UWBレーダー方式センサー

PRミリ単位以下の微小な変化を検知！医療機器・電子機器への干渉、影響はあり…

株式会社日本ジー･アイ･ティーは、UWBをはじめとする先端技術の 開発・設計・製造・販売を専門とする企業です。 当社が取り扱う『UWBレーダー方式センサー』は、1mm以下の微小な 変化を検知します。 医療機器・電子機器への干渉、影響がなく、プライバシー保護にも寄与。 バイタルセンサーや、工程内異物検知などにも応用が可能です。 【特長】 ■1mm以下の微小な変化を検知 ■...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社日本ジー・アイ・ティー

湘南エンジニアリング株式会社　総合案内プレゼント

PR総合案内プレゼント！多用途接触端子など多数掲載！

【湘南エンジニアリング株式会社　総合案内】はプリント基板関連検査機機「SE-108A(操作パネル付)」をはじめ、 電子部品関連検査装置「レーザダイオード特性検査装置」や、通信機器関連検査装置「携帯電話開閉耐久試験機」など、 用途にあわせた幅広いラインナップを掲載しております。 ＊総合案内プレゼント中です！＊ 【掲載内容】 ○主要設備機械　○会社概要 ○組織図　○沿革　○売上高推移グラフ 【掲...

メーカー・取り扱い企業： 湘南エンジニアリング株式会社

［SEM］走査電子顕微鏡法

高倍率観察(30万倍程度まで)が可能

SEMは、電子線を試料に当てた際に試料から出てくる電子の情報を基に、試料の凹凸や組成の違いによるコントラストを得ることができる手法です。 ・簡単な操作で高倍率観察(50万倍程度まで)が可能 ・二次電子（S...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［(S)TEM］（走査）透過電子顕微鏡法

ナノオーダーでの元素分析・状態評価・粒径解析・三次元立体構築像の取得

TEMは、薄片化した試料に電子線を照射し、試料を透過した電子や散乱した電子を結像し、高倍率で観察する手法です。 ■長所 ・サブナノレベルの空間分解能で拡大像が得られ、試料の微細構造・格子欠陥等を観察・解析可能 ・試料の...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［TEM-EELS］電子エネルギー損失分光法

電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定…

EELS分析とは、電子が薄片試料を透過する際に原子との相互作用により失うエネルギーを測定する手法です。物質の構成元素や電子構造を分析することができます。 TEMに付属している元素分析装置（EDX)と比較して、下記の特徴...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［EBIC］電子線誘起電流

試料内部の電界構造（半導体の接合構造）に関する情報を得ることができる手…

SEM装置内で電子線を照射することで、試料内で正孔電子対が発生します。 通常は再結合して消滅しますが、空乏層など内部電界を有する領域で正孔電子対が生じた場合はキャリアが内部電界でドリフトされることで起電流として外部...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

TDS装置 受託測定

電子科学製のTDSを使用した受託測定！

TDS装置の製造・販売だけではなく、受託測定も承っております。 長年TDS専業メーカーとして培ってきたノウハウを活かし、常時良好な状態に維持された装置と、熟練した専任オペレーターによってお客様の材料トラブルの解決に努めます。 【保有装置】 ・赤外線加熱型 昇温脱離分析装置：2台 ・高周波加熱型 昇温脱離分析装置：1台...測定モード 　Bar (定性・定量測定) 　SIM (m/z...

メーカー・取り扱い企業： 電子科学株式会社

EBSD分析（電子後方散乱回折法）

容易に広い領域の結晶情報を得ることが可能

EBSDを利用して結晶性試料の方位解析ができる手法です。 電子回折法より容易にかつ広い領域の結晶情報を得ることができます。 EBSP：Electron Backscatter Pattern、SEM-OIM、OIMとも呼ばれます。 ・単一結晶粒の面方位...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

X線光電子分光分析によるステンレス鋼の不動態皮膜分析

不動態皮膜の厚さや濃度を調べることが可能！当社のX線光電子分光分析をご…

ステンレス鋼は耐食性に優れることが知られています。耐食性の優劣には、 不動態皮膜の厚さや濃度が深く関わっており、それらをX線光電子分光分析 （XPS）で調べることができます。 SUS430 製部品を機械研磨して使用し、短期間で錆が発生した例では、 錆発生品と正常品について深さ方向の元素分析を実施。結果、不動態⽪膜に ...

