超高画素 2億5000万画素/1億2700万画素 CXPカメラ

PR超高画素カメラによる広視野角・超高精細な撮像が可能で、各種MV用途に好…

Sony社製 CMOSセンサ(Pregius IMX661/3.6型)を搭載した、1億2700万画素のCoaXPressカメラ「VCC-127CXP6」と、Canon社製CMOSセンサ(Ll8020SAM/APS-H型)を搭載した、2億5000万画素のCoaXPressカメラ「VCC-250CXP1」。どちらも超高解像度を誇り、各種外観検査(液晶・基板・半導体ウエハ・建築物等の欠陥/異物/形状)、...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社シーアイエス

Enovasense Field Sensor

PR高速な不透明膜の厚みマッピング、内部欠陥のエリア検出が可能なレーザーフ…

フランスのEnovasense社のセンサは、レーザフォトサーマル技術を使用した 高性能なセンサで、非接触で不透明体の厚みを測定できます。 本新製品は、従来のシングルポイントセンサと異なり、約１１万点を同時に測定できるエリアセンサです。 不透明体の厚みマッピングだけでなく、表面層下の欠陥、欠け、剥がれの有無を検知できます。 ■特長 　・非接触で下記が測定できます。 　　　☆不透明体の厚みマッピング...

メーカー・取り扱い企業： プレシテック・ジャパン株式会社

【超音波探傷検査】非破壊で素材内部の微細な欠陥を検出

エコー波形表示で縦横の断面状況を確認できる！非破壊で素材内部の微細な欠…

『超音波探傷システム』は、超音波波形データを画像化して画像処理技術にて 欠陥を検出し、欠陥を検出する為の好適な条件（探触子・周波数・搬送系など） を試験により選定します。 長年培った画像処理、ハードウェアのノウハウで超音波探傷を自動検査装置 として展開。 お...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

【事例で解説】外観検査システムの課題と限界

汎用の検査装置では検知できない微細で複雑な欠陥について、実際に当社が行…

外観検査自動化のメリット、検査装置導入時・導入後の課題について、 纏めております。 ・微細化が進む電子回路基板のパターン検査課題 複雑化・微細化していき、検出が難しい電子回路基板のパターン欠陥について、当社で独自開発した検査手法をご紹介します。 ・複数光学条件が必要な外観検査自動化における課題 対象物に対して様々な欠陥検出が必要な検査において、複数照明条件を 利用するケースがご...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム

【全数検査対応】UISの超音波探傷システム

全数検査のご希望はありませんか？UISなら自動化ニーズにお応えします。

検査品を水没させた状態で超音波波形データを取得し、非破壊で素材内部の微細な欠陥を検出します。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社宇部情報システム