結晶 | イプロスものづくり

PRサブミクロンから塊状まで幅広くカスタマイズ可能なSiOパウダー。LiB…

当社は、リチウムイオン電池（LiB）負極材料などとして活用可能な『一酸化ケイ素（SiO）』を提供しています。粉末状（1～100μm）、粒状（1～5mm）、塊状（50～200mm）に対応し、サブミクロンレベルまでカスタマイズ可能です。 1μmの粉末でSiO純度99.8％、5μmの粉末でSiO純度99.9％などの製品事例があります。【特長】 ■製造方法：結晶化学気相成長法 ...

メーカー・取り扱い企業：日本NER株式会社

EBSD法によるCu結晶解析

Cu板における圧縮前後での変化を観察！圧縮前後の結晶粒径の半化を比較で…

EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布や応力ひずみ等の材料組織状態を調べる手法です。 Cu板における圧縮前後での...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

粉砕機「タブレットブレンダー TB-1」[硬い錠剤・結晶]

硬い錠剤や結晶もワンタッチ操作！短時間で非常に細やかで均一な微粒子…

【特徴】 ◆高級ステンレスカッターを組み込んだ特別設計の粉砕ベース部硬い錠剤や結晶もワンタッチ操作で、短時間に非常に細やかで均一な微粒子に粉砕！ ◆粉砕槽とカッターの間隔が極めて狭く、一種の摺り潰し効果を発揮 ◆カッターは一体型の4枚刃を採用 ◆カップは肉厚で透...

メーカー・取り扱い企業：大阪ケミカル株式会社

技術情報誌 201905-01 高空間分解能の結晶方位解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 TEMベースの結晶方位解析システム“ASTAR”を用いると、SEMをベースにしたEBSDよりも高い空間分解能が実現可能である（各種EBSD法の空間分解能が数十 nm程度に対してASTARを用いたACOM-TEM法では...

メーカー・取り扱い企業：株式会社東レリサーチセンター

EBSD解析

結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能！EBSD(電子線後方散乱回折)法を…

EBSD法とは、試料の持つ結晶構造の情報を基に連続的に取り込んだパターンの結晶方位を算出することにより、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を解析する手法です。金属やセラミック等の結晶質のものは、立方体等の結晶格子...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【分析事例】医薬品の結晶多形評価

結晶多形の構造評価が可能です

医薬品の大多数は結晶であり、複数の結晶形を持つことが知られています。同一の物質であっても結晶形により溶解性などの物理化学的な性質が異なり、医薬品の有効性や安全性にも影響を及ぼすため、結晶形の同定が非常に重要です。本...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【試験】X線回折分析

対象油種は、その他スラッジ・溶剤等！X線回折の原理を利用して試料の結晶…

当社で行う、「X線回折分析」試験をご紹介いたします。 X線回折の原理を利用して試料の結晶構造を観察し、無機化合物を定量する試験。X線回折で得られた結果と蛍光X線分析(K521)で得られた測定結果を併せて解析することにより、成分分析を行うことができます。ご用命の際は、当社...

メーカー・取り扱い企業：株式会社エス・ブイ・シー東京

【分析事例】CIGS薄膜太陽電池特定結晶粒の評価

任意断面のEBIC測定で特徴があった箇所の直交断面観察

EBICとEBSDで電気的性質と結晶の関連性についての知見が得られますが、情報の深さが異なります。EBIC分布測定で電気的性質が特徴的であった箇所について、直交断面を作製し、奥行き方向のSTEM像観察を行いました。また、各結晶粒につい...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】HfZrOx膜の結晶構造同定・含有割合の算出

XRD・XAFSによる複合解析で、より詳細な評価が可能

high-k材料や強誘電体として注目されているHfZrOx膜は、結晶構造によって誘電率等の物理的性質が大きく変化することから、結晶構造の同定・各結晶構造の含有割合の算出が重要な評価項目です。通常XRDやXAFSによって評価可能ですが、一方の手法だけでは詳細な解析...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】XRD・EBSDによるGaN結晶成長の評価