メーカー・取り扱い企業： 川重テクノロジー株式会社

電子顕微鏡解析受託サービス※解析事例紹介！

ワンストップサービスできめ細かく対応！

【技術力】日本顕微鏡学会認定、電子顕微鏡技師が実施します。 【対応力】ワンストップサービスできめ細かく対応します。 【スピーディー】高度な解析もスピーディーに対応します。 【コストダウン】弊社に委託頂くことで、お客様の経費削減...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社花市電子顕微鏡技術研究所

［AES］オージェ電子分光法

試料表面（数nm程度の深さ）の元素の種類・存在量の評価

AESは、電子線照射により放出されるオージェ電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面（数nm程度の深さ）に存在する元素の種類・存在量に関する知見を得る手法です。 ・固体材料の表面（深さ数nm）の定性・定量...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［ED］電子回折法

EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を…

EDは、電子線を試料に照射することで得られた回折パターンから結晶構造を調べる手法です。 ・物質の結晶学的情報が得られます。 透過電子顕微鏡の場合、単結晶では規則正しく並んだ回折斑点(スポット)、多結晶で...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

［UPS］紫外光電子分光法

試料表面の組成の定性・定量や仕事関数評価に

UPSは、紫外光照射により放出される電子の運動エネルギー分布を測定し、試料極表面（数nm程度以下）の価電子状態に関する知見を得る手法です。その一方で、高いエネルギー分解能を利用して各種金属材料の仕事関数評価にも用いられています。 X...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

【事例】ノーマリーオフ型GaN HEMT 二次元電子ガス層評価

製品調査の複合解析をワンストップでご提案可能です

GaN系高電子移動度トランジスタ「GaN HEMT（High Electron Mobility Transistor）」は、AlGaN/GaNヘテロ構造によって二次元電子ガス層（2DEG）が得られ、電子移動度が...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

電子プローブマイクロアナライザ分析

電子プローブマイクロアナライザ分析

金属材料、鉱物および各種材料の表面観察、成分分析および 元素分布を測定するのに有効な電子プローブマイクロアナライザ分析 【特徴】 ○分析対象：金属、鉱物、汎用電子部品、ガラス等 ○試料大きさ：実質 60×60×厚さ15(mm) まで。分析試料調整も適宜実施 ○分析種類：組成...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社ＩＨＩ検査計測

破面分析に　走査型電子線マイクロアナライザ

分析試料の表面状態をリアルタイムに映像化する走査型の電子顕微鏡

【走査型電子線マイクロアナライザ　主な特長】 ●細く絞った電子線を分析試料に照射し、その部分から発生する「特性X線」を収集します。特性X線は元素によって波長が異なることを利用し、X線検出器で波長分析を行うこと...

メーカー・取り扱い企業： 日本カタン株式会社

ドイツ diondo工業CT測定サービス-電子部品

低価格・高精度・正確な非破壊検査 5万円～/1 検体

5万円(税別）～/ 1 検体 ※検体輸送費(基本的に検体運搬費用はお客さま) 【測定内容】 欠陥分析-気孔分析 寸法測定 ※他測定内容はお問合せください。 【納品データ】 測定レポート + オリジナルレポート画像 + 欠陥統計表 【CTスキャナ仕様】 機種名：汎用マイクロ・ナノCTシステム diondo d2 反射ターゲットX線管： 190-300kV 送信タ...

