一酸化ケイ素（SiO）塊・粉末

PRサブミクロンから塊状まで幅広くカスタマイズ可能なSiOパウダー。LiB…

当社は、リチウムイオン電池（LiB）負極材料などとして活用可能な 『一酸化ケイ素（SiO）』を提供しています。 粉末状（1～100μm）、粒状（1～5mm）、塊状（50～200mm）に対応し、 サブミクロンレベルまでカスタマイズ可能です。 1μmの粉末でSiO純度99.8％、5μmの粉末でSiO純度99.9％などの製品事例があります。 【特長】 ■製造方法：結晶化学気相成長法 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本NER株式会社

ムラビューワー

ナノクラスの微細な変化も見逃さない！半自動で欠陥を判別して可視化するこ…

」欠陥を「くっきり・鮮やかに」に 確認できる新感覚のスコープです。 ガラス・水晶・サファイア等の表面に残るナノサイズの微細な 研磨痕・オレンジピール・スクラッチや内部にある微細な 脈理・結晶欠陥等も、目視による検査・評価が可能になり、表面粗さ の管理・研磨条件の設定、蒸着後の歩留まりが確実に向上します。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社三明 本社、東京支店、大阪支店、神奈川営業所、山形営業所、浜松営業所、名古屋営業所、長野営業所、八戸営業所

自動外観検査装置

サブミクロンレベルの欠陥(傷・異物)の自動マッピングします

ライン検査で対応できない欠陥の検査 ■今まで目視検査していた欠陥の検査 ■薄膜のピンホール、線傷の検査 ■透明電極パターン検査・測長 ■Si・サファイア・ウェハの傷・異物検査、外周検査 ■結晶成膜面の異常検査 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ...

メーカー・取り扱い企業： アイゲート株式会社 本社

焼入硬化層深さ測定装置 SH-67

焼入硬化層深さ測定の省力化・省コスト化で業務を効率化！

焼入硬化層深さ測定装置SH-67は、超音波を利用して高周波焼き入れ層と母材層との結晶粒の違いを 反射エコーから読み取り、硬化層深さを非破壊で計測しデジタル表示する装置です。 測定品に応じて探触子及び探触子ホルダーを選定すれば、硬化層と母材層の境界を識別しマルテンサイト ...

メーカー・取り扱い企業： 神鋼検査サービス株式会社

事業案内　検査事例の紹介「太陽電池」

トレンド・センシング技術によって、エンボス加工の影響を受けずに検査可能…

【特徴】 ◯薄膜・結晶シリコン素材はもちろん各種パネルの検査 ◯セル、モジュール、アレイなど各種工程での検査 ◯太陽電池のカバーガラスや、ITO成膜ガラスなども検査可能 ◯トレンド・センシング技術によって、エンボス...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社テクノス

半導体ウェハ AI自動外観検査装置『アナモル社NuLMiL連携』

塗って覚える色塗り外観検査AIで、ウェハ検査の常識が変わる。 目視困…

当製品は、最先端AIを活用した半導体特化型自動外観検査装置です。 裸眼では確認が困難であったガラス・水晶・サファイアの表面に残るナノサイズの微細な研磨痕・オレンジピール・脈理・結晶欠陥などを、自動で検出することが可能になります。 検出した欠陥は、欠陥種別ごとに分類することができます。 【検出例】 ■スクラッチ ■クラック ■ディンプル ■ウォーターマーク ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社Anamorphosis Networks