断面マッピングにより、GaNの結晶成長の様子を評価可能

窒化ガリウムGaNは、熱伝導率が大きい点や高耐圧といった特性のため、LEDやパワーデバイスなどの材料として用いられます。それら製品の製造工程では、デバイス特性に影響を与える結晶欠陥の無い、高品質なGaN結晶の作製が求められます。本資料では、c面上に形成したGaN基板（c-GaN基板）上に、c-GaN結晶を高速気相成長させたサンプルの結晶状態を評価した事例をご紹介します...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 202001-02 酸化ガリウムの結晶構造解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

材料として注目を集めており、近年研究が盛んになってきている。半導体デバイスの信頼性、特性改善にはプロセス技術の最適化が必要であり、その評価方法が重要となる。本稿ではエピタキシャル膜の品質評価に必要な結晶構造解析と、デバイス特性への影響が大きいイオン注入プロセスにおける不純物、欠陥、キャリア濃度解析を行った事例を紹介する。【目次】１．はじめに２．断面TEM、平面STEMによる結晶構造解析...

メーカー・取り扱い企業：株式会社東レリサーチセンター

EBSD分析（電子後方散乱回折法）

容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

EBSDを利用して結晶性試料の方位解析ができる手法です。電子回折法より容易にかつ広い領域の結晶情報を得ることができます。 EBSP：Electron Backscatter Pattern、SEM-OIM、OIMと...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】走査イオン顕微鏡によるCu表面の結晶粒観察

金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を得ることが可能です

走査イオン顕微鏡（Scanning Ion Microscope：SIM）は固体試料にイオンビームを照射し、発生する二次電子を検出する手法です。二次電子は各結晶粒の結晶方位に応じたコントラストを生じるため、SIMによってCuやAlなどの金属多結晶の結晶粒の大きさや分布に関する知見を簡便に得ることが可能です。本資料では測定例としてCu表面をSIMによって観察...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

構造生物学研究用ツール『蛋白質結晶マウント・測定用ツール』

高分解能のX線回折データ収集、素材由来のX線バックグラウンドの低減に…

蛋白質結晶のループアウト時に母液も表面張力によって過剰にループ内に残留しますが、この母液は凍結時に結晶に圧縮応力を与え、結晶性を劣化させるため母液は少なくする方が結晶の分解能は改善されます。『...

メーカー・取り扱い企業：プロテインウエーブ株式会社

【分析事例】微小部XRD分析による結晶構造評価

微小領域のXRD測定が可能

照射X線をΦ400μmに絞ってXRD測定を行うことで、面全体ではなく所定の領域を狙って結晶情報を取得した事例をご紹介します。プリント基板サンプルのXRD測定の結果、測定箇所（１）～（3）全てでCuとBaSO4が検出され、電極である測定箇所（１）ではAu由来のピークが検出されました。X...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

EBSD法による解析例

EBSDパターン(菊池パターン)、金ワイヤーボンド接合部の解析例をご紹…

EBSD(電子線後方散乱回折)法は、電子線照射により得られた反射電子回折パターンから個々の結晶の方位情報を取得しマップ化したもので、さらに定量的、統計的なデータとして結晶方位(配向性)のみならず結晶粒分布や応力ひずみ等の材料組織状態を調べる手法です。例えば、SEM中で試料を大...

メーカー・取り扱い企業：株式会社アイテス

【分析事例】リートベルト解析法による粉末結晶材料の構造精密化

粉末X線回折データから結晶構造の精密化が可能です

オン二次電池の正極活物質として利用されているLi(Ni,Mn,Co)O2の粉末X線回折データに対するリートベルト解析事例を紹介します。シミュレーションによって実測の粉末X線回折データを再現するような結晶構造モデルを求めることで、格子定数・各サイトの占有率・カチオンミキシングの割合などの結晶構造パラメーターを精密に算出することが可能であり、これらを基に材料物性を考察することができます。...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】CIGS膜のpn接合評価および結晶粒評価

SEMによる電子線誘起電流法・結晶方位解析

CIGS薄膜多結晶太陽電池は低コスト次世代太陽電池として期待されています。大面積化、高品質化のための開発が進められています。多結晶薄膜の特性を評価するため、EBICによるpn接合の評価・EBSD法による結晶粒評価を同...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

高精度・高速X線結晶方位測定装置　Omega-Theta

あらゆる単結晶に対応　Flagship X-ray Orientati…

●わずか10秒の高速測定 ●高精度測定<0.003°/<0.03°(1σ) ●試料水平型ゴニオメーター搭載 ●結晶方位・Φスキャン・ロッキングカーブ測定 ●モノクロメーター等の拡張光学系オプション ●ウェハー方位チェック及びマッピング ...

