中・近赤外分光計による製造工程のモニタリングセミナーのご案内

PR【無料開催！】ガス分析用FT-IR製品と新製品BEAMを含むFT-NI…

本ウェビナーでは赤外分光計および近赤外分光計を活用した プラント規模の反応追跡や工程管理をテーマとし、 前半では、測定時間やコスト面で課題のあるガスクロの代替手段となる ガス分析用FT-IR製品およびアプリケーション例を 後半では、新製品BEAMを含むFT-NIR製品および 代表的なアプリケーション例をわかりやすく紹介させていただきます。 食品・化学・環境・製薬分野での分析法の研究...

メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

2024NEW環境展に「飲料容器 三種混合品選別機」を出展します

PR事業系飲料容器「選別」の省人化・軽労化に！ 残液・異物の有無を判別し、…

「飲料容器 三種混合選別機」は、プラスチック材質判別装置ぷらしるで実績のある近赤外センサを搭載し、 ペットボトル・缶・瓶の選別だけでなく、残液の有無までも判別可能です。 既存の選別機はPET選別と言っても、装置としてペットボトルを認識しているわけではなく 軽量・透明といったペットボトルの特徴に着目して選別しているため、 良品に異物が混入したり、残液入りボトルは瓶に混ざってしまうことがあります。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社山本製作所 ソリューション事業部

中・近赤外分光計による製造工程のモニタリングセミナーのご案内

【無料開催！】ガス分析用FT-IR製品と新製品BEAMを含むFT-NI…

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メーカー・取り扱い企業： ブルカージャパン株式会社 オプティクス事業部

技術情報誌 202102-01 新規蛍光分光装置

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 新規蛍光分光装置を導入し、紫外可視領域の測定に加えて近赤外領域の発光測定、またナノ秒程度の蛍光寿命測定が可能となった。新規蛍光分光装置の特徴とそれらの測定例について紹介する。 【目次】 １．はじめに ２．新規蛍光分光装置の特徴 ３　近赤外発光スペ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

【分析事例】近赤外VCSELのSMMによるキャリア分布評価

実装品の解体・加工から拡散層の計測までを一貫して行えます

近赤外VCSEL（面発光レーザー）の実装品を解体して微小なチップを取り出し、断面加工の後にSMM計測を実施しました。 VCSELの開口部を取り囲むように、高抵抗の電流狭窄層が観察されました。また、活性層近傍では材質の異なる膜が積層しており、この組成を反映したコントラストとして計測されました。同一組成の層内にもコントラストが確認され、これはキャリア濃度差やバンドの曲りを反映していると考えられます。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

EMS分析（エミッション顕微鏡法）

故障箇所を迅速に特定

EMSは、半導体デバイスの異常動作に伴い発生する微弱な発光を検出することで、故障箇所を迅速に特定できる手法です。EMMS、PEM、EMIとも呼ばれます。 ・測定波長領域（可視域から近赤外域）に対して透明な材料のみ評価可能 ・クラック・結晶欠陥・ESDによる酸化膜破壊・Alスパイクによるショートなどの内部の欠陥を低損傷で捉えることが可能...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［UV-Vis］紫外可視分光法

UV-Visは波長ごとに分けた光を測定試料に照射し、試料を透過した光の…

る手法です。 吸光度測定により、試料中の目的成分の定性・定量分析や、試料の波長特性の評価が可能です。 また、透過率測定では、試料中の成分に特有の透過特性を評価できます。 ・紫外～可視～近赤外領域（波長域約190nm～約3000nm）における吸収スペクトル・透過スペクトルの取得が可能。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【分析事例】バイポーラトランジスタ（IGBT）の不良品調査

高電圧電源を用いたエミッション顕微鏡による故障箇所の特定

特定できます。クラックや静電破壊など大規模な外観異常がある場合は、IR顕微鏡でも異常を確認可能です。また、エミッタ電極の遮光により、発光が検出できない場合には、コレクタ電極を除去し、コレクタ側から近赤外光を検出します。 2000Vまで印加可能な高電圧電源を用い、高耐圧で低リーク電流のパワーデバイスを動作させ、エミッション顕微鏡で故障箇所を特定する例を紹介します。...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST