約１秒で結果を出す！高圧1500Vの太陽光発電のIV計測

PR約１秒で結果を表示する短時間計測が可能！発電システムの竣工点検・定期点…

『イプシロン1500V』は、高圧化する太陽光発電システムの メンテナンスに対応したI-Vカーブトレーサーです。 PVアナライザ「イプシロン400/1000」の特長を引き継ぎながら、 1500[V]計測を実現しました 【特長】 ■短時間計測（結果表示まで約1秒・日射や影の急変の影響を受けにくい） ■シンプルな操作性（事前設定が必要なくワンボタンで計測可能） ■本機と計測ユニット...

メーカー・取り扱い企業： 日本カーネルシステム株式会社 本社

短絡耐量試験の概要および特長

パワー半導体の信頼性試験における短絡状態や試験の設計、測定回路について…

「短絡耐量試験」は、負荷短絡の状態でデバイスをオン状態にし、 破壊に至るまでの時間Tscを測定する試験です。 破壊の過程で、パッケージが大音響で破裂する場合もあり、 危険を伴います。 パワー半導体を使った機器を設計する場合に負荷短絡状態になっても デバイスが破壊することが無い様に、保護回路を設ける必要があり、 Tscより十分短い時間で、保護回路が動作するように設計します。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社クオルテック

短絡耐量評価・解析レポート

短絡耐量性を測定し、故障メカニズムを明らかにします！

株式会社エルテックは『短絡耐量評価・解析レポート』を販売しています。 短絡故障の瞬間に爆発する他のSiC MOSFETと比較して、 INFINEON CoolSiC MOSFETは爆発することなくソフトに故障します。 このレポートでは、短絡耐量性を測定し、故障メカニズムを明らかにしています。 【特長】 ■試験測定データの結果と先端SiCトランジスタの短絡耐量を制限する 　物...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社エルテック

高電圧絶縁信頼性試験装置『HVUαシリーズ』

高電圧絶縁計測＋100n秒以下の高速イベント収録が可能！筐体デザインも…

『HVUαシリーズ』は、部分放電による瞬間的な電流変化も検出可能な 高電圧絶縁信頼性試験装置です。 最大4000Vの印加電圧で高電圧デバイスのTDDB試験、インバーター回路基板等の エレクトロケミカルマイグレーション試験、各種高電圧部品の絶縁信頼性試験 などにご活用頂けます。 また印加電圧は、1チャンネル単位で100V～4000Vの間で任意に設定可能。 1000V、2000V、...

メーカー・取り扱い企業： J-RAS株式会社