非破壊検査装置　磁粉探傷装置

キズ部分から発生する「漏洩磁束」現象を利用しています。

磁粉探傷検査は、キズ部分から発生する「漏洩磁束」現象を利用しています。試験体を磁化させることで、表面に散布した強磁性体の磁粉（または蛍光磁粉）がキズ部分に吸着、これを観察することでキズの検出が可能になります。日本電磁測器株式会社（NDK）では、「簡単」「確実」「安価」という３つのメリットを持つ磁粉探傷関連製品ラインナップをご用意して「安全と、品質管理における安心」をご提供いたします。 詳しくはお...

メーカー・取り扱い企業： 日本電磁測器株式会社