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PRミリ単位以下の微小な変化を検知!医療機器・電子機器への干渉、影響はあり…
株式会社日本ジー・アイ・ティーは、UWBをはじめとする先端技術の 開発・設計・製造・販売を専門とする企業です。 当社が取り扱う『UWBレーダー方式センサー』は、1mm以下の微小な 変化を検知します。 医療機器・電子機器への干渉、影響がなく、プライバシー保護にも寄与。 バイタルセンサーや、工程内異物検知などにも応用が可能です。 【特長】 ■1mm以下の微小な変化を検知 ■...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社日本ジー・アイ・ティー
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熱分析装置『DSC』を用いた物質のキャラクタリゼーションについて詳しく…
熱分析は成熟した分析手段と考えられていますが、最近の示差走査熱量計(DSC)の進展により、 研究者に新たな強い関心を引き起こしています。 これにはTzero DSCおよびモジュレイテッドDSC(MDSC)の発展があり、感度、 分解能および複雑な転移の分...
メーカー・取り扱い企業: ティー・エイ・インスツルメント・ジャパン株式会社 (TAInstruments)
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初心者向けオンライン講座(e-learning)【形態観察】
形態観察を基礎から学びたい方向きの講座です。 SEM、TEM、球面収差…
を基礎から学びたい方向きの講座です。受講期間中、本講座に関する質問を受け付けております。 以下について、易しく、コンパクトに解説しています。 形態観察手法について ・ 走査型電子顕微鏡(SEM):原理、試料作製法、分析例 ・ 透過型電子顕微鏡(TEM):原理、試料作製法、分析例 ・ 球面収差補正走査透過型電子顕微鏡:原理、分析例 ・ 三次...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター
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技術情報誌 201902-01 DPC-STEMを用いたポリマー
技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…
【要旨】 走査透過型電子顕微鏡(STEM)の測定手法の一つである微分位相コントラスト(DPC)-STEMは、微小部の電場を測定することが可能である。我々は、本手法をポリマーアロイに適用することで、従来の電子顕微鏡...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター
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【技術資料】複合材料の欠陥深さの計測・超音波と赤外線との比較
複合材料の欠陥深さの計測・ 超音波方式と赤外線方式とのデータ比較
います。 複合材料を代表するCFRPに非破壊検査方式の比較をまとめた資料です。 航空機の製造段階ではフェーズドアレイ超音波深傷が主流ですが、 今回は精密検査として25MHz焦点型深触子にて走査試験を行い、 赤外線のパルス光励起による位相解析方式の結果として比較しました。 ⇒続きはカタログダウンロードしてお読みいただけけます。 詳細は、お問い合わせください。 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社KJTD
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「MDX-50」をはじめとするローランドD.G.社の切削加工機をもっと…
・MDX-50概要説明 ・加工前準備…ワークの固定方法・位置決め方法・工具の取り付け方法・工具長補正 ・SRP-Player を使用したツールパス作成 アップカット/ダウンカット、等高線/走査線の使い分け スキャロップの残り方、複数領域と深さの設定 SRP-Player で見落としがちな設定とその解決策 ・両面加工のノウハウ ・質疑応答 ■初級コース │ 開催要項 ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社システムクリエイト
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実用化に最も近い「ポリマー材料によるソフトアクチュエータデバイス」「流…
る運動性の制御 <第2部 流体制御によるソフトアクチュエータ> 第6章 医療分野 1節 空気圧ソフトアクチュエータの医療検査機器への応用 2節 空気圧アクチュエータを用いた超音波プローブ走査機構の開発と撮像断面の位置制御 3節 ラバーアクチュエータを用いた心臓補助装置 4節 ソフトロボットへの応用を目指したEHD現象を応用したアクチュエータ...
メーカー・取り扱い企業: S&T出版株式会社
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ARを用いたウェアラブルデバイス・ディスプレイの最新技術と応用
★メガネ型スマートグラスのようなディスプレイ・デバイスが登場
ートデバイス・HMD最新市場と将来展望・導入課題~ ★Google Glass (グーグルグラス)などのようなメガネ型スマートグラスのようなディスプレイ・デバイスが登場! ★3D・ARや網膜走査など、様々な方式のいずれが優位性があるのか? ★産業用途から民生用途への展開がますます進む見込み!市場規模は?実用化にはどれくらいのインパクトがあるのか? ★ARメガネを中心にしたウェアラブルデ...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社AndTech
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表面分析について、分析をご専門としていない開発者や製造者の方にも分かり…
7節 二次イオン質量分析法について(SIMS) 第8節 飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS) 第9節 誘導結合高周波プラズマ発光分光分析法(ICP-OES) 第10節 走査電子顕微鏡(SEM) 第11節 透過型電子顕微鏡(TEM) 第12節 原子間力顕微鏡(AFM) 第13節 X線回折法(XRD) 第14節 X線光電子分光法(ESCA XPS)...
メーカー・取り扱い企業: S&T出版株式会社
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初心者向けオンライン講座(e-learning)【材料物性】
材料物性を基礎から学びたい方向きの講座です。材料物性・力学物性評価、材…
・材料物性評価:主な物性値と測定方法 ・力学物性評価の基礎 ・材料試験(引張試験):装置、何がわかるか、測定方法、測定例 ・熱分析とは ・示差走査熱量計(DSC):原理、何がわかるか ・熱重量測定(TG):原理、適用例 ・物性測定の難しさ 受講特典として「講座内容に対する質問回答サービス」がついており、「分析手法の原...
メーカー・取り扱い企業: 株式会社東レリサーチセンター
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