メーカー・取り扱い企業： ND GROUP 日本支社

[TEM ED-Map]TEM電子回折マッピング法

TEMの電子回折を利用して、結晶性試料の方位分布解析を行う手法です。

電子線プローブを走査しながら各点の電子回折パターンを測定することで、高空間分解能な結晶情報を取得できます。この手法では、SEMのEBSD法よりも小さい結晶粒の情報を得ることが可能です。ACOM（Automated Crystal Orientation Mapping）-TEM法とも呼ばれます。 結晶粒径解析が可能 測定領域の配向測定が可能 双晶粒界（対応粒界）の観察が可能 特定結晶方位の抽...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

製品測定の受託サービス

精密製品を対象とした寸法測定に対応します。

CNC画像測定システム等の測定機器を使用して 寸法測定を実施いたします。 ※お気軽にお問い合わせ下さい。...【保有設備】 ■CNC画像測定システム ■画像測定機 ■測定顕微鏡 ■各種測長器 ※お気軽にお問い合わせ下さい。...

メーカー・取り扱い企業： 東部電子工業株式会社

電子顕微鏡での受託観察

走査型電子顕微鏡（ＦＥ-ＳＥＭ）による表面観察を受託いたします：分解能…

【主要設備】 ・設備（機械名）：走査型電子顕微鏡（FE-SEM）　S-4000（日立） ・主な仕様 　倍率：　×100～300,000倍　（～100,000までは保証範囲） 　試料台サイズ：　15mm（径） 　加速電圧：　0.5～3...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社魁半導体

［XPS］X線光電子分光法

試料表面（数nm程度の深さ）の元素の種類、存在量、化学結合状態評価に有…

XPSは、Ｘ線照射により放出される光電子の運動エネルギー分布を測定し、試料表面（数nm程度の深さ）に存在する元素の種類・存在量・化学結合状態に関する知見を得る手法です。化学結合状態に関する知見が得られるため、別名ESCA : Electr...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

非破壊分析サービス　2018年4月より開始のお知らせ

樹脂やカーボン素材等、有機系の分析に強い装置を揃えました。

2018年4月2日、MSTは最新型の加工・分析装置を導入し非破壊分析サービスを開始します。電子デバイス・医薬品・食品の製品開発・品質管理など幅広い分野を対象に分析サービスを提供します。 非破壊分析は、製品を破壊することなく内部の状態を可視化する技術です。 MSTはこれまで電子顕微鏡観...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

パワーサイクル試験受託サービス

パワーデバイスの熱疲労を評価するパワーサイクル試験を承ります

当社では、チップの温度を上下させた際の自己発熱に対する 熱疲労の寿命を推測するパワーサイクル試験を承ります。 水冷式コールドプレートを採用しており、安定した放熱特性のもと試験実施が可能。 お客様ご指定のコールドプレート手配、持ち込み品の設置など、 仕様により柔軟に対応させて頂きます。 【特長】 ■当社オリジナルTEGチップを使用した周辺材料評価も可能 ■ご来社頂き、サンプルの...

メーカー・取り扱い企業： シーマ電子株式会社

［FIB］集束イオンビーム加工

FIBは、数nm～数百nm径に集束したイオンビームのことで試料表面を走…

、試料表面を走査させることにより、特定領域を削ったり（スパッタ）、特定領域に炭素（C）・タングステン（W）・プラチナ（Pt）等を成膜することが可能です。また、イオンビームを試料に照射して発生した二次電子を検出するSIM像により、試料の加工形状を認識できます。 ・微小領域（数nm～数十μm）のエッチングによる任意形状加工が可能 （通常加工サイズ：～20μm程度） ・SEM・SEM-STEM...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

透過型電子顕微鏡法によるアスベスト分析

透過型電子顕微鏡法によるアスベスト分析が可能です。

環境省アスベストモニタリングマニュアル（第4.0版）に対応した測定が可能です。 ...■アスベストの同定が可能です。 ■分散染色法やX線回折法では分析が難しいトレモライト等のアスベストを分析します。...

