• 成形機用洗浄剤『アサクリン』 ※有効活用法の紹介資料進呈 製品画像

    成形機用洗浄剤『アサクリン』 ※有効活用法の紹介資料進呈

    PR海外でも安心して使える洗浄剤・アサクリンを最大限に活用して、ロスや異物…

    『アサクリン』は、非常に高い洗浄力によって、 色換え・樹脂換えの時間を大幅に短縮できる成形機用洗浄剤です。 国内外の工場で一気通貫のトータルサポートが可能で、 グローバルフォロー体制で海外工場でも安心してお使いいただけます。 75か国以上で使用実績があり、販売網では32言語に対応しています。 国別に入手可能なグレードや対応内容などを相談いただけるほか、 パージ剤の未使用・品質状態の維持の難しさ...

    メーカー・取り扱い企業: 旭化成株式会社 アサクリン営業部

  • 金検対応の樹脂を使用したSUSハサミ【食品工場の異物混入対策に】 製品画像

    金検対応の樹脂を使用したSUSハサミ【食品工場の異物混入対策に】

    PR【6月のFOOMAに出展】こだわりの切れ味!持ち手の樹脂が金属検出機で…

    アラム株式会社が開発・販売している食品工場向け異物混入対策製品 「MPフーズ」シリーズは、金属検出機で検出可能なゴム・プラスチック製品です。 MPフーズ ステンレスハサミは、ハンドル部に金属検出機で検出できる 材料を使用しています。 国内のはさみメーカーと共同開発し、こだわりの切れ味と使い心地を実現、 またハンドル部が樹脂製でステンレス単体のハサミより軽量なため、 作業者の負担も軽減できます。 ...

    • MPハサミ_青_集合.jpg
    • MPハサミ_青_小.jpg
    • MPハサミ_青_右手用.jpg
    • MPハサミ_赤_右手用.jpg
    • MPハサミ_青_左手用.jpg
    • MPハサミ_青_大.jpg

    メーカー・取り扱い企業: アラム株式会社

  • 【分析事例】300mmウエハ最表面の異物の評価 製品画像

    【分析事例】300mmウエハ最表面の異物の評価

    異物検査装置との座標リンケージ機能で特定異物の評価が可能

    異物検査装置で確認された異物の成分をクリーンルーム設置のTOF-SIMSで特定することが可能です。 CMP洗浄後の異物を評価し、着目の異物から、Cuと炭化水素成分を検出しました。異物周辺には、広範囲で同じ成分が分布していました。このことから、この異物はパーティクルというよりはむしろ、ウォーターマーク状の洗浄残渣であると推定されます。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】表面酸化膜のある異物の状態評価 製品画像

    【分析事例】表面酸化膜のある異物の状態評価

    水酸化アルミニウムAl(OH)3と酸化アルミニウムAl2O3の評価が可…

    金属の異物を定性評価したい場合、最表面のみを分析すると異物表面に存在する酸化膜の情報となってしまうため、異物そのものの情報が得られないことがあります。 TOF-SIMSにより深さ方向に分析を行うことで、酸化...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】樹脂中に存在している異物の評価 製品画像

    【分析事例】樹脂中に存在している異物の評価

    試料の断面加工によりTOF-SIMSで樹脂中異物の評価が可能

    樹脂中に存在する有機系の異物を評価する際、試料や分析の条件によってはそのままの状態での評価が困難な場合があります。そこで、樹脂を断面加工して異物を最表面に露出させることにより、評価が可能となった事例をご紹介します。 エポキシ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】液晶パネルの異物・汚れ成分の同定・推定 製品画像

    【分析事例】液晶パネルの異物・汚れ成分の同定・推定

    ミクロンからセンチオーダーの異物・汚れをイメージとして捉えます

    液晶パネルの量産化において、欠陥(異物・汚れ)を除去することが求められています。そこで、原因となる異物・汚れが何に起因するか調査することは、歩留まり向上に有効です。 液晶パネルの異物・汚れを評価した事例を紹介します。TOF-SIMSで...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】AESの異物分析における注意点 製品画像

