過渡熱測定可能パワーサイクル試験、カスタマイズ発光/OBIRCH解析装置で、熟練の技術集団がパワーデバイスを徹底評価・解析！
アイテスでは信頼性試験、分析・解析などパワーデバイスのトータルソリューションサービスを行っております。過渡熱測定を同時に行える「パワーサイクル試験機」をはじめ、「化合物半導体の故障解析」「拡散層の濃度解析」「モジュールの断面解析」など。具体的実績を元にご提案させていただきます。
キーワード：■パワー半導体全般（チップ、モジュールTIM素材など）■信頼性試験/評価 ■構造解析（出来栄え・他社品RE）■故障解析（故障箇所特定、原因究明、改善提案）
【試験一覧】
■パワーサイクル試験
■液槽熱衝撃試験
■ゲートバイアス試験
■半導体・パッケージ剥離部の非破壊観察
■パワーチップの故障解析 など
※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
基本情報電子部品の信頼性試験・分析・解析を一気通貫で対応します！
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| 価格帯 | お問い合わせください |
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| 用途／実績例 | ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 |
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