フッ素樹脂厚膜焼付ライニング加工

PR厚膜で耐食性・耐久性に優れたライニング！納期3日間～の短納期が可能

当社では、フッ素樹脂厚膜焼付ライニング加工を行っております。 強酸、強アルカリ性の薬液や腐食性ガスから基材を守り、 付着防止、防汚対策に好適で、付着しても簡単に除去が可能。 また、一体で継ぎ目がない為、攪拌羽や複雑な形状でも安心して使用でき、 優れた撥水、撥油性により薬液やパーティクルの残留を防止します。 【特長】 ■耐薬品性 ・強酸、強アルカリ性の薬液や腐食性ガスから基...

メーカー・取り扱い企業： サーフ工業株式会社

【資料進呈】抵抗器の廃盤でお悩みの方必見！抵抗器の代替サポート

PR廃盤や生産・供給停止など万が一のリスクに備えていますか？抵抗器の代替え…

当資料は、抵抗器の代替えをサポートする抵抗器参考互換資料です。 既存品の廃盤はもちろん、何らかの原因で供給停止に陥った際のリスクヘッジは重要です。 特定の国や工場に供給元が集中していると、”万が一”の事態が起きたときに納期に大幅な遅れが出てしまう可能性も… 当資料では炭素皮膜固定抵抗器をはじめ、巻線固定抵抗器や、セメントケース皮膜固定抵抗器などを掲載。 同等品として個別特性を保証するものでは有り...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社利久電器 本社

三次元光屈折率・膜厚測定装置　プリズムカプラ　SPA-3DR

試料のX軸・軸・Z軸の光屈折率を回転しながら測定！FPD用フィルムやS…

Sairon Technology, Inc. 三次元光屈折率・膜厚測定装置　プリズムカプラ　SPA-3DRは、試料のX軸・Y軸・Z軸の光屈折率を回転しながら測定します。測定対象は透明フィルム、透明フィルム上の薄膜、石英、液体などがあり、FPD用フィルム、SiO2等...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツボー

膜厚調整トリミング装置

独自に開発したイオンソースを使用し、優れた膜厚均一性を達成します。

早い反応時間（切削量に応じて） ０エッチング可能 DCベースソース（グリッドレス、フィラメントレス）でシンプルなメンテナンス 適用例: SAWフィルターの温度補償層（SiO2）の膜厚調整、LTO,AlN膜等の膜厚調整 AlN, LTO等圧電膜の膜厚、周波数調整 その他導電体、非導電体膜の膜厚調整 納入実績: 日本：複数台 海外：多数台納入 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツボー

インライン向け非接触膜厚測定装置

金属コイル、金属コンテナ上の透明膜、不透明膜、ウェット膜、ドライ膜の厚…

・インライン対応（ばたつきがあっても問題なし）　　　　　 ・非接触で塗料、コーティング剤の厚みを測定　(測定可能膜厚：0.2～250um) ・ウェット膜、ドライ膜の両方を測定可能　　　　　　　 ・塗料/コーティング剤のコストを削減可能　　　　　　 ・生産スループットの向上　　　　　　　　　　　　　　　　　　...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツボー

Dynavac社天体望遠鏡用成膜装置

2 m以上の望遠鏡基板に光学多層膜を成膜（スパッタ、蒸着）します。

Dynavac社は望遠鏡へのコーティングにおいて、リーディング企業です。 ・スパッタと蒸着による成膜 ・様々な鏡の形状にあわせます ・膜厚均一性：±5 %未満 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツボー

小型スパッタリング装置

コンパクト設計で省スペースを実現！大学や民間の研究室に最適なスパッタリ…

【主な特長】 コンパクト設計により省スペース化を実現 RF/DC電源が可能 優れた膜厚均一性 タッチパネル(PLC)による簡単操作 大学の研究室や民間の研究開発に最適...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツボー

粒子用 ALD （原子層堆積）装置 / FORGE NANO社

粒子専用のALD（原子層堆積 Atomic Layer Deposit…

研究開発向け粒子用ALD（原子層堆積）装置で様々な開発用途に活用できます。ナノスケールの粒子の成膜をミリグラムからキロまでプロセス可能です。　 ■流動床を含めた手法により膜厚を均一にコントロール ■３種類の容量のリアクターサイズ ■複数のプレカーサーを個別に温度コントロール ■多様な粒子材料へ多様な膜の成膜が可能 ■カスタムレシピーを容易に作成し自動運転 ■粒...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツボー

光損失測定装置

プリズムカプラ式 光損失測定装置 (世界最高精度0.01dB/cm達成…

●光導波損失・測定可能精度：0.01dB/cm (連続測定法・特許取得済)※世界最高精度（当社調べ） ●光屈折率・測定可能範囲：1.0〜2.4　精度：0.001 ●膜厚・測定可能範囲：0.4um〜30um　精度：±0.5％ ●温度依存性・測定可能範囲：室温〜摂氏100度（光屈折率の測定が可能） ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツボー

膜厚-光屈折率-光伝搬損失　測定装置

プリズムカプラ式 光損失測定装置 (世界最高精度0.01dB/cm達成…

●光導波損失・測定可能精度：0.01dB/cm (連続測定法・特許取得済)※世界最高精度（当社調べ） ●光屈折率・測定可能範囲：1.0〜2.4　精度：0.001 ●膜厚・測定可能範囲：0.4um〜30um　精度：±0.5％ ●温度依存性・測定可能範囲：室温〜摂氏100度（光屈折率の測定が可能） ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社マツボー