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    【LEMO】計測機器/医療機器/半導体製造装置向けコネクタ特集!

    PRご採用事例とともに、各アプリケーションに好適なLEMOコネクティングソ…

    レモジャパンでは、いつでもLEMOのコネクティングソリューションをご覧いただける3つの特設サイトを公開中! レモコネクタはモジュール方式による多様な組み合わせにより様々なご要望に対応する好適な丸型コネクタを選択することが可能です。 3つの特設サイトでは、レモコネクタご採用事例とともに各アプリケーションに好適なLEMOコネクティングソリューションをご紹介いたします。 下記関連リンクよりお越...

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    メーカー・取り扱い企業: レモジャパン株式会社

  • 検査から振り分けまで行える!IVシリーズ搭載 印字文字検査装置 製品画像

    検査から振り分けまで行える!IVシリーズ搭載 印字文字検査装置

    PR【6月のFOOMA JAPAN 2024出展】印字抜けトラブルを軽減!…

    当社で取り扱う、IVシリーズを搭載した「印字文字検査装置」をご紹介します。 直感的な操作性で簡単に印字検査を導入可能。NG品の見落としを 防ぐ回転灯やトリガーのタイミングを調整するタイマーなど サポート機能も充実しております。 輪郭、色面積、OCRなどさまざなツールで印字の検査が可能で、 オプションによる振分装置の提案やお使いの振分装置への接続もできます。 【特長】 ■輪郭、色面積、OCRな...

    メーカー・取り扱い企業: シール工業株式会社

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    アイテス 装置一覧

    アイテスの解析・評価・試験サービスに使用する装置一覧です

    アイテスは、最先端産業分野でお客様の課題に真摯に取り組む 解決提案型企業です。 各種保有装置を駆使し、最適なソリューションを提供します。 ■製品解析/不良解析/故障解析  形態観察・電気特性測定・不良解析・故障解析・試料加工 ■信頼性評価試験  信頼性評価試験・ESD/ラッチア...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】GC-MS分析装置ガイド 製品画像

    【資料】GC-MS分析装置ガイド

    試料導入装置と、それぞれの装置が得意とする分析試料や分析内容についてご…

    GC-MS分析は有機成分分析や有機構造解析によく用いられる手法です。 付帯装置により溶剤などの低分子からプラスチックなどの高分子まで 幅広い分析対応が可能。 当資料ではアイテスで保有している試料導入装置と、それぞれの装置が 得意とする分析試料や分析内容についてご紹介...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 液晶材料分析 製品画像

    液晶材料分析

    豊富な装置と知見!化学機器分析で材料全般の分子構造を解明いたします!

    Dパネルに使用する低分子もあれば、 プリント基板や電装部品などに使用される高分子もあります。 それら低分子液晶、高分子液晶(LCP)の分子構造を解析した事例をご紹介。 当社では、豊富な装置と知見で、液晶材料のみならず、様々な素材の 信頼性試験、分析解析にご対応いたします。海外輸入品・素材の分子構造の 把握や不具合解明など、お気軽にご相談ください。 【事例内容】 ■FT-I...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【成分分析】GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計 製品画像

    【成分分析】GC-MS ガスクロマトグラフ質量分析計

    新しく装置を導入!試料に含まれる成分の定性・定量を目的とした分析手法を…

    スクロマトグラフ質量分析計」を 導入しました。 試料に含まれる成分の定性・定量を目的とした分析手法の一つで、 部品・部材・残存溶媒や添加剤など、揮発性有機物の定性・定量に 用いられる分析装置です。 測定対象がガス化することが必要条件(沸点300℃未満)となりますが、IRや RAMANに比べ感度が高い点、GC部での成分分離が可能な点から、混合物の 成分分析に向いています。 ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 材料と熱の関係<熱分析の紹介> 製品画像

    材料と熱の関係<熱分析の紹介>

    分子レベルの構造との関係も推定が可能!熱分析の種類と知る事のできる特性…

    材料に熱を掛けると様々な特性が変化します。このような特性の調査には 熱分析が適しています。観測したい特性の変化に応じて装置を使い分け、 必要に応じ組み合わせて⾏います。 材料が熱を受けた時に起きる様々な変化を知ることで、実際に 使⽤される場⾯にてどのような挙動を⽰すかを知る手掛かりとなります。 他の化学分析...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBSD解析 製品画像

