一酸化ケイ素（SiO）塊・粉末

PRサブミクロンから塊状まで幅広くカスタマイズ可能なSiOパウダー。LiB…

当社は、リチウムイオン電池（LiB）負極材料などとして活用可能な 『一酸化ケイ素（SiO）』を提供しています。 粉末状（1～100μm）、粒状（1～5mm）、塊状（50～200mm）に対応し、 サブミクロンレベルまでカスタマイズ可能です。 1μmの粉末でSiO純度99.8％、5μmの粉末でSiO純度99.9％などの製品事例があります。 【特長】 ■製造方法：結晶化学気相成長法 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本NER株式会社

EO-Qスイッチ ナノ秒 DPSSレーザー

距離測定などのアプリケーションに最適なDPSS EO-Qスイッチナノ秒…

ァイバ カプラ(オプション) ■ 長時間使用においても安定した性能 LD励起固体(DPSS)レーザーであり、527 nmで高エネルギーと高繰り返し周波数をご提供します。 高品質のNd：YLF結晶とQスイッチの使用により、50 mJ @ 1 kHz, パルス幅 200 nsを実現しました。 科学研究における広い分野、産業および軍事用途、特に、高いシングルパルスと高い平均出力を必要とする...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本レーザー

厚み・うねり計測装置(非接触）

医用/理化学用途 マイクロ流路デバイス等での厚み・うねりでお困り毎あり…

（光干渉断層像）技術を応用したガラスなど透明体の非破 壊断層計測装置です。計測用途に応じてペン型測定ユニットや平面測定システム、曲面測定システムを取り揃えています。 【特　徴】 ガラス、樹脂、結晶体など透明体の平面から不定の幅広い形状に対応できます。 0.03～10mmのロングレンジ計測、分解能は0.2μm以下です。...

メーカー・取り扱い企業： パルステック工業株式会社

非接触透明体厚み・うねり計測装置　”　ＨＭ－１０００　”

低コスト、ポータブルなガラス厚み計測装置 ※独自の深度方向スキャン方…

（光干渉断層像）技術を応用したガラスなど透明体の非破 壊断層計測装置です。計測用途に応じてペン型測定ユニットや平面測定システム、曲面測定システムを取り揃えています。 【特　徴】 ガラス、樹脂、結晶体など透明体の平面から不定の幅広い形状に対応できます。 0.03～10mmのロングレンジ計測、分解能は0.2μm以下です。...

メーカー・取り扱い企業： パルステック工業株式会社