【展示会情報掲載】超極細小型コネクター RJ45 LANケーブル

PR狭い機器内配線やスペースの厳しい箇所の配線に好適です！極細フラット/極…

『超極細 小型コネクター RJ45 LANケーブル』は、狭い機内配線、 スペース厳しい箇所に好適な取り回し性に優れたケーブルです。 「超極細 フラットケーブル」は10M、20Mのロング対応可能で、 「超極細 丸ケーブル」は＃34の導体を使用して細線化、スリムタイプ のコネクターを採用。 また、狭い機器内の配線に好適で左右どちらのL型にも対応する 「省スペースL型コネクター RJ...

メーカー・取り扱い企業： 日東商事株式会社

ロボット導入をゼロからサポート！ファイバーレーザーロボット架台

PRファイバーレーザーを行う協働ロボット、光漏れがない高精度な架台を一体化…

当社では、ファイバーレーザーを行う協働ロボット「CRX-5iA」、 架台、必要な機器をセットアップしたワンパッケージで提供する 「ファイバーレーザーロボット架台」を提案しております。 ファイバーレーザーと協働ロボットの組み合わせにより、 一品物の溶接でも熟練度に依存しない安定した溶接品質を実現。 架台へのロボット搭載、配線、入電の確認を行い、 すぐにお使いいただける状態でお届け...

メーカー・取り扱い企業： エヌアイシ・オートテック株式会社 東京本社

フレキシブル基板（FPC）のEBSD解析

屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所などが分かる、EBSD解析をご紹介…

フレキシブル基板（FPC）のEBSD解析をご紹介します。 可動部や折り曲げ機構がある製品に使用されるフレキシブル基板について、 屈曲部と固定部でCu配線に違いがあるかEBSDによる確認を実施。 その結果、光学像では屈曲部と固定部の配線に顕著な異常や差異は 確認できないが、EBSD解析では、屈曲部の配線に歪みが蓄積している個所や、 小傾角粒...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み

「SEM像」や「吸収電流像（電流センス）」など！配線のオープン不良、高…

当社では、分析解析・信頼性評価サービスなどを行っております。 『EBAC（吸収電流）法による不良箇所の絞込み』では、 ナノプローバと高感度アンプを用いたEBAC法により配線の オープン不良、高抵抗不良箇所を特定します。 吸収電流を電圧センスすることで、配線内の抵抗分圧に基づいた コントラストが得られるため、ビアチェーンなどのTEGで⾼抵抗 不良箇所を検出す...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

海外製 液晶ディスプレイの良品解析

不具合が出れば詳細解析も！海外製LCD導入ご検討のお客様向け簡易版解析

てセルパネル状態で、FPC、FOG、COG、 シール材に着目して光学顕微鏡観察を行い、次にセルパネルを解体して、 シール材やPI膜、TFT形状を確認。 良品解析で不具合が見つかった場合は、配線の断面観察、異物分析など 原因究明のための追加解析を御提案させていただきます。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。 【外観観察の観察内容】 ■FPCの配線に腐食や異物は無いか ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

シミュレーション解析

対策例をご紹介！信頼と実績による好適な設計をご提案いたします

性(Sパラメータ)等 ■ツール：Hyper LynxSI、SIwave ＜PI解析＞ ■品目：電圧降下(DC IRDrop) ■対策例 　・電源供給源となるICから供給先となるIC間の基板配線 　・電源配線幅の調整などレイアウト修正箇所の見極め ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ラグレス

LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察

SiCパワーデバイスでも、特定箇所の断面作製、拡散層の形状観察、さらに…

、LV-SEMとEBIC法によるSiC MOSFETの拡散層の観察を 行っております。 FIBを用いた特定箇所の断面作製、LV-SEM/EBICによる拡散層の 形状観察、さらにTEMによる配線構造、結晶構造までのスルー解析が SiCパワーデバイスでも対応できます。 「LV-SEM拡散層観察」では、PN接合の内蔵電位に影響を受けた 二次電子（SE2）をInlens検出器で検出。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

LCDパネル良品解析

LCD部品、製品の品質状態を確認！液晶パネルの各構造を当社の持つ分析手…

【解析内容（抜粋）】 <光学観察> ■分類 ・パネルLCM/Cell ・Cell解体後の光学観察 ■評価項目 ・COG接合/FOG接合 ・SEG-LCD_PIN接合 ・引き出し配線/周辺回路 ・セルシール ・表示部 ・TFT/CF構造 ■分析手法 ・OM観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【不良解析事例】ACアダプターのX線観察

非破壊で行えるX線観察は初期観察に有効！不良解析事例をご紹介します

CアダプターをX線観察装置（YXLON社製Cheetah EVO） により観察したところ、断線部位が発見されました。 透視観察で、内部の部品や実装はんだ部に異常は確認されませんでしたが、 配線の付け根に断線が疑われる個所が確認できました。 非破壊で行えるX線観察は初期観察に有効です。 【不良解析事例】 ■対象：ACアダプター ■使用装置：X線観察装置（YXLON社製Che...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス

【EBSDによる解析例】Chip

Al配線に配向性が見られた、EBSDによる解析例を紹介いたします

Chip表面の配線(Al)について、EBSDによる解析例を紹介いたします。 パッケージ樹脂を薬液/RIEにより開封し、EBSDによるチップ表面の Alパターンの解析を実施。 その結果、Al配線に配向性が...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社アイテス