• LED照明総合カタログ ※特殊環境向け機種などラインアップ! 製品画像

    LED照明総合カタログ ※特殊環境向け機種などラインアップ!

    PR安心の国内メーカー製品!一般向け機種から特殊環境向け機種まで多種多様な…

    当カタログでは、LED照明をご紹介しております。 高天井用コンパクトLEDやライトアップ用LED投光器など 様々な製品を掲載。 それぞれの概要や仕様などについて掲載しておりますので、 ぜひご一読ください。 【総合カタログ掲載内容】 ■蛍光灯 LED照明 ■高天井・投光器 LED照明 ■街路灯 LED照明 ■ソーラーライト・防犯灯 LED照明 ■耐高温用・防爆用 LE...

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    メーカー・取り扱い企業: 重松テック株式会社

  • 小ロット・支給品への特殊印刷請負サービス【印刷事例集配布中】 製品画像

    小ロット・支給品への特殊印刷請負サービス【印刷事例集配布中】

    PR印刷の知識をお持ちでなくても問題ございません! 支給品・小ロットを得…

    当社では特殊印刷資材メーカーとしての経験と社外ネットワークを基盤とし、 プラスチック成型品、金属加工品、ガラス製品等に対しての特殊印刷サービスを提供しております。 シリコン等の特殊素材のご相談も大歓迎です。 ...■対応可能素材 ・プラスチック ・シリコン ・金属 ・ガラス ・木材 ・テキスタイル ■対応加工方法 ・シルクスクリーン印刷 ・パッド印刷 ・ホット...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社特殊阿部製版所

  • 【分析事例】特殊形状試料のSIMS測定 製品画像

    【分析事例】特殊形状試料のSIMS測定

    固定方法の工夫により特殊な形状でも分析可能

    通常、SIMS測定では数mm角で表面が平坦なチップを用いて分析を行いますが、1mm 角以下の小さなチップや特殊な形状の試料についても固定の前処理を施すことで分析が可能です。 微量成分を調べたい試料の中には、微小チップやワイヤー状試料など、通常では分析には適さない形状のものがあります(図1)。このような試料...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】プラスチック容器の表面金属汚染評価 製品画像

    【分析事例】プラスチック容器の表面金属汚染評価

    XRFによる高分子材料中不純物の組成・分布評価

    XRFは構成元素の組成及び分布を評価する分析手法です。特徴として測定に際して特殊な前処理が不要であり、1.2mm~数cmの広範囲において、非破壊で測定できる点が挙げられます。 XRFによる元素分析事例として、薬品保存容器の高分子材料に含まれる金属成分に着目して測定を行い、保管...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】有機EL素子中不純物の深さ方向分析 製品画像

    【分析事例】有機EL素子中不純物の深さ方向分析

    有機EL素子を深さ方向分解能よく評価

    ても、陽極側からSSDP法*により分析しても、深さ方向分解能が低下し、界面から有機層への拡散を評価することは困難でした。(*SSDP法:裏面側からの分析。分析手法詳細編B0013参照。) そこで、特殊加工によって、陰極/有機層界面および有機層/陽極界面を露出させ、そこから有機層を分析することにより、有機層中を高い深さ方向分解能で評価することが可能になりました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】環境制御in-situXAFSによるRuO2触媒評価 製品画像

    【分析事例】環境制御in-situXAFSによるRuO2触媒評価

    着目のガス雰囲気・温度条件下での測定が可能

    in-situ XAFSは、試料周りの環境を着目に応じたガス雰囲気・温度に制御した条件下で、試料の化学結合状態・局所原子構造が評価できます。そのため、触媒等、特殊な環境での状態評価が必要な場合に適しています。本資料では、in-situ XAFSを用いてRuO2粉末を還元雰囲気下で室温から400℃まで昇温させ、RuO2の状態変化を捉えた事例をご紹介します。スペ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [XRF]蛍光X線分析法 製品画像

    [XRF]蛍光X線分析法

    照射X線により発生する蛍光X線を検出し、エネルギーや分光結晶で分光する…

    ネルギーや分光結晶で分光することによって、元素分析や組成分析を行う手法です。 ・測定範囲の全エネルギー(Na~U)が同時に短時間で測定可能 ・未知試料の分析に適している ・非破壊分析 ・特殊な試料を除き、前処理不要、大気中での分析が手軽に行える ・ハンドヘルド型の装置で動かせない大型試料の元素分析が可能 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [PL]フォトルミネッセンス法 製品画像

    [PL]フォトルミネッセンス法

    PL:PhotoLuminescence

    能です。 ・バンドギャップ約3.5eVまでのサンプルを励起することが可能 ・マッピング機能により、広範囲の情報を得ることが可能 ・約10Kまでの測定が可能 ・一般的に非破壊の測定であり、特殊な前処理が不要 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM) 製品画像

    [SEM-EDX]エネルギー分散型X線分光法(SEM)

    電子線照射により発生する特性X線を検出し、エネルギーで分光することによ…

    に付属しており、本資料ではSEM付属のEDXについて解説します。 ・測定範囲の全エネルギー(B~U)が同時に短時間で測定可能 ・検出効率に優れているので、少ないプローブ電流で測定が可能 ・特殊な試料を除き、前処理不要で手軽に分析を行える ・未知試料の分析に適している ・クライオホルダーを用いることで凍結・冷却した状態で測定可能...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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