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PR非破壊による内部の欠陥・状態観察が可能! X線CTによる受託計測・解析…
進和メトロロジーセンターでは、 カールツァイス社 計測X線CT ZEISS METROTOMを所有し、受託計測業務を実施しております。 これまでの受託実績を踏まえて お客様のご要望にお応えしていきます。 検査内容 〇内部欠陥解析 〇CAD比較 〇寸法測定/幾何公差評価 〇繊維配向観察 〇肉厚測定 ○接合状態の観察 【受託依頼 フロー】 1) お問合せ(IPROS, ホームページ、Eメール...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社進和 戦略営業推進室
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PRmm単位を超える広い面内測定範囲!多結晶セラミックスとSiC単結晶の測…
当社で新たに導入した、白色干渉顕微鏡による加工面の測定事例をご紹介します。 白色干渉顕微鏡は、光の干渉現象を利用して「表面形状」を計測、解析する 顕微鏡。測定対象材質を問わず、3D計測で面粗さ・線粗さに対応します。 多結晶セラミックスのワイヤースライス面からポリシング面の測定では、 スライス面Sa 0.8446 μm、ラッピング面Sa 0.2506 μm、ポリシング面 Sa 0....
メーカー・取り扱い企業: 株式会社新興製作所
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システムコスト削減と稼働率向上を実現する製品のご紹介
LC 6/アブソリュート角度エンコーダRCN 1 光学系を最適化しエアパージなしでも確実な動作が可能になったことでCO2排出量やメンテナンスコストの大幅な削減を実現する最新モデル ■ワーク計測用ワイヤレス式タッチプローブTS 460/TS 760 段取り作業の高効率化と高精度機上計測を実現 ■工具の折損検知器TD 110/検査用カメラシステムVT 121 インダクティブ式非接...
メーカー・取り扱い企業: ハイデンハイン株式会社
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半導体製造に適した高精度位置決め技術のご紹介
ンコーダ ■リニアエンコーダ LIC 3100: 高速アブソリュートオープンタイプリニアエンコーダ MC 15: RSF社製アブソリュートオープンタイプリニアエンコーダ ■高精度角度計測 ERP 1000: 超小型角度エンコーダ ERO 2000: インクリメンタル角度エンコーダ MCR 15: RSF社製組込み型アブソリュート角度エンコーダ 半導体・エレクトロニク...
メーカー・取り扱い企業: ハイデンハイン株式会社
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