メーカー・取り扱い企業： 環境リサーチ株式会社

プラスチック、ゴム／柔らかい製品の測定はお任せください！

最短半日見積り／プラスチック、ゴムなどの柔らかい製品測定には非接触型測…

測定を得意としており、 デジタル機器を使用した、幾何公差の測定・評価だけに 留まらず曲面、表面粗さ、真円度もお受けしております。 アルミ・ステンレス部品を単品加工で対応します。 半導体、自動車、電子機器、医療、食品など 幅広い業界との実績がございます。 詳しくはお問い合わせ、またはホームページをご覧ください。 ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社 エージェンシーアシスト 京都本社　営業所(仙台・東京・埼玉・神奈川・浜松・愛知・岐阜・新潟・福井・奈良・兵庫・岡山・福岡)

蛍光寿命測定

Fluorescence lifetime measurement

物質に光を照射し、励起された電子が基底状態に戻る際の過程の一つに発光（フォトルミネッセンス）があります。そのうち、パルスレーザーにより物質を瞬間的に励起し、発光の減衰時間を測定する手法が時間分解フォトルミネッセンスと呼ばれるもので...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

絶対PL量子収率測定

絶対PL量子収率測定は、材料の発光効率を求める手法です。

物質に光（紫外・可視光）を照射すると、物質はそのエネルギーを吸収し発光することがあります（フォトルミネッセンス（PL)）。 光の吸収により、安定なエネルギー状態（基底状態）にあった分子内の電子は、一時的に高いエネルギー状態へと励起されます。様々な過程を経て一重項励起状態に存在する電子が安定な基底状態に戻るとき、差分のエネルギーを光として放出し、これを蛍光と呼びます。さらに三重項励起状態に...

メーカー・取り扱い企業： 一般財団法人材料科学技術振興財団　MST

技術情報誌 201904-02 セルロースナノファイバー構造解析

技術情報誌The TRC Newsは、研究開発、生産トラブルの解決、品…

【要旨】 CNFを扱う研究開発のうち、ほぼすべての材料分野、研究フェーズで電子顕微鏡を用いた観察は必要な評価となっている。特にポリマー中に分散するCNFをTEM観察するためには、これまで高分子材料のTEM試料作製を実施する上で不可欠であった「電子染色」の技法を駆使する必要があ...

メーカー・取り扱い企業： 株式会社東レリサーチセンター

台形波衝撃試験

製品の衝撃試験はJBLへお任せください。　大型試験台＋台形波＋SRS解…

JIS C 60068-2-27 ：　環境試験方法－電気・電子－衝撃試験方法 JISのような公的な試験規格で定められたものだけではなく、個別の完成品メーカーが調達先の部品ベンダーに対して要求する独自の試験条件にも対応いたします。　JBLでは、台形波とSR...

メーカー・取り扱い企業： 日本ビジネスロジスティクス（JBL）株式会社 藤沢北事業所

FE-EPMAによる受託サービス｜JTL

電界放出型電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA）による微少領…

FE-EPMA（電界放出型電子プローブマイクロアナライザ）を使用して、SEM像の撮影及びWDX（波長分散型X線分析装置）による元素分析を行います。 EDXによる元素分析よりも定量精度が良く（±数100ppm～数1,000ppm...

メーカー・取り扱い企業： JAPAN TESTING LABORATORIES株式会社 本社

【設備紹介】物理・化学分析

ICP発光分光分析やガスクロマトグラフィー装置など！さまざまな金属とオ…

当社で保有している「物理・化学分析」についてご紹介いたします。 電子プローブマイクロアナライザー(EPMA)のほか、 走査型電子顕微鏡(SEM)や微小部X線応力測定装置(PSPC)を保有。 さまざまな金属とオイルの分析評価が可能です。 詳細については、お気...

メーカー・取り扱い企業： ジヤトコエンジニアリング株式会社 本社