ハイパースペクトルカメラ　SPECIM FXシリーズ

PR可視域～中赤外域まで高速測定！

非接触・非破壊で可視領域及び目では見えない 近/中赤外領域の２次元スペクトルデータを取得可能！...産業用および実験室用に設計されています。ラインスキャンモードで動作します。 ...

メーカー・取り扱い企業： コニカミノルタジャパン株式会社 センシング事業部

多機能型・高感度！非破壊検査装置『鉄片検出器』※デモ機無償貸出可

PR標準品より150％感度UP！運用履歴は最大10万件をメモリーし検索機能…

IPDシステム(Iron Piece Detect)とは、鉄片に特化した検出器です。 多機能型高感度アンプ内蔵コントローラ「ATTER-IS600シリーズ」は、 既設のLANを利用しIPDシステムの管理・操作ができる据付型鉄片検出器です。 コントローラの運用履歴は最大100,000件をメモリーし、検索機能も搭載。 新開発のLOGアンプは微弱信号から強信号まで合理的に増幅します。 断線検知機能によ...

メーカー・取り扱い企業： 日本金属探知機製造株式会社 本社

結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

結晶欠陥分析装置(非接触、非破壊式)

結晶欠陥分析装置 SIRM-300は、非接触、非破壊にて結晶欠陥測定が可能な光学測定器です。 様々なバルク特性解析(バルク/半導体ウェハーの表面付近の酸素、金属　堆積物、空乏層、積層欠陥、スリップライン、転位)が可能です。 ...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

結晶欠陥検査装置『EnVision』

非破壊/非接触！nmスケールのウェハー内部の拡張欠陥の検出とモニタリン…

『En-Vison』は、転位欠陥、酸素析出物、積層欠陥などのウェハー内部の 結晶欠陥を非接触・非破壊で測定・評価ができる結晶欠陥検査装置です。 欠陥サイズ（15nm～サブミクロン）と密度（E6～E10/cm3）の両方で ハイダイナミックレンジを提供。 ウェハー深さ方向の検出感度を大...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

比抵抗測定器

渦電流技術を用いて、非接触/非破壊にてシリコンインゴット/ブロックの抵…

比抵抗測定器 RT-1000は、ベストセラー機 RT-1000の後継機種となり、渦電流技術を用いて、非接触/非破壊にてシリコンインゴット/ブロックの抵抗を瞬時に測定いたします。(測定範囲: 0.001〜100 Ωcm)...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

PN判定器

シリコンウェハー/ブロックのPN判定が瞬時に行えます

シリコンウェハー/ブロックのPN判定が瞬時に行えます。 非接触／非破壊にてＰ／Ｎ判定ができる持ち運びにも便利なペンタイプの判定器です。...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社

Junction Photo Voltage(JPV)

JPV法により、非接触で、PNジャンクションのジャンクション・リーク、…

JPV法（ジャンクション・フォト・ボルテッジ法）を用いているため、高速で再現性の良いマッピング測定が可能です。 【特徴】 - 非接触、非破壊測定 - プローブの調整は不要 - 測定のための特別な試料準備は不必要 - 表面に酸化膜やコーティングが存在しても測定可能 - 空間分解能の高い分布測定（マッピング）が高速で可能 - 再...

メーカー・取り扱い企業： 日本セミラボ株式会社 新横浜本社