パワー半導体の解析サービス

故障箇所→拡散層評価を含めた物理解析/化学分析までスルー対応いたします…

解析技術を培ってきました。 Si半導体だけでなく、話題のワイドバンドギャップ半導体も対応可能です。 【特長】 ■OBIRCH解析ではSiだけでなく、SiCやGaNデバイスにも対応 ■表裏どちらからでもFIB加工可能 ■PN接合部に形成された空乏層を可視化 ■EDS、EELS分析といった元素分析も対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

半導体ウエハ端面　ミクロ検査

回転させたウエハ端面(エッジ)をラインセンサで撮影し、数ミクロンオーダ…

検出フィルタ ■回転蛇行補正 ■検査レシピ設定用リアルタイムシミュレータ ■Ｄヴューア 【製品仕様】 ■対象サイズ： 　200～300ｍｍウエハ端面(エッジ）および、端面近傍表裏面（ニアエッジ） ■分解能：3μ～10μ／画素 ■解像度： 　カラー：(2300～7500)×300000×3[画素] 　白黒：　( 320～1024)×300000[画素] ■対象...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社横浜総合研究所