• 「JIMA2024 第12回総合検査機器展」出展のお知らせ 製品画像

    「JIMA2024 第12回総合検査機器展」出展のお知らせ

    PRデジタル超音波探傷器、超音波軸力測定制御装置、ポータブルTOFD装置な…

    菱電湘南エレクトロニクス株式会社は、メカトロニクス、高周波技術、超音波探傷技術を活用した システム及び電子機器の設計、製造、販売、保守を行っています。 この度、東京ビッグサイトにて開催される「JIMA2024 第12回総合検査機器展」に出展することとなりました。 超音波探傷器、超音波軸力測定制御装置、ポータブルTOFD装置など デモンストレーションを交えながら展示予定です。 また、新製品のデジ...

    メーカー・取り扱い企業: 菱電湘南エレクトロニクス株式会社 検査計測事業部

  • 超音波スキャニング装置 製品画像

    超音波スキャニング装置

    PR超音波探傷器とデータ処理パソコンでの構成!探傷条件の設定、結果の保存、…

    『超音波スキャニング装置』は、対象ワーク内の欠陥を全没水侵にて検出し、 リアルタイムでデータ収録・画像処理する自動超音波探傷装置です。 検査は、位置情報を基に超音波信号を画像処理し、平面図、 断面図に展開して欠陥の位置、形状をモニタに表示。 内部欠陥、肉厚(厚み)測定、溶接接合部、スパッタ材・ターゲット材などの内部・接合検査など色々な検査に使用できます。 検査結果画像は評価方法に合わせた色表...

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    メーカー・取り扱い企業: 有限会社エヌ・ケイ・システム

  • インキ等のコントラスト測定器 CT-1シリーズ 製品画像

    インキ等のコントラスト測定器 CT-1シリーズ

    インキの粒子/分散状態をコントラストととして簡単操作で自動測定!

    高品質インキの品質管理には不可欠な世界No.1のコントラスト測定器です!...

    メーカー・取り扱い企業: 壺坂電機株式会社

  • 球面収差測定器『LSA-2』 製品画像

    球面収差測定器『LSA-2』

    高解像度CMOSカメラによる画像処理!相対的焦点位置の測定も可能な球面…

    『LSA-2』は、レンズの球面収差を自動測定可能な球面収差測定器です。 相対的焦点位置の測定も可能なほか、ユーザーの測定レンズに 合わせて仕様変更ができます。 また、PCにて簡単に設定でき、制御・データ処理が可能です。 【特長】 ■レンズ...

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    メーカー・取り扱い企業: 壺坂電機株式会社

  • ベイリンググレア測定器『LFM-1シリーズ』 製品画像

    ベイリンググレア測定器『LFM-1シリーズ』

    光源を近赤外に変更可能!カスタマイズをご希望の際はご相談ください!

    『LFM-1シリーズ』は、ISO9358:1994に則した測定方法で レンズフレア率(ベイリンググレア指数)を測定する機器です。 光源をIR-LEDに変更することで、セキュリティカメラ、 スマートフォン、車載カメラ用等、近赤外を使用するレンズに対応。 近赤外対応レンズのベイリンググレア、像面照度比測定が可能です。 【特長】 ■レンズフレア率(ベイリンググレア指数)を測定 ...

    メーカー・取り扱い企業: 壺坂電機株式会社

  • 【外部制御可能】発光面の輝度測定 輝度計LC-5 製品画像

    【外部制御可能】発光面の輝度測定 輝度計LC-5

    蛍光体の微弱な発光から高輝度まで測定 拡散面光源用輝度計

    能で作業効率を向上させます。 外部通信にも対応しデータ出力等可能です(USB準拠)。 また電源は持ち運びに便利な電池駆動(単三2本)とACアダプタの2通り。 重さ300gほどの小型軽量な測定器です 弊社の輝度箱との自己校正機能にご利用頂けます。 また、他社の輝度計との差を補正する機能を有しております。...

    メーカー・取り扱い企業: 壺坂電機株式会社

  • 比像面光量測定装置 KK-4 製品画像

    比像面光量測定装置 KK-4

    レンズ焦点面の周辺光量落ちを自動測定!