    【分析事例】AESの異物分析における注意点

    AES:オージェ電子分光法

    AES分析では、微小異物の最表面の元素組成評価を行うことが可能なため、微小領域における異物分析に有用です。しかし、電子線等のダメージの影響により異物が変化したり消失してしまう可能性があります。 特に、ハロゲン元素等を含む...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ウエハ表面の微小異物分析 製品画像

    【分析事例】ウエハ表面の微小異物分析

    加工無しで30nmサイズの組成分析が可能

    AES分析は最表面から数nm深さまでの組成情報を得る手法であり、製造工程において表面に生じた汚染や異物の組成を調べる際に有効な分析です。基板などの母材の情報を検出することが少ないため、異物など異常箇所のみの情報を前処理加工などを行わず簡便に調べることが可能です。また面分析を行うことで元素分布像を得る...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】粉体異物の定性分析 製品画像

    【分析事例】粉体異物の定性分析

    手法を組み合わせることで、複数種類の成分情報を得ることが可能です

    異物の分析では、異物の大きさや予想物質、下地等の状態によって分析手法を適切に選択することが重要です。実体顕微鏡観察、元素分析(XRF)、結合状態分析(XRD, FT-IR)を組み合わせることで、粉体に含まれる複数種類の成分について知見を得ることが可能です。 本資料では、上記手法を用いて粉体異物の定性分析を行った事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】プリント基板上有機物系異物の評価 製品画像

    【分析事例】プリント基板上有機物系異物の評価

    適切なサンプリングと顕微測定で異物周辺情報の影響を軽減

    サンプリングを併用した顕微FT-IR分析が有効な異物の評価事例を紹介します。 下地の影響がほとんど無い電極上異物はフラックスと同定されましたが、プリント基板上異物からは異物由来の情報が取得できませんでした(図1)。無機結晶上にサンプリングを行うこと...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】Ramanによる金属部材上の異物分析 製品画像

    【分析事例】Ramanによる金属部材上の異物分析

    微小領域を狙った測定が可能

    製造装置や部品に付着した異物は、製造品の不良や装置動作の不具合などに影響する場合があります。異物を適切に分析・評価することで、発生原因を究明し、不具合を改善することができます。 本資料では、金属部材上に付着した異物の成分をR...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】マイクロサンプリングツールを用いた異物分析 製品画像

    【分析事例】マイクロサンプリングツールを用いた異物分析

    下地・基板の影響なく異物の成分を同定します

    異物分析について、従来は下地の影響により顕微FT-IR分析やラマン分析では解析が困難でしたが、マイクロサンプリングツールの導入により、その影響を低減することが可能となりました。 2種の異物に関する解析例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】熱履歴を考慮した異物の成分同定 製品画像

    【分析事例】熱履歴を考慮した異物の成分同定

    熱履歴を揃えた標準試料の活用提案

    ポリプロピレン(PP)などの高分子材料は、大気中で加熱されると大気中の酸素や水分と反応し、分子構造が変化します。そのため、異物や付着物が高分子材料の可能性がある場合、測定サンプルと同じ環境で処理した標準物質を比較データとして用いる必要があります。 熱処理(200℃/30分)によってPP標準物質がどのように変化するかを調...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】シームレスカプセルの三次元構造観察および膜厚解析 製品画像

    【分析事例】シームレスカプセルの三次元構造観察および膜厚解析

    X線CTによりシームレスカプセルの評価・解析が可能

    ルとは、球形の継ぎ目のないカプセルで、内部に粉末や液体を内包することができ、医薬品などに利用されています。 本事例では、X線CTにてシームレスカプセルの3D構造を評価しました。その結果、皮膜内部に異物が確認されました。また、皮膜の膜厚分布を3Dイメージおよびヒストグラム化しました。このようにX線CTを用いることで、内部構造の確認、異物の調査、膜厚分布等を非破壊で評価可能です。 測定法:X線CT...