    EBSD解析

    結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能!EBSD(電子線後方散乱回折)法を…

    RODマップ、 極点図など、様々なマップを使用します。 【特長】 ■EBSD法は、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を解析する手法 ■(株)TSLソリューションズOIM7.0結晶方位解析装置を使用 ■結晶格子がどのような方向を向いているのか(結晶方位)を解析 ■加工条件(圧延、押出等)の違いによる結晶方位や結晶粒径の  変化が解析可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • FIB-SEM Helios 5 UC 導入のお知らせ 製品画像

    FIB-SEM Helios 5 UC 導入のお知らせ

    ソフトマテリアルの断面作製も実現!Auto Slice&Viewで3D…

    【FIB-SEM複合装置概要】 ■垂直方向にSEMカラム、斜め方向にFIBカラムを搭載 ■FIB加工中の様子をSEMでリアルタイムに観察が可能 ■加工位置精度の向上 ■大気非暴露で観察、分析可能 ※詳しくはP...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • FE-SEM観察(Alワイヤボンディング部結晶粒観察) 製品画像

    FE-SEM観察(Alワイヤボンディング部結晶粒観察)

    ⾼輝度電⼦銃による緻密なSEM画像!表⾯情報に敏感なインレンズSE検出…

    ZEISS製の「FE-SEM ULTRA55」は、GEMINIカラムを搭載しており、 極低加速電圧で高分解能観察が可能な装置です。 検出器も複数搭載されており、さまざまなサンプルの観察が可能。 2種類の反射電⼦検出器による組成情報の把握ができ、低加速電圧でも ⾼分解能なEDX分析ができます。 【特長】...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します! 製品画像

    電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します!

    過渡熱測定可能パワーサイクル試験、カスタマイズ発光/OBIRCH解析装…

    アイテスでは信頼性試験、分析・解析などパワーデバイスのトータルソリューションサービスを行っております。過渡熱測定を同時に行える「パワーサイクル試験機」をはじめ、「化合物半導体の故障解析」「拡散層の濃度解析」「モジュールの断面解析」など。具体的実績を元にご提案させていただきます。 キーワード:■パワー半導体全般(チップ、モジュールTIM素材など)■信頼性試験/評価 ■構造解析(出来栄え・他社品...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】色差計による塗料の色評価 製品画像

    【資料】色差計による塗料の色評価

    物体色を数値化することが可能!色の違いを数値化した試験結果をご紹介しま…

    て、水性塗料に対して紫外線(UV)を照射した条件とUV未処理の 条件で色の違いを数値化した試験結果をご紹介しておりますので 是非、ダウンロードしてご覧ください。 【掲載内容】 ■色差計(装置構造) ■L*a*b*表色系 ■水性塗料の目視とL*a*b*表色系への変換 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】材料の信頼性試験から化学分析までご対応します 製品画像

    【資料】材料の信頼性試験から化学分析までご対応します

    保有する知⾒と豊富な装置で不具合、お困りごとを解決いたします!

    製品を構成する素材は多種多様ですが、製品性能は素材の特性が 鍵を握ることも少なくありません。 アイテスでは、素材の信頼性試験から観察、物理/化学分析まで 一貫対応いたします。 本資料では、プラスチック材料の紫外線/恒温恒湿負荷前後の 分子構造、および熱特性変化の⽐較評価を⾏った事例をご紹介します。 【掲載内容】 ■恒温恒湿試験、および紫外線照射  (サンプル:ポリエチレ...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 信頼性のトータルサポートサービス 製品画像

    信頼性のトータルサポートサービス

    環境試験をはじめ、非破壊観察や電気特性測定などを行っております

    アイテスでは、JIS・JEDEC・MIL等の標準規格に準じた環境試験装置を使用し、 様々なエレクトロニクス製品、部品および材料の信頼性評価受託試験を承ります。 電気試験をはじめ、非破壊観察やパワーサイクル試験 などがございます。 【環境試験】 ■高度寿...

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