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PR裏面や内層材の影響を受けずに銅の膜厚を測定
【SR-SCOPE DMP30】は、プリント回路基板上の銅の厚さを迅速かつ高精度に非破壊で、基板裏面にある銅層の影響を受けずに測定することができる電気抵抗式の膜厚測定器。堅牢で近代的な新しいデザイン、デジタルプローブと新しいアプリケーションソフトウェアにより、プリント基板表面の銅の膜厚測定に好適。保護等級IP64のアルミ製の筐体、落下などから筐体を保護するソフトバンパー、強化ガラスの液晶ディスプレ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社フィッシャー・インストルメンツ
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PR制御システムの刷新で多品種の高速・緻密な包装に対応。サニタリー性・メン…
『PROTO-A800B』は、センターシール・トップシールの構造と 制御システムの刷新により、多くのフィルム品種に対応した正ピロー包装機です。 トップシールには2軸サーボモータ駆動方式を採用。 センターシールはタッチパネル操作で張力調整が行え、 緻密な動作でタイトに包めるほか、運転中でも胴回りの絞り調整が可能です。 トップシールはシール圧、時間、温度の細かな調整に対応しています。 ...
メーカー・取り扱い企業: 日本ポリスター株式会社
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Wavecontrol社 EMF測定器 モニター MonitEM
『スマート・エネルギー』機能で、【AC + ソーラーパネル+ バッテリ…
MonitEMは、電磁放射線継続測定のネットワーク実行に関する規格に対応。ソーラーパワー供給とワイヤレスコミュニケーションでどこにでも設置が出来ます。...MonitEMは、町や学校、病院など特定の場所における電磁場の継続的なモニタリングに最適です。広帯域測定可能なのでモニタリングネットワークを配置し、広いエリアをカバーします。コントロール・センターは、モニタリング・ステーションの遠隔管理をWEB...
メーカー・取り扱い企業: ウェーブクレスト株式会社
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光源の内部および外部波長設定、および通信波長のより広いテスト範囲が特徴
6433シリーズ光波コンポーネントアナライザの製品モデルは6433D(10MHz〜20GHz)、6433F(10MHz〜43.5GHz)、6433H(10MHz〜50GHz)、6433L(10MHz〜67GHz)の4つで、2ポートと4ポートモデル。光波コンポーネントアナライザは 、主に高速広帯域電気光学デバイス(電気光学変調器、直接調整レーザー、TOSA)、光電子デバイス(PD、PIN、APD、R...
メーカー・取り扱い企業: ウェーブクレスト株式会社
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1つのデバイスで電界&磁界の高精度測定が可能!スペクトラム解析(DC~…
●3-in-1 フィールドメータ: スペクトル分析 (DC~10Mhz)、広帯域 (DC~90GHz)、静電界測定 ●デジタル処理によるリアルタイムFFTベースのスペクトラム解析 ●制限値との自動およびリアルタイム比較のための重みづけピーク測定 (WPM) ●ピーク検出専用のオートゲイン機能 ●実効値とピーク値で結果を表示 ●特定周波数のタイムドメイン測定機能 ●自動フィールドプローブ...
メーカー・取り扱い企業: ウェーブクレスト株式会社
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