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【AFM/AESオージェ電子分光装置】めっき部品の加熱影響評価
AFM走査型プローブ顕微鏡/AESオージェ電子分光装置によりめっき部品…
AFM走査型プローブ顕微鏡とは、探針と試料表面の間に働く様々な物理的相互作用を検出し、微少領域の表面形状観察、電気・機械物性計測を行う装置です。 この物理的相互作用には、原子間力、摩擦力、静電気力などがあります。 また、大気中、真空中の様々な環境において測定ができ、導電性、絶縁性を問わず試料表面の観察が可能です。 AESオージェ電子分光装置では、材料の極表層(~5nm程度)の元素分析や深さ方向の...
メーカー・取り扱い企業: セイコーフューチャークリエーション株式会社
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