サーモクーラー　極低温SAMOL「VL-2F2/VL-3F3」

PR-50℃の極低温状態を、あなたの机上に実現！高性能の電子冷却システム

日本ブロアーのサーモモジュール電子冷却システムSAMOLファミリーに、極低温環境を机上に実現するVLシリーズが登場しました。 従来品では-10℃が実現最低温度でしたが、高機能のVl-3F3では-50℃(VL-2F2では-30℃)の冷却空間を作り出します。 温度管理は専用コントローラーで±0.1℃単位で設定できます。 コンプレッサーを使用しないため騒音もありません。 理学や薬学関連の...

メーカー・取り扱い企業： 日本ブロアー株式会社

輝烈（KITERETSU）製品紹介

PR輝烈が幅広く採用されている秘密を公開します！

輝烈は、一般看板はもちろん、LEDの不点灯が発生すると 非常に交換が大変な大型看板や、交換がすぐにできない、 高速道路内のトンネル、商業施設の天井や壁など、 「品質要求」の高い場所で多く採用されています。 電子機器製造で培った技術・品質管理基準を集約して、 LEDモジュール180万球の販売で、「不良０（ゼロ）」を継続しています。 ...LEDモジュール輝烈（KITERETSU） 標準...

メーカー・取り扱い企業： ヨーホー電子株式会社

X線検査トータルソリューション

お客様の様々なニーズに合わせて多彩なソリューションをご用意！

当社が提供する、「X線検査トータルソリューション」を ご紹介いたします。 実装BGAの接合部の検査にはボイド解析ソフト「BGA Pro」、 抵抗、コンデンサ等のはんだ付け異常検査には実装部品検査ソフト 「SMT Inspection Pro」など、多彩なラインアップ。 ご用命の際は、当社へお気軽にご相談ください。 【ラインアップ】 ■ボイド解析ソフト「BGA Pro」 ...

メーカー・取り扱い企業： 穂高電子株式会社

走査型電子顕微鏡・エネルギー分散型X線分光器での分析サービス

樹脂包埋、切断、研摩などによる試料調整を行い、断面形状観察および元素分…

株式会社サンコー分析センターでは、走査型電子顕微鏡・エネルギー 分散型X線分光器を用いた分析を行っております。 走査型電子顕微鏡（SEM）では、試料に電子線を走査し、表面から発生 する二次電子や反射電子を像に変換することで試料の形状...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社サンコー分析センター 本社

電子材料中の有害重金属Cd,Pb分析

電子材料中の有害重金属Cd,Pb分析例について紹介します。

2006年7月にEU(欧州連合)で施行されたRoHS指令では電気・電子機器への特定有害6物質（鉛・カドミウム・六価クロム・PBB・PBDE）の使用が制限されました。蛍光X線分析装置「OURSTEX160RoHS」ではこれらの有害物質を簡易・迅速かつ高精度で分析できます...

メーカー・取り扱い企業： アワーズテック株式会社

【資料】高機能・高性能化が進む電子部品等の新たな品質管理のあり方

薄膜・微細領域も高精度かつ短時間で測定する蛍光X線膜厚測定装置をご紹介…

電子機器や自動車などの最終製品の進化によって、そこに搭載される部品の 高機能化・高性能化が求められるようになっています。 部品メーカーにとっては、今後も市場のニーズに対応し続けるため、 その品物の品質管理を考え直す必要があります。 当資料では、蛍光X線膜厚測定装置についてご紹介。 蛍光X線による分析・測定は非破壊で、前処理などの必要もなく、 短時間で結果を得ることが可能です。 ...

メーカー・取り扱い企業： アンリツ株式会社 環境計測カンパニー

ハイエンドな蛍光X線測定器『X-RAY XDV-μ』

新開発のデジタルパルスプロセッサー（DPP+）搭載の新型モデル！薄膜・…

層膜を、非破壊で膜厚測定と 素材分析が可能。さまざまな測定における理想的な励起条件を作り出すために、 電動式で切り替え可能な一次フィルターを採用しています。 半導体やコネクタといった微小な電子デバイスにおける高機能性メッキ表面処理の品質管理に最適なモデルです。 ★新開発のデジタルパルスプロセッサー(DPP＋)を搭載 従来のDPPに比べ最大50％性能向上し、測定時間の短縮に貢献しま...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線式測定装置『X-RAY XDLM 237』

電子部品やさまざまな形状のメッキ加工品などの膜厚測定や素材分析が可能で…

『FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237』は、汎用の高い蛍光X線式測定装置です。 当製品は、品質管理・受入検査・生産管性理における、薄膜コーティングの 膜厚測定や組成分析に好適です。 全ての測定における好適な励起条件のための切り替え可能なコリメーターと 一次フィルターを搭載しています。 FISCHERのFP法により、より簡単に膜厚測定と素材分析ができます。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社フィッシャー・インストルメンツ

蛍光X線分析装置「OURSTEX160RoHS」

WEEE/RoHS指令対応-蛍光X線分析装置OURSTEX160RoH…

2006年7月にEU(欧州連合)で施行されたRoHS指令では電気・電子機器への特定有害6物質(鉛・水銀・カドミウム・六価クロム・PBB・PBDE)の使用が制限されました。 OURSTEX160RoHSではこれらの有害物質を短時間に簡単に測定できます。 また小型・軽...

メーカー・取り扱い企業： アワーズテック株式会社

エネルギー分散型蛍光X線分析装置／卓上型 RoHS

高分解能なシリコンドリフト検出器を備えたRoHSアナライザーです。

特定有害物質使用制限（RoHS）は特定の有害金属の電気・電子機器の使用を制限するための基準です。Xenemetrix社製 RoHSは高分解能なシリコンドリフト検出器、内蔵カメラ、スポットサイズが可変の強力なX線チューブを使用しており、様々なサイズのサンプルに...

メーカー・取り扱い企業： オガワ精機株式会社

携帯型蛍光X線分析装置『EXPLORER 5000 XRF』

RoHS規制対象有害6物質（As・Br・Cd・Cr・Hg・Pb）の分析…

当社では、光電子、ミクロ電子工学、半導体、コンピュータ技術を適用して 開発され、小型・軽量かつ据置型と同等の検出下限値機能を有する 携帯型蛍光X線分析装置『EXPLORER 5000 XRF』を取り扱っています...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社T&S

据置型蛍光X線分析装置『EDX2800B』

自動コリメータおよびフィルタースイッチを搭載した据置型蛍光X線分析装置

エネルギー分散型蛍光X線分析法 ■測定可能元素：S-U（元素番号16～92） ■分析濃度レンジ：ppm～99.99％ ■エネルギー分解能：160±5eV ■検出下限値：1ppm ■検出器：電子冷却型Si-PIN検出器 ■動作環境：温度 15℃～30℃ ■重量：45kg ■寸法：550mm×410mm×320mm ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社T&S

蛍光X線分析器「X-RAY XAN250/XAN252」

薄膜や微量元素の分析に最適！貴金属組成分析やメッキ厚さ測定が非破壊で可…

は測定ステージとハウジング・サイズが違います。 「XAN250」は固定ステージタイプ、「XAN252」は手動XYステージタイプ・大型安全フード付きです。 主な測定対象としては、数nmの薄膜測定（電子機器、半導体関連）、規制物質の分析（おもちゃの中のPbなど）、高精度を要求する分析（ジュエリー、時計、貴金属）、大学や研究機関などです。 【特長】 ○測定仕様ごとに最適な照射エリアとフィルタ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東栄産業