    各種レンズの比像面照度を測定 PCにてデータ取得 一眼カメラ用レンズから携帯電話、スマートフォン用のレンズまで、御社の用途合わせて作成...レンズ比像面照度を正確に測定します。 光源部にはTSUBOSAKAのKIDOBAKOを使用。輝度の安定性に優れ、輝度ムラ色温度ムラも少ない安定光源ですので大手レンズメーカー様をはじめ、多数のお客様にご使用いただいております。 レンズ焦点面の周辺光量落ち...

    メーカー・取り扱い企業: 壺坂電機株式会社

  • 絞り面積計 Fナンバテスタ SMD-81T2 製品画像

    絞り面積計 Fナンバテスタ SMD-81T2

    カメラ用レンズの各種絞り口径面積を測定。校正登録できるSENS感度は4…

    本器は、カメラおよび交換レンズの絞り口径面積を測定します。 ・シンクロ接点接触時の絞り口径 ・シャッタレリーズ時の最大絞り口径 ・開放絞り口径 ・絞り動作開始タイミング同期での絞り口径 基準口径との絞り誤差量(●EV)を測定結果として表示します。 標準レンズまたは基準カメラにより校正登録できるSENS感度は4系列 ズームレンズなどの測定に対応。 測定部は垂直設置のほかに...

    メーカー・取り扱い企業: 壺坂電機株式会社

  • 絞り面積計 Fナンバテスタ SMD-100T2 製品画像

    絞り面積計 Fナンバテスタ SMD-100T2

    カメラ用レンズの各種絞り口径面積を測定。校正登録できるSENS感度は4…

    本器は、カメラおよび交換レンズの絞り口径面積を測定します。 ・シンクロ接点接触時の絞り口径 ・シャッタレリーズ時の最大絞り口径 ・開放絞り口径 ・絞り動作開始タイミング同期での絞り口径 基準口径との絞り誤差量(●EV)を測定結果として表示します。 標準レンズまたは基準カメラにより校正登録できるSENS感度は4系列 ズームレンズなどの測定に対応。 測定部は垂直設置のほかに...

    メーカー・取り扱い企業: 壺坂電機株式会社

  • AEマルチテスタ 7PE-330シリーズ  製品画像

    AEマルチテスタ 7PE-330シリーズ

    基準EV値に対するEV誤差(ΔEV)を同時に2チャンネルカウンター

    ・カメラの適正露光量を検査 ・露光時間も同時に測定可能 ・コンパクトカメラにも対応 ・レンズ前球径などに応じて光源部分はカスタム可能...本器はAEカメラのフィルム面露光量(EV)と絞り(FNo.)を、各LV-ISOについて測定し、EVは基準露光量に対する誤差(ΔEV)、絞りはFNo.および基準絞りに対する誤差(ΔEV)、露出時間(msec)、X接点時間(msec)、シャッターの立ち上がり時...

    メーカー・取り扱い企業: 壺坂電機株式会社

  • 光源部と制御部が分離した標準光源装置 輝度箱 製品画像

    光源部と制御部が分離した標準光源装置 輝度箱

    色温度を電動で切替可能な拡散面光源

    本器はデジタルカメラなど、カメラの明るさに対する指示又は露光量などを検査するための拡散面光源です。これによりカメラの感度を調整し揃えることが可能です。 内部に輝度モニターを設ける事で、常に安定した輝度値を出力します。 テンキー入力により任意で低輝度2.5cd/m2〜最高輝度18334cd/m2まで(LV4〜V17)輝度131点自由に可変可能です。 又、RS232Cで外部コントロールできま...

    メーカー・取り扱い企業: 壺坂電機株式会社

  • 【動画公開中】発光面の輝度測定 輝度計LC-5 製品画像

    【動画公開中】発光面の輝度測定 輝度計LC-5

    【操作の様子を動画でご覧ください】蛍光体の微弱な発光から高輝度まで測定…

    能で作業効率を向上させます。 外部通信にも対応しデータ出力等可能です(USB準拠)。 また電源は持ち運びに便利な電池駆動(単三2本)とACアダプタの2通り。 重さ300gほどの小型軽量な測定器です 弊社の輝度箱との自己校正機能にご利用頂けます。 また、他社の輝度計との差を補正する機能を有しております。...

    メーカー・取り扱い企業: 壺坂電機株式会社

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