• 『包装機器逆引きカタログ』<資料進呈> 製品画像

    『包装機器逆引きカタログ』<資料進呈>

    PR冷凍食品、お菓子、きのこ類、金属小物など包装物から適切な包装機器が探せ…

    当社は、包装機の設計・製造・販売で豊富な実績があります。 多数の機器を揃え、包装対象物は麺類や野菜、菓子など食品全般をはじめ、 ねじ、釘、ボルト、ベアリングといった金属部品など多岐にわたります。 ピラミッド型に仕上げるテトラ袋など、対応可能な包装形態も多様です。 本資料『包装機器逆引きカタログ』は、包装物から適切な包装機器が選択可能。 ダウンロードボタンよりすぐにご覧いただけます。 現場に応じた...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社トーヨーパッケン

  • 【テストカット受付中】生産性UPや新用途開発に!切断試験サービス 製品画像

    【テストカット受付中】生産性UPや新用途開発に!切断試験サービス

    PR刃物&機械メーカーだからできる!テストカットで分かる各素材の新たな活か…

    「今の工法では生産速度を上げられない」「生産速度を上げると切れなくなる」など カット工程におけるお困りごとはございませんか? 当社では、そんな生産現場の課題に立ち向かうため、 このたび『テストカットサービス』を始めました。 刃物メーカーでもあり機械メーカーでもある当社の特長を生かし、 刃物と機械のいずれも自社製のテストカット機を新設。 紙やフィルムのほか、金属箔や複合シート...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社三條機械製作所

  • 金属・高分子・プラスチック等の『超微小硬度計による材料評価』 製品画像

    金属・高分子・プラスチック等の『超微小硬度計による材料評価』

    ヤング率・塑性硬さ・塑性変形量・弾性割合・クリープなど多くの物性の解析…

    当社では、金属・高分子・プラスチック・セラミックス等、 様々な材料の超微小硬度測定が行えます。 また硬さを数値化できるため、材料の顔(特性)が見えてきます。 超微小硬度計「Fischer scope H100」...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 顕微ラマンによる金属腐食の分析 製品画像

    顕微ラマンによる金属腐食の分析

    金属酸化物などの無機化合物の分析も可能です!

    鉄の腐食過程は腐食の進み具合により種々の化合物が混在しており、同じ鉄の酸化物、水酸化物でも、価数や結晶構造の差異によってスペクトルが異なります。 ラマン分析により、ミクロンオーダーの微細な範囲での鉄の酸化状態が確認が可能です。 【分析内容】 ■鉄表面に発生した錆の分析 ・FeOOHとFe2O3が入り混じっている ・FeOOH、Fe3O4、Fe2O3が入り混じっている ■鉄錆び成...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 液晶ディスプレイ材料分析 製品画像

    液晶ディスプレイ材料分析

    材料と目的に応じた分析手法をご提案!液晶・封止材など部材毎の化学分析例…

    【その他の化学分析例(一部)】 <液晶> ■GCMS:液晶成分分析 ■ICP-AES:液晶中の金属元素分析 ■結果 ・シアノ基を有する液晶成分が使用されており、また液晶中から金属元素が検出された ・シアノ基の分極は金属と親和し液晶駆動に影響する場合がある <偏光板> ■HS-GCMS︓...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【EDSによる分析事例】Cuパッドの接合界面 製品画像

    【EDSによる分析事例】Cuパッドの接合界面

    各元素の分布を2次元的に見ることが可能!多層状の試料の分析の際にも有効…

    Cuパッドの接合界面におけるEDSによる分析事例をご紹介いたします。 金属間化合物の定性分析(点分析)と半定量分析では、各特性X線の強度 (カウント数)を調べることで含有元素の濃度を算出。金属間化合物等は 算出された濃度比により、形成された化合物を推定することが可能で...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】ICP発光分光分析(ICP-AES) 製品画像

    【資料】ICP発光分光分析(ICP-AES)

    原子が励起状態から基底状態に戻るときに生じる原子発光を検出し分析を行い…

    ICP発光分光分析では、試料中に含まれる金属元素などを複数同時に 検出することが出来ます。 当資料では、液晶中に含まれる微量な金属元素の分析例をご紹介。 ICP-AES分析の原理・概要や測定事例を掲載しています。 サンプルの状...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 微小異物分析のためのサンプリング技術 製品画像

    微小異物分析のためのサンプリング技術

    エレクトロニクス製品の歩留に大きな影響を与える異物について、各種サンプ…

    ■多層膜中異物の特殊サンプリング技術 ・基板上金属膜に埋もれた異物  金属膜エッチング⇒Siウエハに載せ替え⇒FT-IR分析 ・多層薄膜中の異物  表面層の切り取り⇒Siウエハに載せ替え⇒FT-IR分析  ミクロトーム/FIB 薄片化⇒...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 実装部品接合部の解析 製品画像

    実装部品接合部の解析

    機械研磨法に化学エッチング、イオンミリング、FIB加工を施すことにより…

    電子部品の接合部は基板全体の信頼性に大きな影響を及ぼします。 特にはんだ接合部においては、形状のみならず、 金属組織の観察が重要になります。...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • エッチング処理による金属間化合物の観察例 製品画像

    エッチング処理による金属間化合物の観察例

    奥方向と表面から化合物の状態を観察!加⼯、前処理、観察⼿法や組み合わせ…

    観察試料の処理方法により、得られる情報が異なることがあります。 はんだの接合部を断面から2次元で観察することがあるかと思いますが、 3次元的に化合物がどのように成長しているか疑問に思われたことは ありませんか。 当資料では、Cuパッドとはんだの接合部の観察例をご紹介。 「断面観察」と「平面観察」を掲載しております。 【掲載内容】 ■断面観察  ・エッチング処理前  ・...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • エネルギー分散X線分光法(EDS) 製品画像

    エネルギー分散X線分光法(EDS)

    特性X線を検出!微小領域や微小異物等の元素情報を得たいときに有効な分析…

    成。 この数(電流)を測定することで特性X線のエネルギーを知ることができ、 エネルギーは元素により異なるため、物質の元素情報を調べることが可能です。 【EDSによる分析(一部)】 ■金属間化合物の定性分析(点分析)  ・測定されたスペクトルの特性X線がどの元素の特性X線エネルギーに  対応するかを調べることで、元素の種類を調べることができる ■金属間化合物の半定量分析  ・...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ダイナミックSIMS 製品画像

    ダイナミックSIMS

    ガラス、金属、セラミックス、Si、化合物半導体、浅いインプラントなどの…

    できます。 【特長】 ■試料の自動ロード/アンロード、高スループット(24試料/ロード) ■比類のないデプスプロファイリング能力と高いデプス分解能、  広ダイナミックレンジ ■ガラス、金属、セラミックス、Si、化合物半導体、浅いインプラントなどの  分析に最適化 ■最高検出限界:ppmからppb (10^-6〜10^-9) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • 【資料】有機材料、高分子材料の分析評価 製品画像

    【資料】有機材料、高分子材料の分析評価

    金属、無機素材とともに欠かせない材料!有機素材の分析評価サービス事例を…

    溶剤、添加剤、医薬品、プラスチックなどの有機材料は、金属、無機素材 とともに欠かせない材料です。 軽元素の組み合わせで多種多様な種類を有し、またその特異性は構造や 分子間力、電子の挙動から発現しますが、特性の根本的な把握に 化学機器分析および...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • EBSD解析 製品画像

    EBSD解析

    結晶方位や結晶粒径の変化が解析可能!EBSD(電子線後方散乱回折)法を…

    EBSD法とは、試料の持つ結晶構造の情報を基に連続的に取り込んだパターン の結晶方位を算出することにより、結晶粒の分布、集合組織や結晶相分布を 解析する手法です。 金属やセラミック等の結晶質のものは、立方体等の結晶格子が多数集まって 構成されていると考えられおり、当解析法では、それがどのような方向を 向いているのか(結晶方位)を解析。 IQマップ(イメー...

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  • パワーデバイスのHAST試験 製品画像

    パワーデバイスのHAST試験

    パワーデバイスに対して高温・高湿度環境下で最大1000Vの印加が可能!…

    株式会社アイテスでは、『パワーデバイスのHAST試験』を承っております。 【特長】 ■最大1000V印加での不飽和蒸気加圧試験が可能 ■高温高湿下での通電により、金属配線の腐食やマイグレーション等の評価を実施 ■試験中のモニタリングにより、リアルタイムでの試料劣化を把握...

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    メーカー・取り扱い企業: 株式会社アイテス

  • ウィスカ評価 製品画像

    ウィスカ評価

    検査員が逃さず観察!信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能で…

    鉛フリー半田が普及する一方、Snメッキあるいは半田付け部から発生 する金属結晶のウィスカは電子部品の信頼性に大きな影響を与えます。 当社では、信頼性試験から解析まで一貫したウィスカ評価が可能です。 基板中のどの部品、どのピンにウィスカが発生しているか検査員が ...

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  • 銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析 製品画像

    銅端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析

    圧着端子の接合部状態や接合方法、部材の種類を調査!断面観察及びSEM/…

    端子の断面観察とSEM/EDXによる元素分析』についてご紹介いたします。 抵抗測定用銅圧着端子治具の接合部について断面作製を実施し、作製した断面に ケミカルエッチングを施し、エッチング前後で金属組織を観察。 その結果、検出元素が、P(リン), Ag(銀), Cu(銅)であることから、銀入りの りん銅ロウ付け材であると推察します。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽に...

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