メーカー・取り扱い企業：スペクトリス株式会社マルバーン・パナリティカル事業部

低波数領域プローブ型ラマン分光法 CBZ結晶転移のリアルタイム

低波数領域のラマンスペクトルを使って主成分解析をおこなった結果，結晶転…

製薬業界では，複数の結晶構造を有する原薬があり，医薬品の知的財産権や結晶多形に依存する溶解度など異なる物理化学的特性に影響を与えると言われている．さらに医薬品のバイオアベイラビリティに影響を与えることが知られ先発，後発，医...

メーカー・取り扱い企業：株式会社テックアナリシス

SiC結晶転位高感度可視化装置 XS-1

SiCウェーハ等の内部に存在する結晶欠陥や内部歪みを、高感度かつリアル…

XS-1はパワーデバイス用半導体として注目されているSiCウェーハなどの内部に存在する結晶由来の欠陥（マイクロパイプ、貫通刃状転位、貫通螺旋転位、基底面転位、積層欠陥、インクルージョンなど）を高感度でリアルタイムに可視化する装置です。可視光領域を使用するレーザー検査装置あるいは偏光顕微鏡...

メーカー・取り扱い企業： Mipox株式会社

グラフェン結晶薄膜・表面分析装置

MBE成膜機構や表面熱分析機構、RHRRD結晶構造解析システムなどで構…

当製品は、「MBE法」と「表面熱分解法」を併用したグラフェン結晶薄膜成長機構とRHEED/LEED表面分析機構を連結したinsituシステムです。 6H-SiC微傾斜([1-100]4°off]基板の(0001)面(Si面)を用いて、グラフェンの成...

メーカー・取り扱い企業：ケニックス株式会社

【スペクトラル分析用】X線分光結晶

強力な定性的/定量的分析手法！様々な分光結晶の供給

当社で取り扱う、「X線分光結晶」をご紹介いたします。照射後にサンプルから放出されるX線のスペクトル分析は、強力な定性的/定量的分析手法です。湾曲プレートは、特注のホルダーを伴い、提供いたします。また、ヨハ...

メーカー・取り扱い企業： Luxium Solutions Japan 合同会社

技術情報誌 202301-01 結晶性医薬品のテラヘルツ

分子性結晶から成る医薬品のテラヘルツ分光スペクトルに対して、第一原理計…

】テラヘルツ分光によって得られる吸収スペクトルは、水素結合や分子間相互作用に関連した分子間振動を含む分子全体にわたる振動を反映しており、ピークの帰属が複雑かつ難解である事が多い。本稿では、分子性結晶から成る医薬品のテラヘルツ分光スペクトルに対して、第一原理計算を用いて詳細に振動モードを解析した事例を紹介する。【目次】１. はじめに２. 計算方法３. バルビタールの振動モード解析...

メーカー・取り扱い企業：株式会社東レリサーチセンター

【分析事例】IGZO 薄膜の結晶性・膜密度評価

酸化物半導体のXRD・XRR分析事例

透明酸化物半導体であるIGZO薄膜はディスプレイ用TFT材料として研究開発が進んでいます。 IGZOは膜の組成・酸素欠損の有無・結晶性で大きく特性が変化する材料でもあり、膜質との相関を考慮することが重要です。加熱温度の異なる3種類のIGZO薄膜の結晶性・膜厚・膜密度をXRD・XRRにて測定し、比較を行った事例をご紹介します。高温...

メーカー・取り扱い企業：一般財団法人材料科学技術振興財団　MST