白色干渉計搭載 レーザ顕微鏡『VK-X3000』

ナノ・マイクロ・ミリが一台で測れるトリプルスキャン方式のレーザ顕微鏡

『VK-X3000』は、レーザ共焦点・フォーカスバリエーション・白色干渉の 3つの異なるスキャン原理が一台で使用できるレーザ顕微鏡です。 サンプルワークの素材や形状や測定範囲に合わせて好適なスキャン方式を 選択することにより、高精度に測定が可能。 高さや寸法を計測するだけの従来型の測定ソフトではなく、さらに一歩 踏み込んだ解析を豊富な解析ツールによって思いのままに実現します。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社キーエンス

超広視野共焦点レーザ走査イメージャ検査装置

ユーザカスタマイズ可能！レーザ顕微鏡の光学系を使用した新しい検査装置

当製品は、顕微鏡でもCCDカメラでもない第3の観察、検査装置です。 レーザラスター走査なので顕微鏡に比べ100倍以上の大きい視野を持っており、 長い画像（Yステージ移動）を撮り走査幅に応じてX軸を移動させると さらに広範囲な画像を取り込めます。 また、この他に、円筒面への描画や通常の平面基板への描画ができる 「テレセンfθ型レーザ直接描画装置」と描画用光学ユニット「LSU」も ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社オプセル