    • CT接近画像2.png
    • シームレスカプセル模式図.png
    • 皮膜の膜厚分布.png
    • 皮膜の膜厚分布_ヒストグラム.png

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】粘着シートによる電子部品の汚染評価 製品画像

    【分析事例】粘着シートによる電子部品の汚染評価

    有機汚染の定性・定量・分布を複数手法の組み合わせで評価

    半導体デバイスの製造工程では、ダイシング用テープなど様々な粘着シートが使用されます。粘着シートは異物・汚染の原因となることがあります。そこで、本事例ではTOF-SIMS・SWA-GC/MSを用いて複合 的に評価した結果をご紹介します。TOF-SIMSでは、粘着シート各材料の定性を行うことで、異物...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ウエハ表面の金属・有機物汚染評価 製品画像

    【分析事例】ウエハ表面の金属・有機物汚染評価

    複数手法の分析結果より、複合的に評価

    製造装置や部品に付着した異物は、製造品の不良や装置動作の不具合などに影響する場合があります。 異物を適切に分析・評価することで発生原因を究明し、不具合を改善することができます。本資料では、Siウエハ表面に付着した汚染をICP...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法 製品画像

    [TOF-SIMS]飛行時間型二次イオン質量分析法

    試料表面の構造解析を行う手法です。他の分析装置に比べ表面に敏感であるこ…

    表面に敏感であることから、最表面の有機汚染の同定などに適した手法です。 スパッタイオン源を用いて、深さ方向に無機・有機物の分布分析が可能です。 ・有機・無機化合物の構造解析・同定が可能 ・異物検査装置の座標データとリンケージが可能 ・ミクロンオーダーの微小異物から数cmまでの定性が可能 ・最表面を感度よく分析することが可能 ・イメージ分析が可能 ・深さ方向分析の定性分析が可能...

    • 打ち合わせ.jpg
    • セミナー.jpg

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • ご希望者全員プレゼント!医薬品・医療機器 MST分析事例集 製品画像

    ご希望者全員プレゼント!医薬品・医療機器 MST分析事例集

    医薬品・医療機器に関する分析事例をまとめて掲載!ご希望者全員に無料プレ…

    クライオSEMによる塗膜乾燥過程の構造観察    ・液状・半固形製剤の形態観察    ・GC/MSによる未知成分の定性分析 ■医療機器分野    ・歯のエナメル小柱の断面観察    ・粉体異物の複合解析    ・注射針表面のコーティング膜の状態評価    ・ステンレス不動態皮膜の深さ方向状態評価とCross Section    ・医療デバイス表面の汚染評価    ・医療機器の洗...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】二次電池 負極粒子表面の分布評価 製品画像

    【分析事例】二次電池 負極粒子表面の分布評価

    一粒の粉体表面に分布する成分の評価が可能

    確認できました。 飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)は、二次イオンのマススペクトルから表面の有機物・無機物の定性・イメージに適した手法です。分解能よく分析することが可能なため、微小異物やしみなどの分布評価に有効です。 測定法:TOF-SIMS 製品分野:二次電池 分析目的:組成分布評価 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    • C0497_試料構造.png
    • C0497_光学顕微鏡写真.png

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】食品中混入成分のスクリーニング検査 製品画像

    【分析事例】食品中混入成分のスクリーニング検査

    食品中に農薬・薬物が混入していないかを高精度に分析します

    食品への異物混入事件が度々世の中を騒がせており、平成26年1月に実施された内閣府の「消費者行政の推進に関する世論調査」で最も関心が高い消費者問題は「食品の安全性」という結果となりました。 食品の安全性を担保す...

    • 検査対象成分の一例.png
    • C0350サムネ.png

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】繊維の変色原因調査 製品画像

    【分析事例】繊維の変色原因調査

    繊維表面の有機・無機成分の評価が可能です

    TOF-SIMSは、着目の箇所を局所的に分析し、得られる質量スペクトルにより元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時にできるため、各工程における異物・汚れ・変色の原因究明に非常に有効な手段です。また、イメージ分析も可能なため、有機物の分子情報の可視化も可能です。 本資料では、繊維製品であるクリーンスーツの変色の解析結果をまとめます。TOF-...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】フラックスの洗浄残渣評価 製品画像

    【分析事例】フラックスの洗浄残渣評価

    微小・極薄の残渣をイメージとして捉えます

    入に伴い、フラックス成分も改良(活性度が高い、熱耐性がある等)が進み、腐食性が大きくなり、残渣の問題も重要度を増しています。そのため、フラックスを除去することが求められています。プリント基板電極部の異物について、TOF-SIMSを用いた分析を行った結果、フラックスの成分が検出されました。...

    • 分析箇所.png
    • 光学顕微鏡写真.png
    • アビチエン酸.png

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】リチウムイオン電池の高分解能X線CT観察 製品画像

    【分析事例】リチウムイオン電池の高分解能X線CT観察

    非破壊で電池内部の層構造・異常箇所を確認できます

    利用されています。 本資料では、ラミネート型のリチウムイオンポリマー電池をX線CTで分析した事例を紹介します。X線CTを用いることで、20mmx40mmの電池を破壊せずに内部構造を観察し、数μmの異物や空隙の有無・位置を確認することが可能です。 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】化粧品の非破壊分析 製品画像

    【分析事例】化粧品の非破壊分析

    X線CTにより製品の内部構造を非破壊で評価可能

    X線CTは非破壊で試料の内部構造を測定できる分析手法であり、化粧品内部の異物、空隙、亀裂などの異常箇所の調査や、パール剤等の分散確認などの出来栄え評価に適しています。 本事例ではファンデーションや口紅をX線CTで測定し、内部の構造を非破壊で評価しました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】白色粉体の複合分析 製品画像

    【分析事例】白色粉体の複合分析

    FT-IR分析とXRF分析による粉体の同定

    異物等の未知試料を分析・同定する場合、複数手法での測定結果から複合的にデータを解析することが有効です。 振動分光であるFT-IR分析と、大気中での元素分析手法であるXRF分析とを組み合わせて評価し、2種類の白色粉体の同定を行った事例をご紹介します。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】プリント基板上有機物系異物の評価 製品画像

    【分析事例】プリント基板上有機物系異物の評価

    適切なサンプリングで異物周辺情報の影響を軽減

    ラマン分光分析は微小異物の定性分析に有効な手法です。異物の下地の情報も併せて検出してしまい評価が困難となる場合には、サンプリングを併用することにより測定が可能となります。 下地の影響のほとんど無い電極上異物はフラックスと...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】AES・SEM-EDXによるCu表面変色部の評価 製品画像

    【分析事例】AES・SEM-EDXによるCu表面変色部の評価

    SEM観察を行いながら検出深さの浅い元素分析が可能

    金属表面の変色や異物の簡便的な調査にはSEM-EDX分析やAES分析が適していますが、変色や異物が薄い・小さい場合は、表面のごく浅い領域(4~5nm程度)の情報が得られるAES分析が有効です。 MST保有のAES装置...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】TOF-SIMSによる微小領域の定性・イメージ分析 製品画像

    【分析事例】TOF-SIMSによる微小領域の定性・イメージ分析

    サブμmオーダーの異物、微小領域の定性・イメージ分析が可能

    TOF-SIMSは、着目箇所を局所的に分析して得られる質量スペクトルにより元素分析と有機物・無機物の分子情報の解析が同時に可能なことから、異物や微小領域の評価に有効です。 本資料は、サブμmオーダーの微小領域の分析例をまとめます。 層構造の試料上にFIBでスパッタ加工を行ったサンプルを、TOF-SIMSで測定をしました。サブμmオーダ...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】ウォーターマークの無機・有機同時評価 製品画像

    【分析事例】ウォーターマークの無機・有機同時評価

    微小特定箇所の無機成分・有機成分を同時に測定

    無機物の同時評価、微小領域に対応、最表面を感度よく分析できるなどの特徴がありますので、洗浄工程での残渣調査などに力を発揮します。 Siウェハ上で純水を乾燥した事例を紹介します。光学顕微鏡では点状の異物や曇りがわずかに見えるだけです。TOF-SIMSで測定した結果、汚れ部では、炭化水素、PDMS、アミドなど自然に吸着しやすい有機成分が凝集していることがわかりました。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

1〜27 件 / 全 27 件
表示件数
30件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >
  • 4校_0513_tsubakimoto_300_300_226979.jpg
  • bnr_2403_300x300m_ur-dg2_dz_ja_33566.png

PR