• 施設管理システムに、施設規模に応じた組合せが自由な新プラン登場! 製品画像

    施設管理システムに、施設規模に応じた組合せが自由な新プラン登場!

    PR施設に関する情報を一元管理!【b-platform:施設や用途に応じた…

    建物や施設に関する情報を一元管理し、知財に変える施設の情報管理システム『b-platform』に、施設の規模や用途に応じて組み合わせ自由な「新料金プラン」が登場! 2024年12月25日までの間にお申し込み頂いたお客様を対象に、各プランの利用料が3か月間無料になる「新料金プランリリース記念キャンペーン」も同時スタートします。 申込期間:2024年9月24日~2024年12月25日 申...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社山下PMC

  • 【製造業DX】生産管理システムの失敗しない選び方と導入のメリット 製品画像

    【製造業DX】生産管理システムの失敗しない選び方と導入のメリット

    PR自社に最適な生産管理システムを選ぶポイントをまとめたチェックリストを無…

    2024年、DX化を実現している工場の業績が伸びています。 製造業DXを推進するには生産管理システムの導入が鍵となります。 生産管理システムの導入を失敗をしないためには、 ・現状の問題や課題の洗い出し ・解決すべき課題の優先順位の明確化 ・自社の業種・規模・生産形態に適したものか判断 など、導入の目的と自社のニーズをしっかりと整理して自社にあったシステムを選ぶことが重要です。 生...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本コンピュータ開発 

  • 【分析事例】Si自然酸化膜の膜厚評価 製品画像

    【分析事例】Si自然酸化膜の膜厚評価

    光電子の平均自由行程を用いた膜厚の見積もり

    て、XPS分析によって膜厚を算出した事例をご紹介します。Siウエハ最表面のSi2pスペクトルを測定し、得られたスペクトルの波形解析を行うことにより、各結合状態の存在割合を求め、この結果と光電子の平均自由行程か ら膜厚を見積もることが可能です(式1)。 XPSでは非破壊かつ簡便に、広域の平均情報として基板上の薄膜厚みを算出することが可能です。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • [DSC]示差走査熱量測定 製品画像

    [DSC]示差走査熱量測定

    DSCは、加熱することによって生じる熱量変化からサンプルの物性などを評…

    ・ 融点・結晶化温度・ガラス転移温度・キュリー点・比熱などを確認することができます。 ・ 結晶化度・純度・反応速度及び結晶化速度などの測定に応用が可能です。 ・ 氷点下から測定できるため、自由水・結合水の評価が可能です。...

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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • 【分析事例】極薄SiON膜の組成・膜厚評価 製品画像

    【分析事例】極薄SiON膜の組成・膜厚評価

    光電子の平均自由行程を用いた膜厚の見積もり

    リコン酸窒化薄膜など、厚さ数nm以下の極薄膜について、サンプル最表面のSi2pスペクトルを測定します。得られたスペクトルの波形解析を行うことにより、各結合状態の存在割合を求め、この結果と光電子の平均自由行程から膜厚を見積もります(式1)。...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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