• 『シリコーンゴム表面摺動性処理』ゴム成形、さらさら触感 製品画像

    『シリコーンゴム表面摺動性処理』ゴム成形、さらさら触感

    PRシリコンゴム表面に特殊処理することで貼り付き防止、ゴミ付着防止、摺動性…

    シリコンゴム表面に特殊処理することで貼り付き防止、ゴミ付着防止、摺動性向上の3つの機能性を付与します。 ・従来の塗装方式と違い、シリコーン部品表面のシボや微細凹凸を消失させないで摺動性を付与できます。 ・シリコーンゴム部品でもサラサラ触感を付与できます。 ・黒色シリコーンゴム部品などは、皮脂やほこりが付着して汚れが目立ってしまいますが、貼り付いてしまい取り除くのが大変です。弊社の処理を行うと容易に...

    • シリコーン表面摺動性処理ー2.png
    • シリコーン表面摺動性処理ー3.png
    • シリコーン表面摺動性処理ー4.png

    メーカー・取り扱い企業: サンアロー株式会社

  • 粘着テープ、接着剤等が付着しない!『プラズマコート』をご紹介 製品画像

    粘着テープ、接着剤等が付着しない!『プラズマコート』をご紹介

    PR様々な付着対策として効果あり!高い離型特性と耐久性で、製造ラインの課題…

    『プラズマコート(超非粘着処理)』は、金属、サーメット、セラミック等 の溶射皮膜の高硬度、耐久性とシリコーン樹脂の極度に高い非粘着性を有し、 高グリップの摩擦特性も持ち合わせています。 プラズマコートはアルミ、ステンレス、鉄などの金属系部品はもちろん、 CFRP部材へのコーティングも可能です。 ※※サンプルピースのご提供も可能です。お気軽にお問い合わせください※※ .....

    • 用途.jpg
    • IPROS28285564595672314253.png
    • スクリーンショット 2023-10-11 110436.png

    メーカー・取り扱い企業: 大阪ガスケミカル株式会社 奈良表面加工センター

  • プローブに原子を採用した表面分析装置(CAICISSの発展版) 製品画像

    プローブに原子を採用した表面分析装置(CAICISSの発展版)

    結晶方位・極製は15分で一目瞭然!帯電の影響がなく安定した表面分析が可…

    『TOFLAS-3000』は、金属、半導体、絶縁体などの固体表面の結晶構造および 元素分析を同時に行うことができる原子散乱表面分析装置です。 本装置は同軸型直衝突イオン散乱分光法(CAICISS)を発展させ、電気的に中性なHe(Ne、Ar)等の原子ビーム...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

  • 表面分析機器『TOFLAS-3000』 製品画像

    表面分析機器『TOFLAS-3000』

    電気的に中性な原子ビームを採用!帯電の問題を解決した表面分析機器

    『TOFLAS-3000』は、入射プローブとしてイオンではなく電気的に中性な 原子ビームを用いた飛行時間型原子散乱表面分析装置です。 本製品を使用することにより、半導体,金属のみならず絶縁体表面の 組成および原子配列の解析も可能です。 また、帯電(チャージアップ)の問題も解決します。 【特長】 ■...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

  • 真空薄膜形成装置や表面分析装置 長年培った真空技術がこの一冊に! 製品画像

    真空薄膜形成装置や表面分析装置 長年培った真空技術がこの一冊に!

    長年培った真空技術!真空機器関連及び理化学機器における製品ラインアップ…

    グローバルな視野を持ち、 常に時代の先端を見つめ、新しい技術と商品ニーズを先取りし、 ユーザー様の役に立つ製品を提供し続けている、株式会社パスカルの 総合カタログです。 従来のイオン散乱表面分析装置では不可能だった、絶縁体表面の極性判別や 構造解析、元素同定、さらに電場・磁場中での【その場分析】を可能にした 飛行時間型原子散乱表面分析装置「TOFLAS-3000」をはじめ、 「真...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

  • RHEEDユニット『PHD-30K-034』 製品画像

    RHEEDユニット『PHD-30K-034』

    30kV対応かつコンパクトな制御電源!1Pa台まで使用可能な差動排気設…

    『PHD-30K-034』は、超真空下で加速収束された電子線を基板に照射し、 表面キャラクタリゼーションを行うための反射高速電子線回析システムです。 コンパクトサイズでICF34フランジマウントの電子銃は、その小ささから 取り付けやメンテナンスが容易。 また、標準的...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

  • 飛行時間型原子散乱表面分析装置『TOFLAS-3000』 製品画像

    飛行時間型原子散乱表面分析装置『TOFLAS-3000』

    結晶方位・極製は15分で一目瞭然!帯電の影響がなく安定した表面分析が可…

    『TOFLAS-3000』は、金属、半導体、絶縁体などの固体表面の結晶構造および 元素分析を同時に行うことができる原子散乱表面分析装置です。 本装置は同軸型直衝突イオン散乱分光法(CAICISS)を発展させ、電気的に中性なHe(Ne、Ar)等の原子ビーム...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社パスカル

1〜5 件 / 全 5 件
表示件数
45件
  • < 前へ
  • 1
  • 次へ >

※このキーワードに関連する製品情報が登録
された場合にメールでお知らせします。

  • IPROS12974597166697767058 (1).jpg
  • bnr_2403_300x300m_ur-dg2_dz_ja_33566.png

PR