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超音波複合振動接合機『Ellinker 20k-HP/20k』
PR狭いところに手が届く接合を実現。楕円形の軌跡により、高強度・低ダメージ…
『Ellinker 20k-HP/20k』は、振動拡大ホーンと 楕円形の軌跡を描く複合振動を生み出すスリット入りホーンを備えた超音波複合振動接合機です。 加圧・加振のムラや減衰が少なく、ワークへのダメージやバリの発生を抑えた高品質な接合が可能。 ロングホーンチップを使用でき、円筒型LiBの底部など様々な形状・接合位置のニーズに対応可能です。 はんだなどの介在物を使用せず、母材の変質リスクも少な...
メーカー・取り扱い企業: 千代田交易株式会社
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表面とナノ構造を測定する機能!ミリメートルから原子レベルまでをカバーし…
走査電子顕微鏡(SEM)と原子間力顕微鏡(AFM)の複合システムをご紹介します。 SEMのズーム機能を使い、AFMチップを対象領域に直接移動可能。 表面の形状や、機械・電気・磁気特性に関する情報をナノメートル分解能で 入手できます。 AF...
メーカー・取り扱い企業: 日本セミラボ株式会社 新横浜本社
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外部装置と同期可能!サードパーティーの高感度カメラを使用できる顕微鏡シ…
当社が取り扱う『In-Vivo ファイバー顕微鏡システム』をご紹介します。 ターゲットオプトジェネティクスができ、複合ファイバーで複数個所 (複数匹)に対応可能。 また、モジュラー式で、光源やカメラを別システムに再構成できます。 ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■自由行動下...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社インターメディカル
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KSI社製の超音波顕微鏡 「V シリーズ」 超高速スキャンが半導体分野…
trasonic_principle/ 従来比、約1.5倍の高速スキャン、高SNでの撮像を実現した新デザインプローブおよび新型アンプも採用。 本シリーズの応用範囲は幅広く、半導体における複合ウェハ、半導体チップ、半導体パッケージ、LED、めっき、塗装など様々な分野で使用されています。例えば半導体分野においては、非破壊検査ツールとして使用され、X線では検出されにくい剥離/クラック等の検査...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本レーザー
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『TEMの基礎』『TEMの応用と事例』※希望者全員にプレゼント
高分子や半導体など、幅広い分野の研究開発に活躍するTEM(透過電子顕微…
照射し、 試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 MSTでは、TEMの特徴や試料作製方法など基礎知識を掲載した『TEMの基礎』と 代表的な分析事例や他手法との複合解析例などを掲載した『TEMの応用と事例』を進呈中! 写真や図を用いてわかりやすく紹介した資料です。 【掲載内容(一部)】 <TEMの基礎> ■TEM、STEMで何がわかるか ■T...
メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
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新たな手法で接着界面を3次元的、複合的に解析・評価。 異なるスケール…
破壊・劣化に繋がる要因を特定するための様々な試みも解説。 接着接合界面の新しい解析技術を応用した新規接着剤の開発、次世代接着接合技術についても詳解!...「接着界面解析と次世代接着接合技術」 ■体裁:B5判 448頁 ■定価:54,000円+税 ■著者:堀内 伸 ■発行:エヌ・ティー・エス 序 論 接着・接合における界面現象 第1編 接着接合界面の解析・評価手法 第1章 接着界...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社エヌ・ティー・エス
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リポソームの構造解析や皮膚ラメラ構造解析など!30nmから5μmの切片…
当資料は、株式会社花市電子顕微鏡技術研究所が行った解析事例を 掲載しています。 「ウルトラミクロトーム」では、30nmから5μmの切片作製が可能。 生物組織、金属メッキ層や無機蒸着層を含む複合材料、ナノ粒子など 幅広い分野における高品質な超薄切片および断面作製に適応できます。 多数分析をお取り扱いしております。詳細はお問合せ下さい。 【掲載事例】 ■リポソームの構造解析 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所
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蛍光寿命測定装置を要望に合わせてカスタマイズ
採用し、ナノ秒からマイクロ秒までの蛍光寿命測定が可能です。 高感度分光用CCD検出器や高性能分光器を組み合わせることで、PLスペクトル測定やPLE測定に対応。 また、ラマン測定などを組み合わせた複合化も対応可能です。評価の幅を広げられます。 既存の装置の流用や段階的なシステムの拡張も対応可能です。 部品単位からフルシステムまで、最適なかたちを幅広くご提案致します。...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社東京インスツルメンツ
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薄膜と微小領域の熱物性測定に。微小サイズ粒子も自在に測定可能
【主な特長】 ○薄膜と微小領域の熱物性測定に ○試料に金属薄膜を成膜し、加熱用レーザにより周期加熱 ○従来困難だった微小サイズ粒子も自在に測定可能 【その他の特長】 ○SiC複合材料の評価 →粒子サイズは約100μm、粒子はSiC(シリコンカーバイド) →次世代半導体材料(ワイドバンドギャップ半導体)、研磨用砥粒などに利用 ○樹脂中に埋め込んだフィラーの熱伝導率測定 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社ベテル ハドソン研究所
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30nmから5μmの切片作製が可能!材料系解析事例を複数ご紹介した資料…
当資料は、株式会社花市電子顕微鏡技術研究所が行った材料系解析を まとめた事例集です。 「ウルトラミクロトーム」では、生物組織、金属メッキ層や無機蒸着 層を含む複合材料、ナノ粒子など幅広い分野における高品質な超薄切片 および断面作製に適応可能です。 当社では、受託分析を始めました。協力機関とタイアップして材料分析を 実施致します。 【掲載事例】...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所
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