• 【検査・研究・産業用】X線遮蔽防護BOX※組立式も可 製品画像

    【検査・研究・産業用】X線遮蔽防護BOX※組立式も可

    PR非破壊検査・X線検査等の装置製造・利用・研究ごとの目的に合わせた遮蔽ボ…

    当社では、病院・企業様向けのエックス線防護BOX(X線防護BOX)や X線装置を操作する作業従事者の安全を守る工業用防護衝立の 製作から設置までを自社で一貫生産、一貫管理で行っています。 基本的には装置とセットになっているX線遮蔽・防護箱ですが、 用途によっては既設の遮蔽ボックスでは対応ができず、困られたことはあるかと思います。 当社では、非破壊検査・X線検査等の装置の研究・製造場面や装置を利...

    メーカー・取り扱い企業: 有限会社高橋興業

  • 品質管理・保守向け。1から学ぶ計測器・測定器の『校正 基礎知識』 製品画像

    品質管理・保守向け。1から学ぶ計測器・測定器の『校正 基礎知識』

    PR今更聞けない「校正の基礎」を解説。校正とは?成立条件?なぜ必要?トレー…

    「ものづくり」の品質管理には、それに関わる機器の”校正”が必須です。 では、そもそも校正とは何?成立条件は?資格や校正周期は?トレーサビリティって何?など、 意味やルールを正しく理解していないと、正しい「校正」はできません。 ここでは「ものづくり」で避けて通れない「校正」についてまとめた資料を進呈中です。 後半では温湿度計・板厚計の校正事例や、校正や計測・測定関連の基礎用語も掲載しています。 ...

    メーカー・取り扱い企業: 株式会社レックス

  • 非破壊検査関連機器 「SX-1」「SX-100」「SX-200」 製品画像

    非破壊検査関連機器 「SX-1」「SX-100」「SX-200」

    超耐熱性:SX-200は400℃連続使用可能! 耐放射線性:109RA…

    超耐熱性 SX-200は400℃連続使用可能です。 耐放射線性は109RAD以上です。 機械加工性SX-1、SX-200は良好です。 【特徴】 ○吸水率SX-200は(23℃×24h)0.03% ○高周波特性・・・ 集束用レンズ、遅延材などに特に優れる ○耐摩耗特性・・・ 自己潤滑性をもち耐久性に優れる ●その他機能や詳細についてはお問い合わせください。...●その他機能や詳細については...

    メーカー・取り扱い企業: 鈴幸商事株式会社

  • SiC Trench MOSFET ディスクリートパッケージ評価 製品画像

    SiC Trench MOSFET ディスクリートパッケージ評価

    ディスクリートパッケージ内部の構造を非破壊で立体的に観察

    他社品調査や異常品検査では、まず内部構造の調査が必要です。X線CTでは、非破壊で試料内部の透過像を取得し、三次元構築することが可能です。本資料では、製品調査の一環としてSiCチップが搭載されたディスクリートパッケージをX線CTで観察した事例をご紹介します。 X線CTによる構造確認後、MSTで実施している物理分析(破壊分析)をご提案します。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    • サンプル内部構造.png
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    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

  • レモケーブル【大学・研究機関採用】 製品画像

    レモケーブル【大学・研究機関採用】

    「LEMO00250」小型同軸コネクタ、およびケーブルを取り付けた施行…

    色々な種類の非破壊検査・超音波探傷器などに多く採用されています。特に日本全国の物理関係の大学、研究機関、企業へ幅広く販売実績がございます。 通称 レモ大【1S.275】 レモ小【00.250】と呼ばれるコネクタを...

    メーカー・取り扱い企業: レモジャパン株式会社

  • 世界のX線CMOSカメラ市場調査レポート 製品画像

    世界のX線CMOSカメラ市場調査レポート

    X線CMOSカメラ市場は、2023-2035年の予測期間中に11%のC…

    ッパ地域中にX線CMOSカメラの需要の増加などのいくつかの要因により、この地域の産業用途X線CMOSカメラ市場は、予測期間中に大幅に成長すると予想されています。ヨーロッパ地域は、品質管理、検査、非破壊検査用途に X 線 CMOS カメラを使用する自動車、航空宇宙、エレクトロニクス、医療、製造業などの分野で構成される産業環境で強い存在感を示している地域です。X 線 CMOS カメラは、主にこの地域...

    メーカー・取り扱い企業: SDKI Inc.

  • 【分析事例】トランジスタ内部の状態評価 製品画像

    【分析事例】トランジスタ内部の状態評価

    デバイス内部の異常を非破壊で評価します

    外観検査では分からないデバイス等の故障原因を調査するために、X線CTをはじめとする非破壊による評価が必要となる場合があります。 X線CTを用いて不具合のあったトランジスタを測定し、内部の状態を確認しました。 その結果、ワイヤーの断線が確認された他、断線時の熱などの影響で断線したワイヤーの周囲のモールド樹脂が変性していることも分かりました。...詳しいデータはカタログをご覧ください...

    メーカー・取り扱い企業: 一般財団法人材料科学技術振興財団 MST

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