出強度を個別に設定することが可能。 お客様のニーズにより、卓...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

【事例集プレゼント】画像処理システム構築ソリューション

ソフト・ハードの両面から画像処理検査の最適化を総合的にサポート。導入事…

の選定や、検査装置の設計・組立・搬送・納品、 アフターフォローまで、画像処理検査の最適化をトータルサポートします。 現在、ソリューションの導入事例を進呈中です。 【導入事例】 ■微小欠陥・クラックの検出（電子部品メーカー） ■増産に伴う検査タクトの向上（電子部品メーカー） ■不定形物の全数自動検査（パッケージメーカー） ※導入事例は「PDFダウンロード」よりすぐにご覧いた...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

パターン外観検査システム

12,288×12,000画素の超高解像度画像処理システム

超高解像度のラインセンサカメラにより最大12,288×12,000画素の超高解像度画像を撮像し、オープン・ショート・欠け・異物 ・凹凸 などの各種欠陥を高精度に検出します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム