• インパルスノイズ試験器 INS-S100 製品画像

    インパルスノイズ試験器 INS-S100

    PR電源ラインからの侵入や通信線などへの誘導ノイズによる電子機器の性能評価…

    インパルスノイズ試験器はスイッチングデバイスの接点間の放電、電子モーターから発生するアーク放電などによる立ち上がりの早い高周波ノイズを模擬的に発生させ、電子機器の耐性を評価する試験器です。 インパルスノイズ試験器INS-S100は、50Vからのパルス出力が可能で、製品開発時の回路基板や弱電部品などのノイズ耐性評価が手軽に行えるほか、市場での不具合発生時の解析などにも活用できます。 ○ ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社ノイズ研究所(NoiseKen)

  • 『瞬時電圧低下補償装置 SB/VBシリーズ』 製品画像

    『瞬時電圧低下補償装置 SB/VBシリーズ』

    PR瞬低・瞬断によるトラブルから機器を守るこの製品を「JECA FAIR …

    『瞬時電圧低下補償装置 SB/VBシリーズ』は、 小型・軽量・省メンテを実現した、瞬低や瞬断の対策に役立つ装置です。 中容量の「VBシリーズ」は、UPSに比べて設置スペース・質量を大幅に低減できるため、 対策コストを大幅に削減できます。 【特長】 ■過電流耐量が大きく、変圧器突入電流・電動機始動電流にも耐える ■無瞬断の切り換えがスムーズ ■並列方式で、電源が瞬断しても対応可能 ■負荷側に回生...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社指月電機製作所

  • 電界イオン顕微鏡装置(FIM) 製品画像

    電界イオン顕微鏡装置(FIM)

    電界イオン顕微鏡装置(FIM)

    容易に観察できる投影型の顕微鏡で1951年にペンシルバニア州立大学のErwin E. Mueller教授により発明されました。本装置は、超高真空の環境の中で、試料としてセットした金属tip(探針)の電圧を除々に大きくしていくことで、スクリ−ンにFIM像を出現させ、針状の試料表面原子の凹凸を100万倍程度に拡大した像を肉眼で観察できるイオン検出形表面分析装置です。 同時にtipに電圧が印加されるこ...

    メーカー・取り扱い企業: 北野精機株式会社

  • 走査プローブ顕微鏡装置(SPM)用 極高真空装置 製品画像

    走査プローブ顕微鏡装置(SPM)用 極高真空装置

    走査プローブ顕微鏡装置(SPM)用 極高真空装置

    ●特徴 本装置はプローブ(探針)を物質表面上で走査させ、実空間で表面の形状を原子レベルで得ることが出来る表面分析顕微鏡装置です。プローブに負電圧を印加し、観察する試料表面に近接させ、プローブと試料表面の間の空間に流れるトンネル電流を測定することにより試料表面の形態を原子レベルで観察することができる走査型トンネル顕微鏡(STM:Scannin...

    メーカー・取り扱い企業: 北野精機株式会社

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